NL17SZ125DTT1G - ON Semiconductor

Изображения приведены только для примера, точные характеристики можно узнать из паспорта изделия.

Часть №

NL17SZ125DTT1G
Производитель

ON Semiconductor
Чип воркер Часть №

CW13595044
Категория

Логический контроллер
Упаковка

TSOT-23-5
Описание

Buffer/Line Driver 1CH Non-Inverting 3-ST CMOS 5Pin TSOP T/R
даташит

Datasheet

Способ оплаты и доставка

NL17SZ125DTT1G Глобальный поставщик

{{ supplierTable.supplier }}	{{ supplierTable.part }}	{{ supplierTable.availability }}	MOQ	{{ supplierTable.delivery_date }}

{{viewMore}}
{{viewMore}}
DigiKey	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
Arrow	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
Mouser	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
					{{submitRFQ}}

NL17SZ125DTT1G Логический контроллер характеристики

Атрибут	Значение атрибута

Часть №	NL17SZ125DTT1G
Производитель	ON Semiconductor
Чип воркер Часть №	CW13595044
Категория	Логический контроллер
даташит	Datasheet
Стиль Монтажа	Surface Mount
Количество Выводов	5 Pin
Корпус/Пакет	TSOT-23-5
Напряжение Питания (DC)	1.65V (min)
Безгалогеновый Статус	Halogen Free
Количество Выходных Интерфейсов	1 Output
Количество Каналов	1 Channel
Количество Стежков	5 Position
Рассеяние Мощности	150 mW
Количество входов	1 Input
Рабочая температура (Макс)	125 ℃
Рабочая температура (мин)	-55 ℃
Рассеиваемая Мощность (Макс)	150 mW
Напряжение питания	1.65V ~ 5.5V
Напряжение питания (Макс)	5.5 V
Напряжение питания (мин)	1.65 V
	Развернуть все
Длина	3 mm
Ширина	1.5 mm
Высота	1.05 mm
Рабочая Температура	-55℃ ~ 125℃ (TA)
Жизненный Цикл Продукта	Active
Упаковка	Cut Tape (CT)
RoHS Комплаенс	RoHS Compliant
Бессвинцовая Статус	Lead Free
REACH SVHC Комплаенс	No SVHC
REACH SVHC Compliance Edition	2015/12/17
ECCN кодекс	EAR99

NL17SZ125DTT1G Описание продукта

The NL17SZ125DTT1G is a non-inverting high performance Buffer with 3-state outputs an operating from a 1.65 to 5.5V supply. It features near zero static supply current substantially reduces system power requirements and LVTTL compatible - interface capability with 5V TTL logic with VCC = 3V.
Overvoltage tolerant inputs and outputs
LVCMOS Compatible
24mA Balanced output sink and source capability
3-state OE input is active-low
Replacement for NC7SZ125
Chip complexity = 36 FETs
Designed for 1.65 to 5.5V VCC operation

Развернуть все

Доставка

CDEK

Itella

SHIPTOR

SPSR-EXPRESS

Чип воркер Квалификация

Информация для заказа

Заказ Оплата Доставка Пакет Обеспечение качества

Данные условия носят справочный характер, фактические условия зависят от предложения продавца.
- Пожалуйста, уточняйте технические характеристики продукции при заказе.
- MOQ - минимальное количество заказа, необходимое для приобретения каждой детали.
- Если у вас есть особые инструкции по заказу, пожалуйста, укажите их на странице заказа.
- При заказе будет использоваться предотгрузочная инспекция.
- Вы можете проверить статус заказа в разделе «Мои заказы» вашего личного кабинета.
- Заказы не могут быть отменены после того, как посылка была отправлена. Узнать больше >
- работает как с физическими так и с юридическими лицами. Узнать больше >
- Все цены на сайте указаны с НДС 20%.
- Счета выставляются в валюте, оплата производится в рублях по курсу на день оплаты.
- Если вам нужен подробный счет-фактура или налоговый идентификатор, пожалуйста, напишите нам.
- После отправки товара в Россию доставка займет от 1 до 2 недель.
- Обработка Вашего заказа осуществляется только после оплаты счета.
- Номер для отслеживания будет выслан после отправки заказа. (Для отображения информации перевозчиком может потребоваться до 24 часов). Узнать больше >
- Тщательно проверено и упаковано компанией Чип воркер
- Вакуумная упаковка
- Антистатическая упаковка
- Антивибрационный пенопласт
- Контроль качества доходов, 800+ квалифицированных дистибьюторов.
- Авторитеты проверяют микросхему, чтобы гарантировать качество, подлинность и безопасность вашего устройства.
- Контроль декапсуляции
- Рентгеновский контроль
- XRF-инспекция
- Электрические испытания
- Тестирование поверхности