LMV7275IDCKRQ1 - TI

Изображения приведены только для примера, точные характеристики можно узнать из паспорта изделия.

Часть №

LMV7275IDCKRQ1
Производитель

TI
Чип воркер Часть №

CW57227214
Категория

Компаратор
Упаковка

SC-70-5
Описание

Comparator Single R-R I/P ±2.75V/5.5V Automotive 5Pin SC-70
даташит

Datasheet

Способ оплаты и доставка

LMV7275IDCKRQ1 Глобальный поставщик

{{ supplierTable.supplier }}	{{ supplierTable.part }}	{{ supplierTable.availability }}	MOQ	{{ supplierTable.delivery_date }}

{{viewMore}}
{{viewMore}}
DigiKey	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
Arrow	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
Mouser	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
					{{submitRFQ}}

LMV7275IDCKRQ1 Компаратор характеристики

Атрибут	Значение атрибута

Часть №	LMV7275IDCKRQ1
Производитель	TI
Чип воркер Часть №	CW57227214
Категория	Компаратор
даташит	Datasheet
Стиль Монтажа	Surface Mount
Количество Выводов	5 Pin
Корпус/Пакет	SC-70-5
Выходной Ток	34 mA
Ток Питания	0.014 mA
Количество Каналов	1 Channel
Коэффициент Ослабления Синфазного Сигнала	78 dB
Входное Напряжение Смещения	4 mV
Рабочая температура (Макс)	85 ℃
Рабочая температура (мин)	40 ℃
Напряжение питания (Макс)	5.5 V
Напряжение питания (мин)	1.8 V
	Развернуть все
Длина	2.15 mm
Ширина	1.4 mm
Высота	1.1 mm
Рабочая Температура	-40℃ ~ 85℃
Жизненный Цикл Продукта	Active
Упаковка	Tape & Reel (TR)
RoHS Комплаенс	RoHS Compliant
Бессвинцовая Статус	Lead Free

LMV7275IDCKRQ1 Описание продукта

The LMV7275-Q1 is a single rail-to-rail input low power comparator, characterized at supply voltages of 1.8 V, 2.7 V, and 5 V. It consumes as little as 9-µA supply current per channel while achieving a 800-ns propagation delay.
The LMV7275-Q1 is available in a SC-70 package. With these tiny packages, the PCB area can be significantly reduced. They are ideal for low voltage, low power, and space-critical designs.
The LMV7275-Q1 features an open-drain output stage that allows for wired-OR configurations. The open-drain output also offers the advantage of allowing the output to be pulled to any voltage up to 5.5 V, regardless of the supply voltage of the LMV7275-Q1, which is useful for level-shifting applications.
The LMV7275-Q1 is built with Texas Instruments" advance submicron silicon-gate BiCMOS process. It has bipolar inputs for improved noise performance, and CMOS outputs for lowest negative output swing.

Развернуть все

Доставка

CDEK

Itella

SHIPTOR

SPSR-EXPRESS

Чип воркер Квалификация

Информация для заказа

Заказ Оплата Доставка Пакет Обеспечение качества

Данные условия носят справочный характер, фактические условия зависят от предложения продавца.
- Пожалуйста, уточняйте технические характеристики продукции при заказе.
- MOQ - минимальное количество заказа, необходимое для приобретения каждой детали.
- Если у вас есть особые инструкции по заказу, пожалуйста, укажите их на странице заказа.
- При заказе будет использоваться предотгрузочная инспекция.
- Вы можете проверить статус заказа в разделе «Мои заказы» вашего личного кабинета.
- Заказы не могут быть отменены после того, как посылка была отправлена. Узнать больше >
- работает как с физическими так и с юридическими лицами. Узнать больше >
- Все цены на сайте указаны с НДС 20%.
- Счета выставляются в валюте, оплата производится в рублях по курсу на день оплаты.
- Если вам нужен подробный счет-фактура или налоговый идентификатор, пожалуйста, напишите нам.
- После отправки товара в Россию доставка займет от 1 до 2 недель.
- Обработка Вашего заказа осуществляется только после оплаты счета.
- Номер для отслеживания будет выслан после отправки заказа. (Для отображения информации перевозчиком может потребоваться до 24 часов). Узнать больше >
- Тщательно проверено и упаковано компанией Чип воркер
- Вакуумная упаковка
- Антистатическая упаковка
- Антивибрационный пенопласт
- Контроль качества доходов, 800+ квалифицированных дистибьюторов.
- Авторитеты проверяют микросхему, чтобы гарантировать качество, подлинность и безопасность вашего устройства.
- Контроль декапсуляции
- Рентгеновский контроль
- XRF-инспекция
- Электрические испытания
- Тестирование поверхности