MC74VHC1G08DTT1G - ON Semiconductor

Изображения приведены только для примера, точные характеристики можно узнать из паспорта изделия.

Часть №

MC74VHC1G08DTT1G
Производитель

ON Semiconductor
Чип воркер Часть №

CW2322375
Категория

Логический чип
Упаковка

TSOT-23-5
Описание

AND Gate 1Element 2IN CMOS 5Pin TSOP T/R
даташит

Datasheet

Способ оплаты и доставка

MC74VHC1G08DTT1G Глобальный поставщик

{{ supplierTable.supplier }}	{{ supplierTable.part }}	{{ supplierTable.availability }}	MOQ	{{ supplierTable.delivery_date }}

{{viewMore}}
{{viewMore}}
DigiKey	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
Arrow	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
Mouser	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
					{{submitRFQ}}

MC74VHC1G08DTT1G Логический чип характеристики

Атрибут	Значение атрибута

Часть №	MC74VHC1G08DTT1G
Производитель	ON Semiconductor
Чип воркер Часть №	CW2322375
Категория	Логический чип
даташит	Datasheet
Стиль Монтажа	Surface Mount
Количество Выводов	5 Pin
Корпус/Пакет	TSOT-23-5
Напряжение Питания (DC)	2.00V (min)
Безгалогеновый Статус	Halogen Free
Количество Выходных Интерфейсов	1 Output
Выходной Ток	8 mA
Количество Цепей	1 Circuit
Количество Стежков	5 Position
Количество Вентилей	1 Gate
Количество входов	2 Input
Рабочая температура (Макс)	125 ℃
Рабочая температура (мин)	-55 ℃
Напряжение питания	2V ~ 5.5V
Напряжение питания (Макс)	5.5 V
Напряжение питания (мин)	2 V
	Развернуть все
Длина	3 mm
Ширина	1.5 mm
Высота	1 mm
Рабочая Температура	-55℃ ~ 125℃
Жизненный Цикл Продукта	Active
Упаковка	Cut Tape (CT)
RoHS Комплаенс	RoHS Compliant
Бессвинцовая Статус	Lead Free
REACH SVHC Комплаенс	No SVHC
REACH SVHC Compliance Edition	2015/12/17
ECCN кодекс	EAR99

MC74VHC1G08DTT1G Описание продукта

The MC74VHC1G08DTT1G is an advanced high speed single 2-input AND Gate fabricated with silicon gate CMOS technology. The internal circuit is composed of multiple stages, including a buffer output which provides high noise immunity and stable output. The device input structure provides protection when voltages up to 7V are applied, regardless of the supply voltage. This allows the device to be used to interface 5V circuits to 3V circuits.
3.5ns Propagation delay (tPD)
1µA Low power dissipation (ICC)
Power down protection provided on inputs
Balanced propagation delays
Pin and function compatible with other standard logic families
Chip complexity - 62 FETs

Развернуть все

Доставка

CDEK

Itella

SHIPTOR

SPSR-EXPRESS

Чип воркер Квалификация

Информация для заказа

Заказ Оплата Доставка Пакет Обеспечение качества

Данные условия носят справочный характер, фактические условия зависят от предложения продавца.
- Пожалуйста, уточняйте технические характеристики продукции при заказе.
- MOQ - минимальное количество заказа, необходимое для приобретения каждой детали.
- Если у вас есть особые инструкции по заказу, пожалуйста, укажите их на странице заказа.
- При заказе будет использоваться предотгрузочная инспекция.
- Вы можете проверить статус заказа в разделе «Мои заказы» вашего личного кабинета.
- Заказы не могут быть отменены после того, как посылка была отправлена. Узнать больше >
- работает как с физическими так и с юридическими лицами. Узнать больше >
- Все цены на сайте указаны с НДС 20%.
- Счета выставляются в валюте, оплата производится в рублях по курсу на день оплаты.
- Если вам нужен подробный счет-фактура или налоговый идентификатор, пожалуйста, напишите нам.
- После отправки товара в Россию доставка займет от 1 до 2 недель.
- Обработка Вашего заказа осуществляется только после оплаты счета.
- Номер для отслеживания будет выслан после отправки заказа. (Для отображения информации перевозчиком может потребоваться до 24 часов). Узнать больше >
- Тщательно проверено и упаковано компанией Чип воркер
- Вакуумная упаковка
- Антистатическая упаковка
- Антивибрационный пенопласт
- Контроль качества доходов, 800+ квалифицированных дистибьюторов.
- Авторитеты проверяют микросхему, чтобы гарантировать качество, подлинность и безопасность вашего устройства.
- Контроль декапсуляции
- Рентгеновский контроль
- XRF-инспекция
- Электрические испытания
- Тестирование поверхности