LM2903P - TI

Изображения приведены только для примера, точные характеристики можно узнать из паспорта изделия.

Часть №

LM2903P
Производитель

TI
Чип воркер Часть №

CW1717282
Категория

Компаратор
Упаковка

DIP-8
Описание

Analogue Comparator, Dual, Differential, 2, 1.3µs, 2V to 36V, ± 1V to ± 18V, DIP, 8Pins
даташит

Datasheet

Способ оплаты и доставка

LM2903P Глобальный поставщик

{{ supplierTable.supplier }}	{{ supplierTable.part }}	{{ supplierTable.availability }}	MOQ	{{ supplierTable.delivery_date }}

{{viewMore}}
{{viewMore}}
DigiKey	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
Arrow	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
Mouser	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
					{{submitRFQ}}

LM2903P Компаратор характеристики

Атрибут	Значение атрибута

Часть №	LM2903P
Производитель	TI
Чип воркер Часть №	CW1717282
Категория	Компаратор
даташит	Datasheet
Стиль Монтажа	Through Hole
Количество Выводов	8 Pin
Корпус/Пакет	DIP-8
Напряжение Питания (DC)	2.00V (min)
Рабочее Напряжение	2V ~ 36V
Выходной Ток	20 mA
Ток Питания	1 mA
Количество Цепей	2 Circuit
Количество Каналов	2 Channel
Количество Стежков	8 Position
Ток Покоя	800 µA
Входное Напряжение Смещения	7 mV
Входной Ток Смещения	250 nA
Рабочая температура (Макс)	125 ℃
Рабочая температура (мин)	-40 ℃
Напряжение питания	2V ~ 36V
	Развернуть все
Длина	9.81 mm
Ширина	6.35 mm
Высота	4.57 mm
Рабочая Температура	-40℃ ~ 125℃
Жизненный Цикл Продукта	Active
Упаковка	Tube
RoHS Комплаенс	RoHS Compliant
Бессвинцовая Статус	Lead Free
REACH SVHC Комплаенс	No SVHC
ECCN кодекс	EAR99
Лицензия HK STC	NLR

LM2903P Описание продукта

The LM2903P is a Dual Differential Comparator designed to operate from a single power supply over a wide range of voltages. Operation from dual supplies also is possible as long as the difference between the two supplies is 2 to 36V and VCC is at least 1.5V more positive than the input common-mode voltage. Current drain is independent of the supply voltage. The outputs can be connected to other open-collector outputs to achieve wired-AND relationships.
Low supply-current drain independent of supply voltage - 0.4mA per comparator
Common-mode input voltage range includes ground
±36V Differential input voltage range equal to maximum-rated supply voltage
Low output saturation voltage
Output compatible with TTL, MOS and CMOS

Развернуть все

Доставка

CDEK

Itella

SHIPTOR

SPSR-EXPRESS

Чип воркер Квалификация

Информация для заказа

Заказ Оплата Доставка Пакет Обеспечение качества

Данные условия носят справочный характер, фактические условия зависят от предложения продавца.
- Пожалуйста, уточняйте технические характеристики продукции при заказе.
- MOQ - минимальное количество заказа, необходимое для приобретения каждой детали.
- Если у вас есть особые инструкции по заказу, пожалуйста, укажите их на странице заказа.
- При заказе будет использоваться предотгрузочная инспекция.
- Вы можете проверить статус заказа в разделе «Мои заказы» вашего личного кабинета.
- Заказы не могут быть отменены после того, как посылка была отправлена. Узнать больше >
- работает как с физическими так и с юридическими лицами. Узнать больше >
- Все цены на сайте указаны с НДС 20%.
- Счета выставляются в валюте, оплата производится в рублях по курсу на день оплаты.
- Если вам нужен подробный счет-фактура или налоговый идентификатор, пожалуйста, напишите нам.
- После отправки товара в Россию доставка займет от 1 до 2 недель.
- Обработка Вашего заказа осуществляется только после оплаты счета.
- Номер для отслеживания будет выслан после отправки заказа. (Для отображения информации перевозчиком может потребоваться до 24 часов). Узнать больше >
- Тщательно проверено и упаковано компанией Чип воркер
- Вакуумная упаковка
- Антистатическая упаковка
- Антивибрационный пенопласт
- Контроль качества доходов, 800+ квалифицированных дистибьюторов.
- Авторитеты проверяют микросхему, чтобы гарантировать качество, подлинность и безопасность вашего устройства.
- Контроль декапсуляции
- Рентгеновский контроль
- XRF-инспекция
- Электрические испытания
- Тестирование поверхности