LT1358 - Linear Technology

Изображения приведены только для примера, точные характеристики можно узнать из паспорта изделия.

Часть №

LT1358
Производитель

Linear Technology
Чип воркер Часть №

CW543623366
RoHS

Lead free / RoHS Compliant
Описание

Dual and Quad 25MHz, 600V/us Op Amps
даташит

Datasheet

Способ оплаты и доставка

LT1358 Глобальный поставщик

{{ supplierTable.supplier }}	{{ supplierTable.part }}	{{ supplierTable.availability }}	MOQ	{{ supplierTable.delivery_date }}

{{viewMore}}
{{viewMore}}
DigiKey	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
Arrow	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
Mouser	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
					{{submitRFQ}}

LT1358 характеристики

Атрибут	Значение атрибута

Часть №	LT1358
Производитель	Linear Technology
Чип воркер Часть №	CW543623366
даташит	Datasheet
	Развернуть все
RoHS Комплаенс	RoHS Compliant
Бессвинцовая Статус	Lead Free

LT1358 Описание продукта

DESCRIPTION
The LT® 1357 is a high speed, very high slew rate operational amplifier with outstanding AC and DC performance. The LT1357 has much lower supply current, lower input offset voltage, lower input bias current, and higher DC gain than devices with comparable bandwidth. The circuit
topology is a voltage feedback amplifier with the slewing characteristics of a current feedback amplifier. The amplifier is a single gain stage with outstanding settling characteristics which makes the circuit an ideal choice for data acquisition systems. The output drives a 500Ωload to ±12V with ±15V supplies and a 150Ω load to ±2.5V on ±5V supplies. The amplifier is also stable with any capacitive load which makes it useful in buffer or cable driver applications.
FEATURES
■ 25MHz Gain Bandwidth
■ 600V/µs Slew Rate
■ 2.5mA Maximum Supply Current
■ Unity-Gain Stable
■ C-Load
TM
Op Amp Drives All Capacitive Loads
■ 8nV/√Hz Input Noise Voltage
■ 600µV Maximum Input Offset Voltage
■ 500nA Maximum Input Bias Current
■ 120nA Maximum Input Offset Current
■ 20V/mV Minimum DC Gain, RL=1k
■ 115ns Settling Time to 0.1%, 10V Step
■ 220ns Settling Time to 0.01%, 10V Step
■ ±12V Minimum Output Swing into 500Ω
■ ±2.5V Minimum Output Swing into 150Ω
■ Specified at ±2.5V, ±5V, and ±15V
APPLICATIONS
■ Wideband Amplifiers
■ Buffers
■ Active Filters
■ Data Acquisition Systems
■ Photodiode Amplifiers

Развернуть все

Доставка

CDEK

Itella

SHIPTOR

SPSR-EXPRESS

Чип воркер Квалификация

Информация для заказа

Заказ Оплата Доставка Пакет Обеспечение качества

Данные условия носят справочный характер, фактические условия зависят от предложения продавца.
- Пожалуйста, уточняйте технические характеристики продукции при заказе.
- MOQ - минимальное количество заказа, необходимое для приобретения каждой детали.
- Если у вас есть особые инструкции по заказу, пожалуйста, укажите их на странице заказа.
- При заказе будет использоваться предотгрузочная инспекция.
- Вы можете проверить статус заказа в разделе «Мои заказы» вашего личного кабинета.
- Заказы не могут быть отменены после того, как посылка была отправлена. Узнать больше >
- работает как с физическими так и с юридическими лицами. Узнать больше >
- Все цены на сайте указаны с НДС 20%.
- Счета выставляются в валюте, оплата производится в рублях по курсу на день оплаты.
- Если вам нужен подробный счет-фактура или налоговый идентификатор, пожалуйста, напишите нам.
- После отправки товара в Россию доставка займет от 1 до 2 недель.
- Обработка Вашего заказа осуществляется только после оплаты счета.
- Номер для отслеживания будет выслан после отправки заказа. (Для отображения информации перевозчиком может потребоваться до 24 часов). Узнать больше >
- Тщательно проверено и упаковано компанией Чип воркер
- Вакуумная упаковка
- Антистатическая упаковка
- Антивибрационный пенопласт
- Контроль качества доходов, 800+ квалифицированных дистибьюторов.
- Авторитеты проверяют микросхему, чтобы гарантировать качество, подлинность и безопасность вашего устройства.
- Контроль декапсуляции
- Рентгеновский контроль
- XRF-инспекция
- Электрические испытания
- Тестирование поверхности