MUR1100EG - ON Semiconductor

Изображения приведены только для примера, точные характеристики можно узнать из паспорта изделия.

Часть №

MUR1100EG
Производитель

ON Semiconductor
Чип воркер Часть №

CW2635117
Категория

Телевизионные диоды
Упаковка

DO-41
Описание

Fast / Ultrafast Power Diode, 1kV, 1A, Single, 1.75V, 75ns, 35A
даташит

Datasheet

Способ оплаты и доставка

MUR1100EG Глобальный поставщик

{{ supplierTable.supplier }}	{{ supplierTable.part }}	{{ supplierTable.availability }}	MOQ	{{ supplierTable.delivery_date }}

{{viewMore}}
{{viewMore}}
DigiKey	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
Arrow	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
Mouser	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
					{{submitRFQ}}

MUR1100EG Телевизионные диоды характеристики

Атрибут	Значение атрибута

Часть №	MUR1100EG
Производитель	ON Semiconductor
Чип воркер Часть №	CW2635117
Категория	Телевизионные диоды
даташит	Datasheet
Стиль Монтажа	Through Hole
Количество Выводов	2 Pin
Корпус/Пакет	DO-41
Номинальное Напряжение (DC)	800 V
Номинальный Ток	1.00 A
Безгалогеновый Статус	Halogen Free
Выходной Ток	≤1.00 A
Напряжение в Прямом Направлении	1.75 V
Полярность	Standard
Тепловое Сопротивление	87 ℃/W
Обратное время восстановления	100 ns
Прямой ток	1 A
Максимальный ток перенапряжения (Ifsm)	35 A
Максимальное прямое напряжение (Макс)	1.75 V
Прямой ток (макс)	1 A
Рабочая температура (Макс)	175 ℃
Рабочая температура (мин)	-65 ℃
Температура соединения (Макс)	175 ℃
	Развернуть все
Длина	5.2 mm
Ширина	2.7 mm
Высота	5.2 mm
Рабочая Температура	-65℃ ~ 175℃
Жизненный Цикл Продукта	Active
Упаковка	Bulk
RoHS Комплаенс	RoHS Compliant
Бессвинцовая Статус	Lead Free
REACH SVHC Комплаенс	No SVHC
REACH SVHC Compliance Edition	2014/12/17
ECCN кодекс	EAR99

MUR1100EG Описание продукта

The MUR1100EG is a SWITCHMODE™ Power Rectifier with moulded epoxy case. This state-of-the-art device is design for use in switching power supplies, inverters and as free-wheeling diodes.
All external surfaces corrosion-resistant and terminal leads are readily solderable
Cathode indicated by polarity band
Excellent protection against voltage transients in switching inductive load circuits
Ultrafast 75ns recovery time
Low forward voltage
Low leakage current
High temperature glass-passivated junction
10mj Avalanche energy guaranteed

Развернуть все

Доставка

CDEK

Itella

SHIPTOR

SPSR-EXPRESS

Чип воркер Квалификация

Информация для заказа

Заказ Оплата Доставка Пакет Обеспечение качества

Данные условия носят справочный характер, фактические условия зависят от предложения продавца.
- Пожалуйста, уточняйте технические характеристики продукции при заказе.
- MOQ - минимальное количество заказа, необходимое для приобретения каждой детали.
- Если у вас есть особые инструкции по заказу, пожалуйста, укажите их на странице заказа.
- При заказе будет использоваться предотгрузочная инспекция.
- Вы можете проверить статус заказа в разделе «Мои заказы» вашего личного кабинета.
- Заказы не могут быть отменены после того, как посылка была отправлена. Узнать больше >
- работает как с физическими так и с юридическими лицами. Узнать больше >
- Все цены на сайте указаны с НДС 20%.
- Счета выставляются в валюте, оплата производится в рублях по курсу на день оплаты.
- Если вам нужен подробный счет-фактура или налоговый идентификатор, пожалуйста, напишите нам.
- После отправки товара в Россию доставка займет от 1 до 2 недель.
- Обработка Вашего заказа осуществляется только после оплаты счета.
- Номер для отслеживания будет выслан после отправки заказа. (Для отображения информации перевозчиком может потребоваться до 24 часов). Узнать больше >
- Тщательно проверено и упаковано компанией Чип воркер
- Вакуумная упаковка
- Антистатическая упаковка
- Антивибрационный пенопласт
- Контроль качества доходов, 800+ квалифицированных дистибьюторов.
- Авторитеты проверяют микросхему, чтобы гарантировать качество, подлинность и безопасность вашего устройства.
- Контроль декапсуляции
- Рентгеновский контроль
- XRF-инспекция
- Электрические испытания
- Тестирование поверхности