MIC5891YN - Microchip

Изображения приведены только для примера, точные характеристики можно узнать из паспорта изделия.

Часть №

MIC5891YN
Производитель

Microchip
Чип воркер Часть №

CW15386640
Категория

Логический замок
Упаковка

PDIP-16
Описание

Shift Register/Latch/Driver Single 8Bit Serial to Serial/Parallel 16Pin PDIP
даташит

Datasheet

Способ оплаты и доставка

MIC5891YN Глобальный поставщик

{{ supplierTable.supplier }}	{{ supplierTable.part }}	{{ supplierTable.availability }}	MOQ	{{ supplierTable.delivery_date }}

{{viewMore}}
{{viewMore}}
DigiKey	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
Arrow	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
Mouser	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
					{{submitRFQ}}

MIC5891YN Логический замок характеристики

Атрибут	Значение атрибута

Часть №	MIC5891YN
Производитель	Microchip
Чип воркер Часть №	CW15386640
Категория	Логический замок
даташит	Datasheet
Стиль Монтажа	Through Hole
Количество Выводов	16 Pin
Корпус/Пакет	PDIP-16
Количество Выходных Интерфейсов	8 Output
Выходное Напряжение	50 V
Выходной Ток	500 mA
Количество Цепей	1 Circuit
Количество Битов	8 Bit
Выходной ток (Макс)	500 mA
Количество входов	1 Input
Рабочая температура (Макс)	85 ℃
Рабочая температура (мин)	-40 ℃
Напряжение питания (Макс)	12 V
Напряжение питания (мин)	5 V
	Развернуть все
Рабочая Температура	-55℃ ~ 125℃ (TA)
Жизненный Цикл Продукта	Unknown
Упаковка	Tube
RoHS Комплаенс	RoHS Compliant
Бессвинцовая Статус	Lead Free
ECCN кодекс	EAR99

MIC5891YN Описание продукта

The MIC5891YN is a 8-bit serial-input Latched Source Driver with high-voltage, high current integrated circuit comprised of CMOS data latches, CMOS control circuitry for the common STROBE and OUTPUT ENABLE and bi-polar Darlington transistor drivers for each latch. bi-polar/MOS construction provides extremely low power latches with maximum interface flexibility. The MIC5891 will typically operate at 5MHz with a 5V logic supply. The CMOS inputs are compatible with standard CMOS, PMOS and NMOS logic levels. TTL circuits may be used with appropriate pull-up resistors to ensure a proper logic-high input. A CMOS serial data output allows additional drivers to be cascaded when more than 8-bit are required.
High voltage, High current outputs
Output transient protection diodes
Low-power CMOS latches

Развернуть все

Доставка

CDEK

Itella

SHIPTOR

SPSR-EXPRESS

Чип воркер Квалификация

Информация для заказа

Заказ Оплата Доставка Пакет Обеспечение качества

Данные условия носят справочный характер, фактические условия зависят от предложения продавца.
- Пожалуйста, уточняйте технические характеристики продукции при заказе.
- MOQ - минимальное количество заказа, необходимое для приобретения каждой детали.
- Если у вас есть особые инструкции по заказу, пожалуйста, укажите их на странице заказа.
- При заказе будет использоваться предотгрузочная инспекция.
- Вы можете проверить статус заказа в разделе «Мои заказы» вашего личного кабинета.
- Заказы не могут быть отменены после того, как посылка была отправлена. Узнать больше >
- работает как с физическими так и с юридическими лицами. Узнать больше >
- Все цены на сайте указаны с НДС 20%.
- Счета выставляются в валюте, оплата производится в рублях по курсу на день оплаты.
- Если вам нужен подробный счет-фактура или налоговый идентификатор, пожалуйста, напишите нам.
- После отправки товара в Россию доставка займет от 1 до 2 недель.
- Обработка Вашего заказа осуществляется только после оплаты счета.
- Номер для отслеживания будет выслан после отправки заказа. (Для отображения информации перевозчиком может потребоваться до 24 часов). Узнать больше >
- Тщательно проверено и упаковано компанией Чип воркер
- Вакуумная упаковка
- Антистатическая упаковка
- Антивибрационный пенопласт
- Контроль качества доходов, 800+ квалифицированных дистибьюторов.
- Авторитеты проверяют микросхему, чтобы гарантировать качество, подлинность и безопасность вашего устройства.
- Контроль декапсуляции
- Рентгеновский контроль
- XRF-инспекция
- Электрические испытания
- Тестирование поверхности