PCA8575D - NXP

Изображения приведены только для примера, точные характеристики можно узнать из паспорта изделия.

Часть №

PCA8575D
Производитель

NXP
Чип воркер Часть №

CW432321067
Категория

Чип интерфейса
RoHS

Lead free / RoHS Compliant
Описание

Remote 16Bit I/O expander for I2C-bus with interrupt

Способ оплаты и доставка

PCA8575D Глобальный поставщик

{{ supplierTable.supplier }}	{{ supplierTable.part }}	{{ supplierTable.availability }}	MOQ	{{ supplierTable.delivery_date }}

{{viewMore}}
{{viewMore}}
DigiKey	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
Arrow	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
Mouser	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
					{{submitRFQ}}

PCA8575D Чип интерфейса характеристики

Атрибут	Значение атрибута

Часть №	PCA8575D
Производитель	NXP
Чип воркер Часть №	CW432321067
Категория	Чип интерфейса
Стиль Монтажа	Surface Mount
Корпус/Пакет	SOP
	Развернуть все
Жизненный Цикл Продукта	Unknown
Упаковка	Tube
RoHS Комплаенс	RoHS Compliant
Бессвинцовая Статус	Lead Free

PCA8575D Описание продукта

General description
The PCA8575 provides general purpose remote I/O expansion for most microcontroller families via the two-line bidirectional I2C-bus (serial clock (SCL), serial data (SDA)).
The device consists of a 16-bit quasi-bidirectional port and an I2C-bus interface. The PCA8575 has a low current consumption and includes latched outputs with high current drive capability for directly driving LEDs.
Features
400 kHz I2C-bus interface
2.3 V to 5.5 V operation with 5.5 V tolerant I/Os
16-bit remote I/O pins that default to inputs at power-up
Latched outputs with 25 mA sink capability for directly driving LEDs
Total package sink capability of 400 mA
Active LOW open-drain interrupt output
8 programmable slave addresses using 3 address pins
Readable device ID (manufacturer, device type, and revision)
Low standby current (10µA max.)
−40°C to +85°C operation
ESD protection exceeds 2000 V HBM per JESD22-A114, 200 V MM per JESD22-A115, and 1000 V CDM per JESD22-C101
Latch-up testing is done to JEDEC standard JESD78 which exceeds 100 mA
Packages offered: SO24, SSOP24 (QSOP24), TSSOP24, HVQFN24, DHVQFN24
Applications
LED signs and displays
Servers
Industrial control
Medical equipment
PLCs
Cellular telephones
Gaming machines
Instrumentation and test measurement

Развернуть все

Доставка

CDEK

Itella

SHIPTOR

SPSR-EXPRESS

Чип воркер Квалификация

Информация для заказа

Заказ Оплата Доставка Пакет Обеспечение качества

Данные условия носят справочный характер, фактические условия зависят от предложения продавца.
- Пожалуйста, уточняйте технические характеристики продукции при заказе.
- MOQ - минимальное количество заказа, необходимое для приобретения каждой детали.
- Если у вас есть особые инструкции по заказу, пожалуйста, укажите их на странице заказа.
- При заказе будет использоваться предотгрузочная инспекция.
- Вы можете проверить статус заказа в разделе «Мои заказы» вашего личного кабинета.
- Заказы не могут быть отменены после того, как посылка была отправлена. Узнать больше >
- работает как с физическими так и с юридическими лицами. Узнать больше >
- Все цены на сайте указаны с НДС 20%.
- Счета выставляются в валюте, оплата производится в рублях по курсу на день оплаты.
- Если вам нужен подробный счет-фактура или налоговый идентификатор, пожалуйста, напишите нам.
- После отправки товара в Россию доставка займет от 1 до 2 недель.
- Обработка Вашего заказа осуществляется только после оплаты счета.
- Номер для отслеживания будет выслан после отправки заказа. (Для отображения информации перевозчиком может потребоваться до 24 часов). Узнать больше >
- Тщательно проверено и упаковано компанией Чип воркер
- Вакуумная упаковка
- Антистатическая упаковка
- Антивибрационный пенопласт
- Контроль качества доходов, 800+ квалифицированных дистибьюторов.
- Авторитеты проверяют микросхему, чтобы гарантировать качество, подлинность и безопасность вашего устройства.
- Контроль декапсуляции
- Рентгеновский контроль
- XRF-инспекция
- Электрические испытания
- Тестирование поверхности