NUP2202W1T2G - ON Semiconductor

Изображения приведены только для примера, точные характеристики можно узнать из паспорта изделия.

Часть №

NUP2202W1T2G
Производитель

ON Semiconductor
Чип воркер Часть №

CW936222
Категория

Телевизионные диоды
Упаковка

SC-70-6
Описание

ON SEMICONDUCTOR NUP2202W1T2G ESD Protection Device, 20V, SC-88, 6Pins, 5V, 500W
даташит

Datasheet

Способ оплаты и доставка

NUP2202W1T2G Глобальный поставщик

{{ supplierTable.supplier }}	{{ supplierTable.part }}	{{ supplierTable.availability }}	MOQ	{{ supplierTable.delivery_date }}

{{viewMore}}
{{viewMore}}
DigiKey	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
Arrow	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
Mouser	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
					{{submitRFQ}}

NUP2202W1T2G Телевизионные диоды характеристики

Атрибут	Значение атрибута

Часть №	NUP2202W1T2G
Производитель	ON Semiconductor
Чип воркер Часть №	CW936222
Категория	Телевизионные диоды
даташит	Datasheet
Стиль Монтажа	Surface Mount
Количество Выводов	6 Pin
Корпус/Пакет	SC-70-6
Рабочее Напряжение	5 V
Ёмкость	5 pF
Пробивное Напряжение	6 V
Количество Каналов	2 Channel
Количество Стежков	6 Position
Рассеяние Мощности	500 W
Зажимное напряжение	20 V
Испытательный ток	1 mA
Пиковая импульсная мощность	500 W
Минимальное напряжение пробоя	6 V
Обратное напряжение пробоя	6 V
Рабочая температура (Макс)	125 ℃
Рабочая температура (мин)	-40 ℃
	Развернуть все
Длина	2 mm
Ширина	1.25 mm
Высота	0.9 mm
Рабочая Температура	-40℃ ~ 125℃ (TJ)
Жизненный Цикл Продукта	Active
Упаковка	Cut Tape (CT)
RoHS Комплаенс	RoHS Compliant
Бессвинцовая Статус	Lead Free
REACH SVHC Комплаенс	No SVHC
REACH SVHC Compliance Edition	2015/12/17
ECCN кодекс	EAR99

NUP2202W1T2G Описание продукта

Even low voltage discharges can cause damage to electronic components so get this diode array NUP2202W1T2G ESD protection device from ON Semiconductor for added protection. This device"s maximum clamping voltage is 20 V. This ESD diode has a maximum ESD protection device voltage of 20@Air Gap/20@Contact Disc/16@HBM/0.4@MM kV. This ESD diode has an operating temperature range of -40 °C to 125 °C. In order to guarantee safe delivery and allow for quick mounting of this component after delivery, it will be enclosed in tape and reel packaging during shipment. It is made in a dual configuration.

Развернуть все

Доставка

CDEK

Itella

SHIPTOR

SPSR-EXPRESS

Чип воркер Квалификация

Информация для заказа

Заказ Оплата Доставка Пакет Обеспечение качества

Данные условия носят справочный характер, фактические условия зависят от предложения продавца.
- Пожалуйста, уточняйте технические характеристики продукции при заказе.
- MOQ - минимальное количество заказа, необходимое для приобретения каждой детали.
- Если у вас есть особые инструкции по заказу, пожалуйста, укажите их на странице заказа.
- При заказе будет использоваться предотгрузочная инспекция.
- Вы можете проверить статус заказа в разделе «Мои заказы» вашего личного кабинета.
- Заказы не могут быть отменены после того, как посылка была отправлена. Узнать больше >
- работает как с физическими так и с юридическими лицами. Узнать больше >
- Все цены на сайте указаны с НДС 20%.
- Счета выставляются в валюте, оплата производится в рублях по курсу на день оплаты.
- Если вам нужен подробный счет-фактура или налоговый идентификатор, пожалуйста, напишите нам.
- После отправки товара в Россию доставка займет от 1 до 2 недель.
- Обработка Вашего заказа осуществляется только после оплаты счета.
- Номер для отслеживания будет выслан после отправки заказа. (Для отображения информации перевозчиком может потребоваться до 24 часов). Узнать больше >
- Тщательно проверено и упаковано компанией Чип воркер
- Вакуумная упаковка
- Антистатическая упаковка
- Антивибрационный пенопласт
- Контроль качества доходов, 800+ квалифицированных дистибьюторов.
- Авторитеты проверяют микросхему, чтобы гарантировать качество, подлинность и безопасность вашего устройства.
- Контроль декапсуляции
- Рентгеновский контроль
- XRF-инспекция
- Электрические испытания
- Тестирование поверхности