OPA602AU - TI

Изображения приведены только для примера, точные характеристики можно узнать из паспорта изделия.

Часть №

OPA602AU
Производитель

TI
Чип воркер Часть №

CW7673600
Категория

Операционный усилитель
Упаковка

SOIC-8
Описание

TEXAS INSTRUMENTS OPA602AU Operational Amplifier, Single, 1 Amplifier, 6.5MHz, 35V/µs, ± 5V to ± 18V, SOIC, 8Pins
даташит

Datasheet

Способ оплаты и доставка

OPA602AU Глобальный поставщик

{{ supplierTable.supplier }}	{{ supplierTable.part }}	{{ supplierTable.availability }}	MOQ	{{ supplierTable.delivery_date }}

{{viewMore}}
{{viewMore}}
DigiKey	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
Arrow	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
Mouser	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
					{{submitRFQ}}

OPA602AU Операционный усилитель характеристики

Атрибут	Значение атрибута

Часть №	OPA602AU
Производитель	TI
Чип воркер Часть №	CW7673600
Категория	Операционный усилитель
даташит	Datasheet
Стиль Монтажа	Surface Mount
Количество Выводов	8 Pin
Корпус/Пакет	SOIC-8
Ток Питания	3 mA
Количество Цепей	1 Circuit
Количество Каналов	1 Channel
Рассеяние Мощности	1 W
Коэффициент Ослабления Синфазного Сигнала	75 dB
Входной Дрейф Смещения	3.00 µV/K
Ширина Ленты	6.5 MHz
Скорость Нарастания	35.0 V/μs
Произведение Коэффициента Усиления на Ширину Полосы Пропускания	6.5 MHz
Входное Напряжение Смещения	1 mV
Входной Ток Смещения	2 pA
Рабочая температура (Макс)	85 ℃
Рабочая температура (мин)	-25 ℃
Gain Bandwidth	6.5 MHz
Рассеиваемая Мощность (Макс)	1000 mW
Минимальный диапазон CMRR	75 dB
	Развернуть все
Длина	4.9 mm
Ширина	3.91 mm
Высота	1.58 mm
Рабочая Температура	-25℃ ~ 85℃
Жизненный Цикл Продукта	Active
Упаковка	Tube
RoHS Комплаенс	RoHS Compliant
Бессвинцовая Статус	Lead Free
REACH SVHC Compliance Edition	2015/06/15

OPA602AU Описание продукта

DESCRIPTION
The OPA602 is a precision, wide bandwidth FET operational amplifier. Monolithic Difet (dielectrically isolated FET) construction provides an unusual combination of high-speed and accuracy.
FEATURES
● WIDE BANDWIDTH: 6.5MHz
● HIGH SLEW RATE: 35V/µs
● LOW OFFSET: ±250µV max
● LOW BIAS CURRENT: ±1pA max
● FAST SETTLING TIME: 1µs to 0.01%
● UNITY-GAIN STABLE
APPLICATIONS
● PRECISION INSTRUMENTATION
● OPTOELECTRONICS
● SONAR, ULTRASOUND
● PROFESSIONAL AUDIO EQUIPMENT
● MEDICAL EQUIPMENT
● DATA CONVERSION

Развернуть все

Доставка

CDEK

Itella

SHIPTOR

SPSR-EXPRESS

Чип воркер Квалификация

Информация для заказа

Заказ Оплата Доставка Пакет Обеспечение качества

Данные условия носят справочный характер, фактические условия зависят от предложения продавца.
- Пожалуйста, уточняйте технические характеристики продукции при заказе.
- MOQ - минимальное количество заказа, необходимое для приобретения каждой детали.
- Если у вас есть особые инструкции по заказу, пожалуйста, укажите их на странице заказа.
- При заказе будет использоваться предотгрузочная инспекция.
- Вы можете проверить статус заказа в разделе «Мои заказы» вашего личного кабинета.
- Заказы не могут быть отменены после того, как посылка была отправлена. Узнать больше >
- работает как с физическими так и с юридическими лицами. Узнать больше >
- Все цены на сайте указаны с НДС 20%.
- Счета выставляются в валюте, оплата производится в рублях по курсу на день оплаты.
- Если вам нужен подробный счет-фактура или налоговый идентификатор, пожалуйста, напишите нам.
- После отправки товара в Россию доставка займет от 1 до 2 недель.
- Обработка Вашего заказа осуществляется только после оплаты счета.
- Номер для отслеживания будет выслан после отправки заказа. (Для отображения информации перевозчиком может потребоваться до 24 часов). Узнать больше >
- Тщательно проверено и упаковано компанией Чип воркер
- Вакуумная упаковка
- Антистатическая упаковка
- Антивибрационный пенопласт
- Контроль качества доходов, 800+ квалифицированных дистибьюторов.
- Авторитеты проверяют микросхему, чтобы гарантировать качество, подлинность и безопасность вашего устройства.
- Контроль декапсуляции
- Рентгеновский контроль
- XRF-инспекция
- Электрические испытания
- Тестирование поверхности