MMSZ5237BT1G - ON Semiconductor

Изображения приведены только для примера, точные характеристики можно узнать из паспорта изделия.

Часть №

MMSZ5237BT1G
Производитель

ON Semiconductor
Чип воркер Часть №

CW5237427
Категория

Зинеровский диод
Упаковка

SOD-123
Описание

SOD-123 8.2V 0.5W(1/2W)
даташит

Datasheet

Способ оплаты и доставка

MMSZ5237BT1G Глобальный поставщик

{{ supplierTable.supplier }}	{{ supplierTable.part }}	{{ supplierTable.availability }}	MOQ	{{ supplierTable.delivery_date }}

{{viewMore}}
{{viewMore}}
DigiKey	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
Arrow	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
Mouser	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
					{{submitRFQ}}

MMSZ5237BT1G Зинеровский диод характеристики

Атрибут	Значение атрибута

Часть №	MMSZ5237BT1G
Производитель	ON Semiconductor
Чип воркер Часть №	CW5237427
Категория	Зинеровский диод
даташит	Datasheet
Стиль Монтажа	Surface Mount
Количество Выводов	2 Pin
Корпус/Пакет	SOD-123
Номинальное Напряжение (DC)	8.20 V
Допустимое Отклонение Ёмкости	±5 %
Номинальная Мощность	500 mW
Пробивное Напряжение	8.61 V
Количество Стежков	2 Position
Напряжение в Прямом Направлении	900mV @10mA
Рассеяние Мощности	500 mW
Испытательный ток	20 mA
Напряжение Зенера	8.2 V
Максимальное прямое напряжение (Макс)	900mV @10mA
Максимальная входная мощность	500 mW
Рабочая температура (Макс)	150 ℃
Рабочая температура (мин)	-55 ℃
	Развернуть все
Длина	2.69 mm
Ширина	1.6 mm
Высота	1.12 mm
Материал	Plastic
Рабочая Температура	-55℃ ~ 150℃
Жизненный Цикл Продукта	Active
Упаковка	Tape & Reel (TR)
RoHS Комплаенс	RoHS Compliant
Бессвинцовая Статус	Lead Free
REACH SVHC Комплаенс	No SVHC
REACH SVHC Compliance Edition	2015/12/17
ECCN кодекс	EAR99
Лицензия HK STC	NLR

MMSZ5237BT1G Описание продукта

The MMSZ5237BT1G is a surface mount Voltage Regulator Zener Diode with void free transfer-moulded thermosetting plastic case. This device provides a convenient alternative to the leadless 34-package style. Zener voltage in this diode specified with device junction in thermal equilibrium. It is designed for optimal automated board assembly.
500mW Rating on FR-4 or FR-5 board
Small package size for high density applications
General purpose, medium current
ESD rating of Class 3 (>16kV) per human body model
AEC-Q101 qualified and PPAP capable
Pb-free device

Развернуть все

Доставка

CDEK

Itella

SHIPTOR

SPSR-EXPRESS

Чип воркер Квалификация

Информация для заказа

Заказ Оплата Доставка Пакет Обеспечение качества

Данные условия носят справочный характер, фактические условия зависят от предложения продавца.
- Пожалуйста, уточняйте технические характеристики продукции при заказе.
- MOQ - минимальное количество заказа, необходимое для приобретения каждой детали.
- Если у вас есть особые инструкции по заказу, пожалуйста, укажите их на странице заказа.
- При заказе будет использоваться предотгрузочная инспекция.
- Вы можете проверить статус заказа в разделе «Мои заказы» вашего личного кабинета.
- Заказы не могут быть отменены после того, как посылка была отправлена. Узнать больше >
- работает как с физическими так и с юридическими лицами. Узнать больше >
- Все цены на сайте указаны с НДС 20%.
- Счета выставляются в валюте, оплата производится в рублях по курсу на день оплаты.
- Если вам нужен подробный счет-фактура или налоговый идентификатор, пожалуйста, напишите нам.
- После отправки товара в Россию доставка займет от 1 до 2 недель.
- Обработка Вашего заказа осуществляется только после оплаты счета.
- Номер для отслеживания будет выслан после отправки заказа. (Для отображения информации перевозчиком может потребоваться до 24 часов). Узнать больше >
- Тщательно проверено и упаковано компанией Чип воркер
- Вакуумная упаковка
- Антистатическая упаковка
- Антивибрационный пенопласт
- Контроль качества доходов, 800+ квалифицированных дистибьюторов.
- Авторитеты проверяют микросхему, чтобы гарантировать качество, подлинность и безопасность вашего устройства.
- Контроль декапсуляции
- Рентгеновский контроль
- XRF-инспекция
- Электрические испытания
- Тестирование поверхности