MC74HC595AN - ON Semiconductor

Изображения приведены только для примера, точные характеристики можно узнать из паспорта изделия.

Часть №

MC74HC595AN
Производитель

ON Semiconductor
Чип воркер Часть №

CW122188787
Категория

Регистр сдвига
Упаковка

DIP-16
Описание

Shift Register Single 8Bit Serial to Serial/Parallel 16Pin PDIP Rail
даташит

Datasheet

Способ оплаты и доставка

MC74HC595AN Глобальный поставщик

{{ supplierTable.supplier }}	{{ supplierTable.part }}	{{ supplierTable.availability }}	MOQ	{{ supplierTable.delivery_date }}

{{viewMore}}
{{viewMore}}
DigiKey	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
Arrow	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
Mouser	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
					{{submitRFQ}}

MC74HC595AN Регистр сдвига характеристики

Атрибут	Значение атрибута

Часть №	MC74HC595AN
Производитель	ON Semiconductor
Чип воркер Часть №	CW122188787
Категория	Регистр сдвига
даташит	Datasheet
Стиль Монтажа	Through Hole
Количество Выводов	16 Pin
Корпус/Пакет	DIP-16
Напряжение Питания (DC)	5.00 V, 6.00 V (max)
Количество Цепей	2 Circuit
Количество Битов	8 Bit
Рабочая температура (Макс)	125 ℃
Рабочая температура (мин)	-55 ℃
	Развернуть все
Ширина	6.85 mm
Высота	3.43 mm
Жизненный Цикл Продукта	Unknown
Упаковка	Tube
RoHS Комплаенс	Non-Compliant
Бессвинцовая Статус	Lead Free
ECCN кодекс	EAR99

MC74HC595AN Описание продукта

The MC74HC595A consists of an 8−bit shift register and an 8−bit D−type latch with three−state parallel outputs. The shift register accepts serial data and provides a serial output. The shift register also provides parallel data to the 8−bit latch. The shift register and latch have independent clock inputs. This device also has an asynchronous reset for the shift register.
The HC595A directly interfaces with the SPI serial data port on CMOS MPUs and MCUs.
Features
•Output Drive Capability: 15 LSTTL Loads
•Outputs Directly Interface to CMOS, NMOS, and TTL
•Operating Voltage Range: 2.0 to 6.0 V
•Low Input Current: 1.0 A
•High Noise Immunity Characteristic of CMOS Devices
•In Compliance with the Requirements Defined by JEDEC Standard No. 7A
•Chip Complexity: 328 FETs or 82 Equivalent Gates
•Improvements over HC595
− Improved Propagation Delays
− 50% Lower Quiescent Power
− Improved Input Noise and Latchup Immunity
•Pb−Free Packages are Available

Развернуть все

Доставка

CDEK

Itella

SHIPTOR

SPSR-EXPRESS

Чип воркер Квалификация

Информация для заказа

Заказ Оплата Доставка Пакет Обеспечение качества

Данные условия носят справочный характер, фактические условия зависят от предложения продавца.
- Пожалуйста, уточняйте технические характеристики продукции при заказе.
- MOQ - минимальное количество заказа, необходимое для приобретения каждой детали.
- Если у вас есть особые инструкции по заказу, пожалуйста, укажите их на странице заказа.
- При заказе будет использоваться предотгрузочная инспекция.
- Вы можете проверить статус заказа в разделе «Мои заказы» вашего личного кабинета.
- Заказы не могут быть отменены после того, как посылка была отправлена. Узнать больше >
- работает как с физическими так и с юридическими лицами. Узнать больше >
- Все цены на сайте указаны с НДС 20%.
- Счета выставляются в валюте, оплата производится в рублях по курсу на день оплаты.
- Если вам нужен подробный счет-фактура или налоговый идентификатор, пожалуйста, напишите нам.
- После отправки товара в Россию доставка займет от 1 до 2 недель.
- Обработка Вашего заказа осуществляется только после оплаты счета.
- Номер для отслеживания будет выслан после отправки заказа. (Для отображения информации перевозчиком может потребоваться до 24 часов). Узнать больше >
- Тщательно проверено и упаковано компанией Чип воркер
- Вакуумная упаковка
- Антистатическая упаковка
- Антивибрационный пенопласт
- Контроль качества доходов, 800+ квалифицированных дистибьюторов.
- Авторитеты проверяют микросхему, чтобы гарантировать качество, подлинность и безопасность вашего устройства.
- Контроль декапсуляции
- Рентгеновский контроль
- XRF-инспекция
- Электрические испытания
- Тестирование поверхности