MPL3115A2 - NXP

Изображения приведены только для примера, точные характеристики можно узнать из паспорта изделия.

Часть №

MPL3115A2
Производитель

NXP
Чип воркер Часть №

CW794640
Категория

Датчики Давления
Упаковка

TLGA-8
Описание

Pressure Sensor, 2.5V, 20/110kPa, LGA 8
даташит

Datasheet

Способ оплаты и доставка

MPL3115A2 Глобальный поставщик

{{ supplierTable.supplier }}	{{ supplierTable.part }}	{{ supplierTable.availability }}	MOQ	{{ supplierTable.delivery_date }}

{{viewMore}}
{{viewMore}}
DigiKey	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
Arrow	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
Mouser	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
					{{submitRFQ}}

MPL3115A2 Датчики Давления характеристики

Атрибут	Значение атрибута

Часть №	MPL3115A2
Производитель	NXP
Чип воркер Часть №	CW794640
Категория	Датчики Давления
даташит	Datasheet
Стиль Монтажа	Surface Mount
Количество Выводов	8 Pin
Корпус/Пакет	TLGA-8
Напряжение Питания (DC)	1.95V (min)
Безгалогеновый Статус	Halogen Free
Выходное Напряжение	1.95V ~ 3.9V
Ток Питания	40.0 µA
Количество Стежков	8 Position
Выходное напряжение (Макс)	1 V
Выходное напряжение (мин)	0.9 V
Рабочая температура (Макс)	85 ℃
Рабочая температура (мин)	-40 ℃
точность	±1 %
Напряжение питания	2.5 V
Напряжение питания (Макс)	3.6 V
Напряжение питания (мин)	1.95 V
	Развернуть все
Длина	5 mm
Ширина	3 mm
Высота	1 mm
Рабочая Температура	-40℃ ~ 85℃
Жизненный Цикл Продукта	Active
Упаковка	Tray
RoHS Комплаенс	Compliant with Exemption
Бессвинцовая Статус	Lead Free
REACH SVHC Комплаенс	No SVHC
ECCN кодекс	EAR99

MPL3115A2 Описание продукта

The Xtrinsic MPL3115A2 employs a MEMS pressure sensor with an I2C interface to provide accurate Pressure/Altitude and Temperature data. The sensor outputs are digitized by a high resolution 24-bit ADC. Internal processing removes compensation tasks from the host MCU system. Multiple user-programmable , power saving, interrupt and autonomous data acquisition modes are available, including programmed acquisition cycle timing, and poll-only modes. Typical active supply current is 40 µA per measurement-second for a stable 10 cm output resolution.
Fully compensated internally
Programmable events
Autonomous data acquisition
Resolution down to 0.1 m
32-sample FIFO
Ability to log data up to 12 days using the FIFO
1 second to 9 hour data acquisition rate
I2C digital output interface

Развернуть все

Доставка

CDEK

Itella

SHIPTOR

SPSR-EXPRESS

Чип воркер Квалификация

Информация для заказа

Заказ Оплата Доставка Пакет Обеспечение качества

Данные условия носят справочный характер, фактические условия зависят от предложения продавца.
- Пожалуйста, уточняйте технические характеристики продукции при заказе.
- MOQ - минимальное количество заказа, необходимое для приобретения каждой детали.
- Если у вас есть особые инструкции по заказу, пожалуйста, укажите их на странице заказа.
- При заказе будет использоваться предотгрузочная инспекция.
- Вы можете проверить статус заказа в разделе «Мои заказы» вашего личного кабинета.
- Заказы не могут быть отменены после того, как посылка была отправлена. Узнать больше >
- работает как с физическими так и с юридическими лицами. Узнать больше >
- Все цены на сайте указаны с НДС 20%.
- Счета выставляются в валюте, оплата производится в рублях по курсу на день оплаты.
- Если вам нужен подробный счет-фактура или налоговый идентификатор, пожалуйста, напишите нам.
- После отправки товара в Россию доставка займет от 1 до 2 недель.
- Обработка Вашего заказа осуществляется только после оплаты счета.
- Номер для отслеживания будет выслан после отправки заказа. (Для отображения информации перевозчиком может потребоваться до 24 часов). Узнать больше >
- Тщательно проверено и упаковано компанией Чип воркер
- Вакуумная упаковка
- Антистатическая упаковка
- Антивибрационный пенопласт
- Контроль качества доходов, 800+ квалифицированных дистибьюторов.
- Авторитеты проверяют микросхему, чтобы гарантировать качество, подлинность и безопасность вашего устройства.
- Контроль декапсуляции
- Рентгеновский контроль
- XRF-инспекция
- Электрические испытания
- Тестирование поверхности