NCX2200GM - NXP

Изображения приведены только для примера, точные характеристики можно узнать из паспорта изделия.

Часть №

NCX2200GM
Производитель

NXP
Чип воркер Часть №

CW54890740
Категория

Компаратор
Упаковка

SON
Описание

COMPARATOR, 30000uV OFFSET-MAX, 800ns RESPONSE TIME, PDSO6, 1 X 1.45MM, 0.5MM HEIGHT, PLASTIC, MO-252, SOT-886, XSON-6
даташит

Datasheet

Способ оплаты и доставка

NCX2200GM Глобальный поставщик

{{ supplierTable.supplier }}	{{ supplierTable.part }}	{{ supplierTable.availability }}	MOQ	{{ supplierTable.delivery_date }}

{{viewMore}}
{{viewMore}}
DigiKey	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
Arrow	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
Mouser	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
					{{submitRFQ}}

NCX2200GM Компаратор характеристики

Атрибут	Значение атрибута

Часть №	NCX2200GM
Производитель	NXP
Чип воркер Часть №	CW54890740
Категория	Компаратор
даташит	Datasheet
Количество Выводов	6 Pin
Корпус/Пакет	SON
Ток Питания	6.00 µA
Количество Стежков	6 Position
Коэффициент Ослабления Синфазного Сигнала	70 dB
Рабочая температура (Макс)	85 ℃
Рабочая температура (мин)	-40 ℃
Рассеиваемая Мощность (Макс)	250 mW
Напряжение питания	1.3V ~ 5.5V
	Развернуть все
Рабочая Температура	-40℃ ~ 85℃
Жизненный Цикл Продукта	Unknown
Упаковка	Each
RoHS Комплаенс	RoHS Compliant
Бессвинцовая Статус	Lead Free
REACH SVHC Комплаенс	No SVHC
REACH SVHC Compliance Edition	2015/12/17

NCX2200GM Описание продукта

Overview
The NCX2200 provides a single low voltage low power comparator.
The NCX2200 has a very low supply current of 6 μA and is guaranteed to operate at a low voltage of 1.3 V and is fully operational up to 5.5 V which makes this device convenient for use in both 3.0 V and 5.0 V systems.
MoreLess
## Features
* Wide supply voltage range from 1.3 V to 5.5 V (functional operating range)
* Rail-to-rail input/output performance
* Very low supply current of 6 μA (typical)
* Very low-power consumption
* No phase inversion with overdriven input signals
* Internal hysteresis
* Propagation delay of 0.8 μs (typical)
* ESD protection:
* HBM JESD22-A114F Class 3A. Exceeds 2000 V
* CDM JESD22-C101E exceeds 1000 V
* Multiple package options
* Specified from -40 °C to +85 °C
## Target Applications
* Cellular telephones
* Alarm and security systems
* Personal Digital assistants
## Features

Развернуть все

Доставка

CDEK

Itella

SHIPTOR

SPSR-EXPRESS

Чип воркер Квалификация

Информация для заказа

Заказ Оплата Доставка Пакет Обеспечение качества

Данные условия носят справочный характер, фактические условия зависят от предложения продавца.
- Пожалуйста, уточняйте технические характеристики продукции при заказе.
- MOQ - минимальное количество заказа, необходимое для приобретения каждой детали.
- Если у вас есть особые инструкции по заказу, пожалуйста, укажите их на странице заказа.
- При заказе будет использоваться предотгрузочная инспекция.
- Вы можете проверить статус заказа в разделе «Мои заказы» вашего личного кабинета.
- Заказы не могут быть отменены после того, как посылка была отправлена. Узнать больше >
- работает как с физическими так и с юридическими лицами. Узнать больше >
- Все цены на сайте указаны с НДС 20%.
- Счета выставляются в валюте, оплата производится в рублях по курсу на день оплаты.
- Если вам нужен подробный счет-фактура или налоговый идентификатор, пожалуйста, напишите нам.
- После отправки товара в Россию доставка займет от 1 до 2 недель.
- Обработка Вашего заказа осуществляется только после оплаты счета.
- Номер для отслеживания будет выслан после отправки заказа. (Для отображения информации перевозчиком может потребоваться до 24 часов). Узнать больше >
- Тщательно проверено и упаковано компанией Чип воркер
- Вакуумная упаковка
- Антистатическая упаковка
- Антивибрационный пенопласт
- Контроль качества доходов, 800+ квалифицированных дистибьюторов.
- Авторитеты проверяют микросхему, чтобы гарантировать качество, подлинность и безопасность вашего устройства.
- Контроль декапсуляции
- Рентгеновский контроль
- XRF-инспекция
- Электрические испытания
- Тестирование поверхности