MC33153D - ON Semiconductor

Изображения приведены только для примера, точные характеристики можно узнать из паспорта изделия.

Часть №

MC33153D
Производитель

ON Semiconductor
Чип воркер Часть №

CW135435103
Категория

Драйвер FET
Упаковка

SOIC-8
Описание

Motor / Motion / Ignition Controllers & Drivers 1A Source/2A Sink
даташит

Datasheet

Способ оплаты и доставка

MC33153D Глобальный поставщик

{{ supplierTable.supplier }}	{{ supplierTable.part }}	{{ supplierTable.availability }}	MOQ	{{ supplierTable.delivery_date }}

{{viewMore}}
{{viewMore}}
DigiKey	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
Arrow	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
Mouser	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
					{{submitRFQ}}

MC33153D Драйвер FET характеристики

Атрибут	Значение атрибута

Часть №	MC33153D
Производитель	ON Semiconductor
Чип воркер Часть №	CW135435103
Категория	Драйвер FET
даташит	Datasheet
Стиль Монтажа	Surface Mount
Количество Выводов	8 Pin
Корпус/Пакет	SOIC-8
Напряжение Питания (DC)	15.0 V, 20.0 V (max)
Время Нарастания/Спада	17 ns
Количество Выходных Интерфейсов	1 Output
Рассеяние Мощности	560 mW
Рабочая температура (Макс)	105 ℃
Рабочая температура (мин)	40 ℃
Напряжение питания	11V ~ 20V
	Развернуть все
Рабочая Температура	-40℃ ~ 150℃ (TJ)
Жизненный Цикл Продукта	Unknown
Упаковка	Tube
RoHS Комплаенс	Non-Compliant
Бессвинцовая Статус	Contains Lead
ECCN кодекс	EAR99

MC33153D Описание продукта

The MC33153 is specifically designed as an IGBT driver for high power applications that include ac induction motor control, brushless dc motor control and uninterruptable power supplies. Although designed for driving discrete and module IGBTs, this device offers a cost effective solution for driving power MOSFETs and Bipolar Transistors. Device protection features include the choice of desaturation or overcurrent sensing and undervoltage detection. These devices are available in dual−in−line and surface mount packages.
Features
•High Current Output Stage: 1.0 A Source/2.0 A Sink
•Protection Circuits for Both Conventional and Sense IGBTs
•Programmable Fault Blanking Time
•Protection against Overcurrent and Short Circuit
•Undervoltage Lockout Optimized for IGBT’s
•Negative Gate Drive Capability
•Cost Effectively Drives Power MOSFETs and Bipolar Transistors
•Pb−Free Packages are Available

Развернуть все

Доставка

CDEK

Itella

SHIPTOR

SPSR-EXPRESS

Чип воркер Квалификация

Информация для заказа

Заказ Оплата Доставка Пакет Обеспечение качества

Данные условия носят справочный характер, фактические условия зависят от предложения продавца.
- Пожалуйста, уточняйте технические характеристики продукции при заказе.
- MOQ - минимальное количество заказа, необходимое для приобретения каждой детали.
- Если у вас есть особые инструкции по заказу, пожалуйста, укажите их на странице заказа.
- При заказе будет использоваться предотгрузочная инспекция.
- Вы можете проверить статус заказа в разделе «Мои заказы» вашего личного кабинета.
- Заказы не могут быть отменены после того, как посылка была отправлена. Узнать больше >
- работает как с физическими так и с юридическими лицами. Узнать больше >
- Все цены на сайте указаны с НДС 20%.
- Счета выставляются в валюте, оплата производится в рублях по курсу на день оплаты.
- Если вам нужен подробный счет-фактура или налоговый идентификатор, пожалуйста, напишите нам.
- После отправки товара в Россию доставка займет от 1 до 2 недель.
- Обработка Вашего заказа осуществляется только после оплаты счета.
- Номер для отслеживания будет выслан после отправки заказа. (Для отображения информации перевозчиком может потребоваться до 24 часов). Узнать больше >
- Тщательно проверено и упаковано компанией Чип воркер
- Вакуумная упаковка
- Антистатическая упаковка
- Антивибрационный пенопласт
- Контроль качества доходов, 800+ квалифицированных дистибьюторов.
- Авторитеты проверяют микросхему, чтобы гарантировать качество, подлинность и безопасность вашего устройства.
- Контроль декапсуляции
- Рентгеновский контроль
- XRF-инспекция
- Электрические испытания
- Тестирование поверхности