NC7SZ10P6X - Fairchild

Изображения приведены только для примера, точные характеристики можно узнать из паспорта изделия.

Часть №

NC7SZ10P6X
Производитель

Fairchild
Чип воркер Часть №

CW49467430
Категория

Логический чип
Упаковка

SC-70-6
Описание

NAND Gate 1Element 3IN CMOS 6Pin SC-70 T/R
даташит

Datasheet

Способ оплаты и доставка

NC7SZ10P6X Глобальный поставщик

{{ supplierTable.supplier }}	{{ supplierTable.part }}	{{ supplierTable.availability }}	MOQ	{{ supplierTable.delivery_date }}

{{viewMore}}
{{viewMore}}
DigiKey	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
Arrow	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
Mouser	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
					{{submitRFQ}}

NC7SZ10P6X Логический чип характеристики

Атрибут	Значение атрибута

Часть №	NC7SZ10P6X
Производитель	Fairchild
Чип воркер Часть №	CW49467430
Категория	Логический чип
даташит	Datasheet
Стиль Монтажа	Surface Mount
Количество Выводов	6 Pin
Корпус/Пакет	SC-70-6
Напряжение Питания (DC)	1.80 V
Количество Выходных Интерфейсов	1 Output
Количество Цепей	1 Circuit
Количество Стежков	6 Position
Количество Вентилей	1 Gate
Количество входов	3 Input
Рабочая температура (Макс)	85 ℃
Рабочая температура (мин)	-40 ℃
Напряжение питания	1.65V ~ 5.5V
Напряжение питания (Макс)	5.5 V
Напряжение питания (мин)	1.65 V
	Развернуть все
Длина	2 mm
Ширина	1.25 mm
Высота	1 mm
Рабочая Температура	-40℃ ~ 85℃
Жизненный Цикл Продукта	Active
Упаковка	Tape & Reel (TR)
RoHS Комплаенс	RoHS Compliant
Бессвинцовая Статус	Lead Free
REACH SVHC Комплаенс	No SVHC
REACH SVHC Compliance Edition	2015/06/15
ECCN кодекс	EAR99

NC7SZ10P6X Описание продукта

The NC7SZ10P6X is a single 3-Input NAND Gate from ultra-high speed series of TinyLogic®. The device is fabricated with advanced CMOS technology to achieve ultra-high speed with high output drive while maintaining low static power dissipation over a broad VCC operating range. The device is specified to operate over the 1.65 to 5.5V VCC operating range. The inputs and output are high impedance when VCC is 0V. Inputs tolerate voltages up to 7V independent of VCC operating voltage.
2.4ns Propagation delay (tPD)
±24mA High output drive at 3V
Power down high-impedance Inputs/Output
Over-voltage tolerant inputs facilitate 5V to 3V translation
Patented noise/EMI reduction circuitry implemented

Развернуть все

Доставка

CDEK

Itella

SHIPTOR

SPSR-EXPRESS

Чип воркер Квалификация

Информация для заказа

Заказ Оплата Доставка Пакет Обеспечение качества

Данные условия носят справочный характер, фактические условия зависят от предложения продавца.
- Пожалуйста, уточняйте технические характеристики продукции при заказе.
- MOQ - минимальное количество заказа, необходимое для приобретения каждой детали.
- Если у вас есть особые инструкции по заказу, пожалуйста, укажите их на странице заказа.
- При заказе будет использоваться предотгрузочная инспекция.
- Вы можете проверить статус заказа в разделе «Мои заказы» вашего личного кабинета.
- Заказы не могут быть отменены после того, как посылка была отправлена. Узнать больше >
- работает как с физическими так и с юридическими лицами. Узнать больше >
- Все цены на сайте указаны с НДС 20%.
- Счета выставляются в валюте, оплата производится в рублях по курсу на день оплаты.
- Если вам нужен подробный счет-фактура или налоговый идентификатор, пожалуйста, напишите нам.
- После отправки товара в Россию доставка займет от 1 до 2 недель.
- Обработка Вашего заказа осуществляется только после оплаты счета.
- Номер для отслеживания будет выслан после отправки заказа. (Для отображения информации перевозчиком может потребоваться до 24 часов). Узнать больше >
- Тщательно проверено и упаковано компанией Чип воркер
- Вакуумная упаковка
- Антистатическая упаковка
- Антивибрационный пенопласт
- Контроль качества доходов, 800+ квалифицированных дистибьюторов.
- Авторитеты проверяют микросхему, чтобы гарантировать качество, подлинность и безопасность вашего устройства.
- Контроль декапсуляции
- Рентгеновский контроль
- XRF-инспекция
- Электрические испытания
- Тестирование поверхности