MOC217M - ON Semiconductor

Изображения приведены только для примера, точные характеристики можно узнать из паспорта изделия.

Часть №

MOC217M
Производитель

ON Semiconductor
Чип воркер Часть №

CW18150067
Упаковка

SOIC-8
Описание

8Pin SOIC Single-Channel Phototransistor Output Optocoupler
даташит

Datasheet

Способ оплаты и доставка

MOC217M Глобальный поставщик

{{ supplierTable.supplier }}	{{ supplierTable.part }}	{{ supplierTable.availability }}	MOQ	{{ supplierTable.delivery_date }}

{{viewMore}}
{{viewMore}}
DigiKey	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
Arrow	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
Mouser	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
					{{submitRFQ}}

MOC217M характеристики

Атрибут	Значение атрибута

Часть №	MOC217M
Производитель	ON Semiconductor
Чип воркер Часть №	CW18150067
даташит	Datasheet
Стиль Монтажа	Surface Mount
Количество Выводов	8 Pin
Корпус/Пакет	SOIC-8
Время Нарастания/Спада	3.2µs, 4.7µs
Количество Каналов	1 Channel
Количество Стежков	8 Position
Напряжение в Прямом Направлении	1.07 V
Входной Ток	60 mA
Рассеяние Мощности	250 mW
Время Нарастания	3 µs
Напряжение Изоляции	2500 Vrms
Прямой ток	60 mA
Выходное напряжение (Макс)	30 V
Максимальное прямое напряжение (Макс)	1.3 V
Прямой ток (макс)	60 mA
Время падения	3 µs
Рабочая температура (Макс)	100 ℃
Рабочая температура (мин)	-40 ℃
Рассеиваемая Мощность (Макс)	250 mW
	Развернуть все
Рабочая Температура	-40℃ ~ 100℃
Жизненный Цикл Продукта	Active
Упаковка	Tube
RoHS Комплаенс	RoHS Compliant
Бессвинцовая Статус	Lead Free
ECCN кодекс	EAR99

MOC217M Описание продукта

These devices consist of a gallium arsenide infrared emitting diode optically coupled to a monolithic silicon phototransistor detector, in a surface mountable, small outline, plastic package. They are ideally suited for high-density applications, and eliminate the need for through-the-board mounting.
Features
---
|
"Closely Matched Current Transfer Ratios
Minimum BVCEO of 70 V Guaranteed
MOC205M, MOC206M, MOC207M
Minimum BVCEO of 30 V Guaranteed
MOC211M, MOC212M, MOC213M, MOC216M,MOC217M
Low LED Input Current Required for Easier Logic Interfacing
MOC216M, MOC217M
Convenient Plastic SOIC-8 Surface Mountable Package Style, with 0.050" Lead Spacing
Safety and Regulatory Approvals:
UL1577, 2,500 VACRMS for 1 Minute
DIN-EN/IEC60747-5-5, 565 V Peak Working Insulation Voltage"

Развернуть все

Доставка

CDEK

Itella

SHIPTOR

SPSR-EXPRESS

Чип воркер Квалификация

Информация для заказа

Заказ Оплата Доставка Пакет Обеспечение качества

Данные условия носят справочный характер, фактические условия зависят от предложения продавца.
- Пожалуйста, уточняйте технические характеристики продукции при заказе.
- MOQ - минимальное количество заказа, необходимое для приобретения каждой детали.
- Если у вас есть особые инструкции по заказу, пожалуйста, укажите их на странице заказа.
- При заказе будет использоваться предотгрузочная инспекция.
- Вы можете проверить статус заказа в разделе «Мои заказы» вашего личного кабинета.
- Заказы не могут быть отменены после того, как посылка была отправлена. Узнать больше >
- работает как с физическими так и с юридическими лицами. Узнать больше >
- Все цены на сайте указаны с НДС 20%.
- Счета выставляются в валюте, оплата производится в рублях по курсу на день оплаты.
- Если вам нужен подробный счет-фактура или налоговый идентификатор, пожалуйста, напишите нам.
- После отправки товара в Россию доставка займет от 1 до 2 недель.
- Обработка Вашего заказа осуществляется только после оплаты счета.
- Номер для отслеживания будет выслан после отправки заказа. (Для отображения информации перевозчиком может потребоваться до 24 часов). Узнать больше >
- Тщательно проверено и упаковано компанией Чип воркер
- Вакуумная упаковка
- Антистатическая упаковка
- Антивибрационный пенопласт
- Контроль качества доходов, 800+ квалифицированных дистибьюторов.
- Авторитеты проверяют микросхему, чтобы гарантировать качество, подлинность и безопасность вашего устройства.
- Контроль декапсуляции
- Рентгеновский контроль
- XRF-инспекция
- Электрические испытания
- Тестирование поверхности