MMSZ5248B - Fairchild

Изображения приведены только для примера, точные характеристики можно узнать из паспорта изделия.

Часть №

MMSZ5248B
Производитель

Fairchild
Чип воркер Часть №

CW7225159
Категория

Зинеровский диод
Упаковка

SOD-123
Описание

FAIRCHILD SEMICONDUCTOR MMSZ5248B Zener Single Diode, 18V, 0.5W(1/2W), SOD-123, 5%, 2Pins, 150℃
даташит

Datasheet

Способ оплаты и доставка

MMSZ5248B Глобальный поставщик

{{ supplierTable.supplier }}	{{ supplierTable.part }}	{{ supplierTable.availability }}	MOQ	{{ supplierTable.delivery_date }}

{{viewMore}}
{{viewMore}}
DigiKey	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
Arrow	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
Mouser	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
					{{submitRFQ}}

MMSZ5248B Зинеровский диод характеристики

Атрибут	Значение атрибута

Часть №	MMSZ5248B
Производитель	Fairchild
Чип воркер Часть №	CW7225159
Категория	Зинеровский диод
даташит	Datasheet
Стиль Монтажа	Surface Mount
Количество Выводов	2 Pin
Корпус/Пакет	SOD-123
Номинальное Напряжение (DC)	18.0 V
Допустимое Отклонение Ёмкости	±5 %
Номинальная Мощность	500 mW
Количество Стежков	2 Position
Напряжение в Прямом Направлении	900mV @10mA
Рассеяние Мощности	500 mW
Испытательный ток	7 mA
Напряжение Зенера	18 V
Максимальное прямое напряжение (Макс)	900mV @10mA
Максимальная входная мощность	500 mW
Рабочая температура (Макс)	150 ℃
Рабочая температура (мин)	-55 ℃
Рассеиваемая Мощность (Макс)	500 mW
	Развернуть все
Длина	2.85 mm
Ширина	1.8 mm
Высота	1.18 mm
Рабочая Температура	-55℃ ~ 150℃
Жизненный Цикл Продукта	Active
Упаковка	Tape & Reel (TR)
RoHS Комплаенс	RoHS Compliant
Бессвинцовая Статус	Lead Free
REACH SVHC Комплаенс	No SVHC
REACH SVHC Compliance Edition	2015/06/15
ECCN кодекс	EAR99

MMSZ5248B Описание продукта

The MMSZ5248B is a half watt general purpose medium current surface mount Zener Diode in the SOD-123 package provides high power and current handling capability. The SOD-123 package has the same footprint as the glass MiniMELF (LL-34) package and provides a convenient alternative to the leadless package. This product is general usage and suitable for many different applications.
Compact surface mount with same footprint as MiniMELF
500mW Rating on FR-4 or FR-5 board
Low gate charge (typical 5nC)
Class 3 ESD rating (>16kV) per human body model

Развернуть все

Доставка

CDEK

Itella

SHIPTOR

SPSR-EXPRESS

Чип воркер Квалификация

Информация для заказа

Заказ Оплата Доставка Пакет Обеспечение качества

Данные условия носят справочный характер, фактические условия зависят от предложения продавца.
- Пожалуйста, уточняйте технические характеристики продукции при заказе.
- MOQ - минимальное количество заказа, необходимое для приобретения каждой детали.
- Если у вас есть особые инструкции по заказу, пожалуйста, укажите их на странице заказа.
- При заказе будет использоваться предотгрузочная инспекция.
- Вы можете проверить статус заказа в разделе «Мои заказы» вашего личного кабинета.
- Заказы не могут быть отменены после того, как посылка была отправлена. Узнать больше >
- работает как с физическими так и с юридическими лицами. Узнать больше >
- Все цены на сайте указаны с НДС 20%.
- Счета выставляются в валюте, оплата производится в рублях по курсу на день оплаты.
- Если вам нужен подробный счет-фактура или налоговый идентификатор, пожалуйста, напишите нам.
- После отправки товара в Россию доставка займет от 1 до 2 недель.
- Обработка Вашего заказа осуществляется только после оплаты счета.
- Номер для отслеживания будет выслан после отправки заказа. (Для отображения информации перевозчиком может потребоваться до 24 часов). Узнать больше >
- Тщательно проверено и упаковано компанией Чип воркер
- Вакуумная упаковка
- Антистатическая упаковка
- Антивибрационный пенопласт
- Контроль качества доходов, 800+ квалифицированных дистибьюторов.
- Авторитеты проверяют микросхему, чтобы гарантировать качество, подлинность и безопасность вашего устройства.
- Контроль декапсуляции
- Рентгеновский контроль
- XRF-инспекция
- Электрические испытания
- Тестирование поверхности