LM2901PW - TI

Изображения приведены только для примера, точные характеристики можно узнать из паспорта изделия.

Часть №

LM2901PW
Производитель

TI
Чип воркер Часть №

CW8608367
Категория

Компаратор
Упаковка

TSSOP-14
Описание

TEXAS INSTRUMENTS LM2901PW Analog Comparator, Quad, Differential, 4, 300ns, 2V to 36V, TSSOP, 14Pins
даташит

Datasheet

Способ оплаты и доставка

LM2901PW Глобальный поставщик

{{ supplierTable.supplier }}	{{ supplierTable.part }}	{{ supplierTable.availability }}	MOQ	{{ supplierTable.delivery_date }}

{{viewMore}}
{{viewMore}}
DigiKey	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
Arrow	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
Mouser	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
					{{submitRFQ}}

LM2901PW Компаратор характеристики

Атрибут	Значение атрибута

Часть №	LM2901PW
Производитель	TI
Чип воркер Часть №	CW8608367
Категория	Компаратор
даташит	Datasheet
Стиль Монтажа	Surface Mount
Количество Выводов	14 Pin
Корпус/Пакет	TSSOP-14
Напряжение Питания (DC)	2.00V (min)
Выходной Ток	20 mA
Ток Питания	2 mA
Количество Цепей	4 Circuit
Количество Каналов	4 Channel
Количество Стежков	14 Position
Входное Напряжение Смещения	7 mV
Входной Ток Смещения	250 nA
Рабочая температура (Макс)	125 ℃
Рабочая температура (мин)	-40 ℃
Напряжение питания	2V ~ 36V
	Развернуть все
Длина	5 mm
Ширина	4.4 mm
Высота	1.15 mm
Рабочая Температура	-40℃ ~ 125℃
Жизненный Цикл Продукта	Active
Упаковка	Tube
RoHS Комплаенс	RoHS Compliant
Бессвинцовая Статус	Lead Free
REACH SVHC Комплаенс	No SVHC
REACH SVHC Compliance Edition	2015/06/15

LM2901PW Описание продукта

The LM2901PW is a Quad Differential Comparator designed to operate from a single power supply over a wide range of voltages. Operation from dual supplies also is possible, as long as the difference between the two supplies is 2 to 36V and VCC is at least 1.5V more positive than the input common-mode voltage. Current drain is independent of the supply voltage. The outputs can be connected to other open-collector outputs to achieve wired-AND relationships.
0.8mA Low supply-current drain independent of supply voltage
Common-mode input voltage range includes ground
±36V Differential input voltage range equal to maximum-rated supply voltage
Low output saturation voltage
Output compatible with TTL, MOS and CMOS
Green product and no Sb/Br

Развернуть все

Доставка

CDEK

Itella

SHIPTOR

SPSR-EXPRESS

Чип воркер Квалификация

Информация для заказа

Заказ Оплата Доставка Пакет Обеспечение качества

Данные условия носят справочный характер, фактические условия зависят от предложения продавца.
- Пожалуйста, уточняйте технические характеристики продукции при заказе.
- MOQ - минимальное количество заказа, необходимое для приобретения каждой детали.
- Если у вас есть особые инструкции по заказу, пожалуйста, укажите их на странице заказа.
- При заказе будет использоваться предотгрузочная инспекция.
- Вы можете проверить статус заказа в разделе «Мои заказы» вашего личного кабинета.
- Заказы не могут быть отменены после того, как посылка была отправлена. Узнать больше >
- работает как с физическими так и с юридическими лицами. Узнать больше >
- Все цены на сайте указаны с НДС 20%.
- Счета выставляются в валюте, оплата производится в рублях по курсу на день оплаты.
- Если вам нужен подробный счет-фактура или налоговый идентификатор, пожалуйста, напишите нам.
- После отправки товара в Россию доставка займет от 1 до 2 недель.
- Обработка Вашего заказа осуществляется только после оплаты счета.
- Номер для отслеживания будет выслан после отправки заказа. (Для отображения информации перевозчиком может потребоваться до 24 часов). Узнать больше >
- Тщательно проверено и упаковано компанией Чип воркер
- Вакуумная упаковка
- Антистатическая упаковка
- Антивибрационный пенопласт
- Контроль качества доходов, 800+ квалифицированных дистибьюторов.
- Авторитеты проверяют микросхему, чтобы гарантировать качество, подлинность и безопасность вашего устройства.
- Контроль декапсуляции
- Рентгеновский контроль
- XRF-инспекция
- Электрические испытания
- Тестирование поверхности