QSD123 - Fairchild

Изображения приведены только для примера, точные характеристики можно узнать из паспорта изделия.

Часть №

QSD123
Производитель

Fairchild
Чип воркер Часть №

CW43072361
Категория

Фототранзистор
Упаковка

T-1
Описание

FAIRCHILD SEMICONDUCTOR QSD123 Phototransistor, 880nm, 24°, 0.1W(1/10W), 2Pins, T-1 3/4 (5mm)
даташит

Datasheet

Способ оплаты и доставка

QSD123 Глобальный поставщик

{{ supplierTable.supplier }}	{{ supplierTable.part }}	{{ supplierTable.availability }}	MOQ	{{ supplierTable.delivery_date }}

{{viewMore}}
{{viewMore}}
DigiKey	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
Arrow	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
Mouser	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
					{{submitRFQ}}

QSD123 Фототранзистор характеристики

Атрибут	Значение атрибута

Часть №	QSD123
Производитель	Fairchild
Чип воркер Часть №	CW43072361
Категория	Фототранзистор
даташит	Datasheet
Стиль Монтажа	Through Hole
Количество Выводов	2 Pin
Корпус/Пакет	T-1
Напряжение Питания (DC)	5.00 V
Номинальное Напряжение (DC)	30.0 V
Рабочее Напряжение	5.00 V
Пробивное Напряжение	30.0 V
Количество Стежков	2 Position
Длина Волны	880 nm
Угол Обзора	24°
Пиковая Длина Волны	880 nm
Полярность	NPN
Рассеяние Мощности	100 mW
Потребляемая Мощность	100 mW
Время Нарастания	7000 ns
Пробивное Напряжение (Коллектор-Эмиттер)	30 V
Максимальная входная мощность	100 mW
Время падения	7 µs
Рабочая температура (Макс)	100 ℃
Рабочая температура (мин)	-40 ℃
Рассеиваемая Мощность (Макс)	100 mW
	Развернуть все
Длина	6.1 mm
Ширина	6.1 mm
Высота	8.77 mm
Материал	Silicon
Рабочая Температура	-40℃ ~ 100℃
Жизненный Цикл Продукта	Active
Упаковка	Bulk
RoHS Комплаенс	RoHS Compliant
Бессвинцовая Статус	Lead Free
REACH SVHC Комплаенс	No SVHC
REACH SVHC Compliance Edition	2015/06/15
ECCN кодекс	EAR99

QSD123 Описание продукта

The QSD123 is a NPN Silicon Infrared Phototransistor is suitable for QED12X/QED22X/QED23X notched emitter. It has 24° narrow reception angle and a daylight filter. Stresses exceeding the absolute maximum ratings may damage the device. The device may not function or be operable above the recommended operating conditions and stressing the parts to these levels is not recommended. In addition, extended exposure to stresses above the recommended operating conditions may affect device reliability.
High sensitivity

Развернуть все

Доставка

CDEK

Itella

SHIPTOR

SPSR-EXPRESS

Чип воркер Квалификация

Информация для заказа

Заказ Оплата Доставка Пакет Обеспечение качества

Данные условия носят справочный характер, фактические условия зависят от предложения продавца.
- Пожалуйста, уточняйте технические характеристики продукции при заказе.
- MOQ - минимальное количество заказа, необходимое для приобретения каждой детали.
- Если у вас есть особые инструкции по заказу, пожалуйста, укажите их на странице заказа.
- При заказе будет использоваться предотгрузочная инспекция.
- Вы можете проверить статус заказа в разделе «Мои заказы» вашего личного кабинета.
- Заказы не могут быть отменены после того, как посылка была отправлена. Узнать больше >
- работает как с физическими так и с юридическими лицами. Узнать больше >
- Все цены на сайте указаны с НДС 20%.
- Счета выставляются в валюте, оплата производится в рублях по курсу на день оплаты.
- Если вам нужен подробный счет-фактура или налоговый идентификатор, пожалуйста, напишите нам.
- После отправки товара в Россию доставка займет от 1 до 2 недель.
- Обработка Вашего заказа осуществляется только после оплаты счета.
- Номер для отслеживания будет выслан после отправки заказа. (Для отображения информации перевозчиком может потребоваться до 24 часов). Узнать больше >
- Тщательно проверено и упаковано компанией Чип воркер
- Вакуумная упаковка
- Антистатическая упаковка
- Антивибрационный пенопласт
- Контроль качества доходов, 800+ квалифицированных дистибьюторов.
- Авторитеты проверяют микросхему, чтобы гарантировать качество, подлинность и безопасность вашего устройства.
- Контроль декапсуляции
- Рентгеновский контроль
- XRF-инспекция
- Электрические испытания
- Тестирование поверхности