NSVJ3910SB3T1G - ON Semiconductor

Изображения приведены только для примера, точные характеристики можно узнать из паспорта изделия.

Часть №

NSVJ3910SB3T1G
Производитель

ON Semiconductor
Чип воркер Часть №

CW34130246
Категория

Транзистор JFET
Упаковка

SOT-23-3
Описание

Trans JFET N-CH 25V 50mA Automotive 3Pin CPH T/R
даташит

Datasheet

Способ оплаты и доставка

NSVJ3910SB3T1G Глобальный поставщик

{{ supplierTable.supplier }}	{{ supplierTable.part }}	{{ supplierTable.availability }}	MOQ	{{ supplierTable.delivery_date }}

{{viewMore}}
{{viewMore}}
DigiKey	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
Arrow	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
Mouser	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
					{{submitRFQ}}

NSVJ3910SB3T1G Транзистор JFET характеристики

Атрибут	Значение атрибута

Часть №	NSVJ3910SB3T1G
Производитель	ON Semiconductor
Чип воркер Часть №	CW34130246
Категория	Транзистор JFET
даташит	Datasheet
Стиль Монтажа	Surface Mount
Количество Выводов	3 Pin
Корпус/Пакет	SOT-23-3
Рассеяние Мощности	400 mW
Напряжение Сток-исток (Vds)	25 V
Обратное напряжение пробоя	25 V
Входная емкость (Ciss)	6pF @5V(Vds)
Максимальная входная мощность	400 mW
Рабочая температура (Макс)	150 ℃
Рабочая температура (мин)	-55 ℃
Рассеиваемая Мощность (Макс)	400 mW
	Развернуть все
Длина	2.9 mm
Ширина	1.6 mm
Высота	0.9 mm
Рабочая Температура	-55℃ ~ 150℃ (TJ)
Жизненный Цикл Продукта	Active
Упаковка	Tape & Reel (TR)
RoHS Комплаенс	RoHS Compliant
Бессвинцовая Статус	Lead Free
ECCN кодекс	EAR99

NSVJ3910SB3T1G Описание продукта

The NSVJ3910SB3 is a Single N-Channel Junction FET featuring Low Noise Amplification (LNA) suitable for automotive antenna applications. This device features high forward transfer admittance with low noise characteristics and provides high ESD immunity in comparison to current JFETs. This device is AEC-Q101 qualified and PPAP capable, making it suitable for automotive applications.
Features | | Benefits
---|---|---
| | | | |
High Forward Transfer Admittance
| |
Enabling the Reception of Radio Waves in the Small
High Breakdown Voltage
| |
Easy to Design
Pb-Free and RoHS compliance
| |
Environmental Consideration
Low Input Capacitance
| |
High Gain
Small Package CPH3 (2.9 mm x 2.8 mm x 0.9 mmt)
| |
Small and Sim Applied Set
Low Noise Figure
| |
AEC-Q101 qualified and PPAP capable
| |

Развернуть все

Доставка

CDEK

Itella

SHIPTOR

SPSR-EXPRESS

Чип воркер Квалификация

Информация для заказа

Заказ Оплата Доставка Пакет Обеспечение качества

Данные условия носят справочный характер, фактические условия зависят от предложения продавца.
- Пожалуйста, уточняйте технические характеристики продукции при заказе.
- MOQ - минимальное количество заказа, необходимое для приобретения каждой детали.
- Если у вас есть особые инструкции по заказу, пожалуйста, укажите их на странице заказа.
- При заказе будет использоваться предотгрузочная инспекция.
- Вы можете проверить статус заказа в разделе «Мои заказы» вашего личного кабинета.
- Заказы не могут быть отменены после того, как посылка была отправлена. Узнать больше >
- работает как с физическими так и с юридическими лицами. Узнать больше >
- Все цены на сайте указаны с НДС 20%.
- Счета выставляются в валюте, оплата производится в рублях по курсу на день оплаты.
- Если вам нужен подробный счет-фактура или налоговый идентификатор, пожалуйста, напишите нам.
- После отправки товара в Россию доставка займет от 1 до 2 недель.
- Обработка Вашего заказа осуществляется только после оплаты счета.
- Номер для отслеживания будет выслан после отправки заказа. (Для отображения информации перевозчиком может потребоваться до 24 часов). Узнать больше >
- Тщательно проверено и упаковано компанией Чип воркер
- Вакуумная упаковка
- Антистатическая упаковка
- Антивибрационный пенопласт
- Контроль качества доходов, 800+ квалифицированных дистибьюторов.
- Авторитеты проверяют микросхему, чтобы гарантировать качество, подлинность и безопасность вашего устройства.
- Контроль декапсуляции
- Рентгеновский контроль
- XRF-инспекция
- Электрические испытания
- Тестирование поверхности