MC100EPT21 - ON Semiconductor

Изображения приведены только для примера, точные характеристики можно узнать из паспорта изделия.

Часть №

MC100EPT21
Производитель

ON Semiconductor
Чип воркер Часть №

CW327584966
RoHS

Lead free / RoHS Compliant
Описание

3.3V Differential LVPECL/LVDS/CML to LVTTL/LVCMOS Translator
даташит

Datasheet

Способ оплаты и доставка

MC100EPT21 Глобальный поставщик

{{ supplierTable.supplier }}	{{ supplierTable.part }}	{{ supplierTable.availability }}	MOQ	{{ supplierTable.delivery_date }}

{{viewMore}}
{{viewMore}}
DigiKey	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
Arrow	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
Mouser	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
					{{submitRFQ}}

MC100EPT21 характеристики

Атрибут	Значение атрибута

Часть №	MC100EPT21
Производитель	ON Semiconductor
Чип воркер Часть №	CW327584966
даташит	Datasheet
	Развернуть все
Жизненный Цикл Продукта	Unknown
RoHS Комплаенс	RoHS Compliant

MC100EPT21 Описание продукта

The MC100EPT21 is a Differential LVPECL/LVDS/CML to LVTTL/LVCMOS translator. Because LVPECL (Positive ECL), LVDS, and positive CML input levels and LVTTL/LVCMOS output levels are used, only +3.3 V and ground are required. The small outline 8−lead SOIC package makes the EPT21 ideal for applications which require the translation of a clock or data signal.
The VBB output allows this EPT21 to be cap coupled in either single−ended or differential input mode. When single−ended cap coupled, VBB output is tied to the D input and D is driven for a non−inverting buffer, or VBB output is tied to the D input and D is driven for an inverting buffer. When cap coupled differentially, VBB output is connected through a resistor to each input pin. If used, the VBB pin should be bypassed to VCC via a 0.01 μF capacitor. For additional information see AND8020/D. For a single−ended direct connection use an external voltage reference source such as a resistor divider. Do not use VBB for a single−ended direct connection or port to another device.
Features
• 1.4 ns Typical Propagation Delay
• Maximum Frequency > 275 MHz Typical
• LVPECL/LVDS/CML Inputs, LVTTL/LVCMOS Outputs
• 24 mA TTL outputs
• Operating Range: VCC = 3.0 V to 3.6 V with GND = 0 V
• The 100 Series Contains Temperature Compensation
• VBB Output
• Pb−Free Packages are Available

Развернуть все

Доставка

CDEK

Itella

SHIPTOR

SPSR-EXPRESS

Чип воркер Квалификация

Информация для заказа

Заказ Оплата Доставка Пакет Обеспечение качества

Данные условия носят справочный характер, фактические условия зависят от предложения продавца.
- Пожалуйста, уточняйте технические характеристики продукции при заказе.
- MOQ - минимальное количество заказа, необходимое для приобретения каждой детали.
- Если у вас есть особые инструкции по заказу, пожалуйста, укажите их на странице заказа.
- При заказе будет использоваться предотгрузочная инспекция.
- Вы можете проверить статус заказа в разделе «Мои заказы» вашего личного кабинета.
- Заказы не могут быть отменены после того, как посылка была отправлена. Узнать больше >
- работает как с физическими так и с юридическими лицами. Узнать больше >
- Все цены на сайте указаны с НДС 20%.
- Счета выставляются в валюте, оплата производится в рублях по курсу на день оплаты.
- Если вам нужен подробный счет-фактура или налоговый идентификатор, пожалуйста, напишите нам.
- После отправки товара в Россию доставка займет от 1 до 2 недель.
- Обработка Вашего заказа осуществляется только после оплаты счета.
- Номер для отслеживания будет выслан после отправки заказа. (Для отображения информации перевозчиком может потребоваться до 24 часов). Узнать больше >
- Тщательно проверено и упаковано компанией Чип воркер
- Вакуумная упаковка
- Антистатическая упаковка
- Антивибрационный пенопласт
- Контроль качества доходов, 800+ квалифицированных дистибьюторов.
- Авторитеты проверяют микросхему, чтобы гарантировать качество, подлинность и безопасность вашего устройства.
- Контроль декапсуляции
- Рентгеновский контроль
- XRF-инспекция
- Электрические испытания
- Тестирование поверхности