NJL3281DG - ON Semiconductor

Изображения приведены только для примера, точные характеристики можно узнать из паспорта изделия.

Часть №

NJL3281DG
Производитель

ON Semiconductor
Чип воркер Часть №

CW9760296
Категория

Двухполюсный плоскостной транзистор
Упаковка

TO-264-5
Описание

TO-264 NPN 260V 15A
даташит

Datasheet

Способ оплаты и доставка

NJL3281DG Глобальный поставщик

{{ supplierTable.supplier }}	{{ supplierTable.part }}	{{ supplierTable.availability }}	MOQ	{{ supplierTable.delivery_date }}

{{viewMore}}
{{viewMore}}
DigiKey	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
Arrow	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
Mouser	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
					{{submitRFQ}}

NJL3281DG Двухполюсный плоскостной транзистор характеристики

Атрибут	Значение атрибута

Часть №	NJL3281DG
Производитель	ON Semiconductor
Чип воркер Часть №	CW9760296
Категория	Двухполюсный плоскостной транзистор
даташит	Datasheet
Стиль Монтажа	Through Hole
Количество Выводов	5 Pin
Корпус/Пакет	TO-264-5
Частота	30 MHz
Номинальное Напряжение (DC)	260 V
Номинальный Ток	15.0 A
Количество Стежков	5 Position
Полярность	NPN
Рассеяние Мощности	200 W
Пробивное Напряжение (Коллектор-Эмиттер)	260 V
Непрерывный ток коллектора	15A
hFE Min	75
hFE Max	150
Максимальная входная мощность	200 W
Усиление постоянного тока (hFE)	45
Рабочая температура (Макс)	150 ℃
Рабочая температура (мин)	-65 ℃
Рассеиваемая Мощность (Макс)	200000 mW
	Развернуть все
Длина	19.89 mm
Ширина	4.89 mm
Высота	25.98 mm
Рабочая Температура	-65℃ ~ 150℃ (TJ)
Жизненный Цикл Продукта	Active
Упаковка	Tube
RoHS Комплаенс	RoHS Compliant
Бессвинцовая Статус	Lead Free
REACH SVHC Compliance Edition	2015/12/17
ECCN кодекс	EAR99

NJL3281DG Описание продукта

Complementary ThermalTrak Transistors
The ThermalTrak family of devices has been designed to eliminate thermal equilibrium lag time and bias trimming in audio amplifier applications. They can also be used in other applications as transistor die protection devices.
Features
•Thermally Matched Bias Diode
•Instant Thermal Bias Tracking
•Absolute Thermal Integrity
•High Safe Operating Area
•Pb−Free Packages are Available
Applications
•High−End Consumer Audio Products
♦Home Amplifiers
♦Home Receivers
•Professional Audio Amplifiers
♦Theater and Stadium Sound Systems
♦Public Address Systems (PAs)

Развернуть все

Доставка

CDEK

Itella

SHIPTOR

SPSR-EXPRESS

Чип воркер Квалификация

Информация для заказа

Заказ Оплата Доставка Пакет Обеспечение качества

Данные условия носят справочный характер, фактические условия зависят от предложения продавца.
- Пожалуйста, уточняйте технические характеристики продукции при заказе.
- MOQ - минимальное количество заказа, необходимое для приобретения каждой детали.
- Если у вас есть особые инструкции по заказу, пожалуйста, укажите их на странице заказа.
- При заказе будет использоваться предотгрузочная инспекция.
- Вы можете проверить статус заказа в разделе «Мои заказы» вашего личного кабинета.
- Заказы не могут быть отменены после того, как посылка была отправлена. Узнать больше >
- работает как с физическими так и с юридическими лицами. Узнать больше >
- Все цены на сайте указаны с НДС 20%.
- Счета выставляются в валюте, оплата производится в рублях по курсу на день оплаты.
- Если вам нужен подробный счет-фактура или налоговый идентификатор, пожалуйста, напишите нам.
- После отправки товара в Россию доставка займет от 1 до 2 недель.
- Обработка Вашего заказа осуществляется только после оплаты счета.
- Номер для отслеживания будет выслан после отправки заказа. (Для отображения информации перевозчиком может потребоваться до 24 часов). Узнать больше >
- Тщательно проверено и упаковано компанией Чип воркер
- Вакуумная упаковка
- Антистатическая упаковка
- Антивибрационный пенопласт
- Контроль качества доходов, 800+ квалифицированных дистибьюторов.
- Авторитеты проверяют микросхему, чтобы гарантировать качество, подлинность и безопасность вашего устройства.
- Контроль декапсуляции
- Рентгеновский контроль
- XRF-инспекция
- Электрические испытания
- Тестирование поверхности