MC74HC02ADG - ON Semiconductor

Изображения приведены только для примера, точные характеристики можно узнать из паспорта изделия.

Часть №

MC74HC02ADG
Производитель

ON Semiconductor
Чип воркер Часть №

CW2846946
Категория

Логический чип
Упаковка

SOIC-14
Описание

NOR Gate 4Element 2IN CMOS 14Pin SOIC Rail
даташит

Datasheet

Способ оплаты и доставка

MC74HC02ADG Глобальный поставщик

{{ supplierTable.supplier }}	{{ supplierTable.part }}	{{ supplierTable.availability }}	MOQ	{{ supplierTable.delivery_date }}

{{viewMore}}
{{viewMore}}
DigiKey	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
Arrow	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
Mouser	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
					{{submitRFQ}}

MC74HC02ADG Логический чип характеристики

Атрибут	Значение атрибута

Часть №	MC74HC02ADG
Производитель	ON Semiconductor
Чип воркер Часть №	CW2846946
Категория	Логический чип
даташит	Datasheet
Стиль Монтажа	Surface Mount
Количество Выводов	14 Pin
Корпус/Пакет	SOIC-14
Напряжение Питания (DC)	2.00V (min)
Рабочее Напряжение	2V ~ 6V
Ёмкость	10 pF
Безгалогеновый Статус	Halogen Free
Количество Выходных Интерфейсов	1 Output
Выходной Ток	5.2 mA
Ток Питания	40 μA
Количество Цепей	4 Circuit
Количество Стежков	14 Position
Рассеяние Мощности	0.5 W
Ток Покоя	1 µA
Количество Вентилей	4 Gate
Количество входов	2 Input
Рабочая температура (Макс)	125 ℃
Рабочая температура (мин)	-55 ℃
Напряжение питания	2V ~ 6V
Напряжение питания (Макс)	6 V
Напряжение питания (мин)	2 V
	Развернуть все
Длина	8.75 mm
Ширина	4 mm
Высота	1.5 mm
Рабочая Температура	-55℃ ~ 125℃
Жизненный Цикл Продукта	Active
Упаковка	Tube
RoHS Комплаенс	RoHS Compliant
Бессвинцовая Статус	Lead Free
REACH SVHC Комплаенс	No SVHC
REACH SVHC Compliance Edition	2015/12/17
ECCN кодекс	EAR99

MC74HC02ADG Описание продукта

The MC74HC02ADG is a high-performance Silicon-Gate CMOS based quad 2-input NOR Gate. The device is identical in pin out to the LS02. The device inputs are compatible with standard CMOS outputs, with pull-up resistors, they are compatible with LSTTL outputs.
10 LSTTL loads output drive capability
Outputs directly interface to CMOS, NMOS and TTL
1µA Low input current
High noise immunity characteristic of CMOS devices
In compliance with the JEDEC standard No.7A requirements
Chip complexity - 40 FETs or 10 equivalent gates

Развернуть все

Доставка

CDEK

Itella

SHIPTOR

SPSR-EXPRESS

Чип воркер Квалификация

Информация для заказа

Заказ Оплата Доставка Пакет Обеспечение качества

Данные условия носят справочный характер, фактические условия зависят от предложения продавца.
- Пожалуйста, уточняйте технические характеристики продукции при заказе.
- MOQ - минимальное количество заказа, необходимое для приобретения каждой детали.
- Если у вас есть особые инструкции по заказу, пожалуйста, укажите их на странице заказа.
- При заказе будет использоваться предотгрузочная инспекция.
- Вы можете проверить статус заказа в разделе «Мои заказы» вашего личного кабинета.
- Заказы не могут быть отменены после того, как посылка была отправлена. Узнать больше >
- работает как с физическими так и с юридическими лицами. Узнать больше >
- Все цены на сайте указаны с НДС 20%.
- Счета выставляются в валюте, оплата производится в рублях по курсу на день оплаты.
- Если вам нужен подробный счет-фактура или налоговый идентификатор, пожалуйста, напишите нам.
- После отправки товара в Россию доставка займет от 1 до 2 недель.
- Обработка Вашего заказа осуществляется только после оплаты счета.
- Номер для отслеживания будет выслан после отправки заказа. (Для отображения информации перевозчиком может потребоваться до 24 часов). Узнать больше >
- Тщательно проверено и упаковано компанией Чип воркер
- Вакуумная упаковка
- Антистатическая упаковка
- Антивибрационный пенопласт
- Контроль качества доходов, 800+ квалифицированных дистибьюторов.
- Авторитеты проверяют микросхему, чтобы гарантировать качество, подлинность и безопасность вашего устройства.
- Контроль декапсуляции
- Рентгеновский контроль
- XRF-инспекция
- Электрические испытания
- Тестирование поверхности