NB4L52MNG - ON Semiconductor

Изображения приведены только для примера, точные характеристики можно узнать из паспорта изделия.

Часть №

NB4L52MNG
Производитель

ON Semiconductor
Чип воркер Часть №

CW3528726
Категория

Бистабильный мультивибратор
Упаковка

QFN-16
Описание

NB Series 3.3V 4GHz SMT Differential Data/Clock D Flip-Flop with Reset QFN-16
даташит

Datasheet

Способ оплаты и доставка

NB4L52MNG Глобальный поставщик

{{ supplierTable.supplier }}	{{ supplierTable.part }}	{{ supplierTable.availability }}	MOQ	{{ supplierTable.delivery_date }}

{{viewMore}}
{{viewMore}}
DigiKey	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
Arrow	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
Mouser	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
					{{submitRFQ}}

NB4L52MNG Бистабильный мультивибратор характеристики

Атрибут	Значение атрибута

Часть №	NB4L52MNG
Производитель	ON Semiconductor
Чип воркер Часть №	CW3528726
Категория	Бистабильный мультивибратор
даташит	Datasheet
Стиль Монтажа	Surface Mount
Количество Выводов	16 Pin
Корпус/Пакет	QFN-16
Частота	4 GHz
Напряжение Питания (DC)	2.38V (min)
Безгалогеновый Статус	Halogen Free
Выходной Ток	25 mA
Количество Каналов	1 Channel
Количество Стежков	16 Position
Количество Битов	1 Bit
Полярность	Non-Inverting, Inverting
Рабочая температура (Макс)	85 ℃
Рабочая температура (мин)	-40 ℃
Напряжение питания	2.375V ~ 5.5V
Напряжение питания (Макс)	5.5 V
Напряжение питания (мин)	2.375 V
	Развернуть все
Длина	3 mm
Ширина	3 mm
Высота	0.95 mm
Рабочая Температура	-40℃ ~ 85℃ (TA)
Жизненный Цикл Продукта	Active
Упаковка	Tube
RoHS Комплаенс	RoHS Compliant
Бессвинцовая Статус	Lead Free
REACH SVHC Compliance Edition	2015/12/17
ECCN кодекс	EAR99

NB4L52MNG Описание продукта

The NB4L52MNG is a differential Data and Clock D-type Flip-flop with a differential asynchronous reset. The differential inputs incorporate internal 50 termination resistors and will accept PECL, LVPECL, LVCMOS, LVTTL, CML or LVDS logic levels. When Clock transitions from low to high, Data will be transferred to the differential LVPECL outputs. The differential Clock inputs allow the NB4L52 to also be used as a negative edge triggered device.
145ps Typical rise and fall times
50R Internal input termination resistors
Functionally compatible with existing 2.5 V/3.3 V/5.0V LVEL, LVEP, EP and SG devices

Развернуть все

Доставка

CDEK

Itella

SHIPTOR

SPSR-EXPRESS

Чип воркер Квалификация

Информация для заказа

Заказ Оплата Доставка Пакет Обеспечение качества

Данные условия носят справочный характер, фактические условия зависят от предложения продавца.
- Пожалуйста, уточняйте технические характеристики продукции при заказе.
- MOQ - минимальное количество заказа, необходимое для приобретения каждой детали.
- Если у вас есть особые инструкции по заказу, пожалуйста, укажите их на странице заказа.
- При заказе будет использоваться предотгрузочная инспекция.
- Вы можете проверить статус заказа в разделе «Мои заказы» вашего личного кабинета.
- Заказы не могут быть отменены после того, как посылка была отправлена. Узнать больше >
- работает как с физическими так и с юридическими лицами. Узнать больше >
- Все цены на сайте указаны с НДС 20%.
- Счета выставляются в валюте, оплата производится в рублях по курсу на день оплаты.
- Если вам нужен подробный счет-фактура или налоговый идентификатор, пожалуйста, напишите нам.
- После отправки товара в Россию доставка займет от 1 до 2 недель.
- Обработка Вашего заказа осуществляется только после оплаты счета.
- Номер для отслеживания будет выслан после отправки заказа. (Для отображения информации перевозчиком может потребоваться до 24 часов). Узнать больше >
- Тщательно проверено и упаковано компанией Чип воркер
- Вакуумная упаковка
- Антистатическая упаковка
- Антивибрационный пенопласт
- Контроль качества доходов, 800+ квалифицированных дистибьюторов.
- Авторитеты проверяют микросхему, чтобы гарантировать качество, подлинность и безопасность вашего устройства.
- Контроль декапсуляции
- Рентгеновский контроль
- XRF-инспекция
- Электрические испытания
- Тестирование поверхности