LF253DT - ST Microelectronics

Изображения приведены только для примера, точные характеристики можно узнать из паспорта изделия.

Часть №

LF253DT
Производитель

ST Microelectronics
Чип воркер Часть №

CW4798571
Категория

Буферный усилитель
Упаковка

SOIC-8
Описание

IC OPAMP JFET 4MHz 8SO
даташит

Datasheet

Способ оплаты и доставка

LF253DT Глобальный поставщик

{{ supplierTable.supplier }}	{{ supplierTable.part }}	{{ supplierTable.availability }}	MOQ	{{ supplierTable.delivery_date }}

{{viewMore}}
{{viewMore}}
DigiKey	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
Arrow	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
Mouser	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
					{{submitRFQ}}

LF253DT Буферный усилитель характеристики

Атрибут	Значение атрибута

Часть №	LF253DT
Производитель	ST Microelectronics
Чип воркер Часть №	CW4798571
Категория	Буферный усилитель
даташит	Datasheet
Стиль Монтажа	Surface Mount
Количество Выводов	8 Pin
Корпус/Пакет	SOIC-8
Ток Питания	1.4 mA
Количество Цепей	2 Circuit
Количество Каналов	2 Channel
Количество Стежков	8 Position
Рассеяние Мощности	0.68 W
Коэффициент Ослабления Синфазного Сигнала	70 dB
Ширина Ленты	4 MHz
Скорость Нарастания	16.0 V/μs
Произведение Коэффициента Усиления на Ширину Полосы Пропускания	4 MHz
Входное Напряжение Смещения	3 mV
Входной Ток Смещения	20 pA
Рабочая температура (Макс)	105 ℃
Рабочая температура (мин)	-40 ℃
Gain Bandwidth	4 MHz
Рассеиваемая Мощность (Макс)	680 mW
Минимальный диапазон CMRR	70 dB
Напряжение питания	6V ~ 36V
	Развернуть все
Ширина	4 mm
Рабочая Температура	-40℃ ~ 105℃
Жизненный Цикл Продукта	Active
Упаковка	Tape & Reel (TR)
RoHS Комплаенс	RoHS Compliant
Бессвинцовая Статус	Lead Free
ECCN кодекс	EAR99

LF253DT Описание продукта

These circuits are high speed JFET input dual operational amplifiers incorporating well matched, high voltage JFET and bipolar transistors in a monolithic integrated circuit.
The devices feature high slew rates, low input bias and offset currents, and low offset voltage temperature coefficient.
**Key Features**
Latch up free operation
Internal frequency compensation
Low power consumption
Low input bias and offset current
Wide common-mode (up to VCC +) and differential voltage range
High input impedance JFET input stage
High slew rate 16 V/µs (typical)
Output short-circuit protection

Развернуть все

Доставка

CDEK

Itella

SHIPTOR

SPSR-EXPRESS

Чип воркер Квалификация

Информация для заказа

Заказ Оплата Доставка Пакет Обеспечение качества

Данные условия носят справочный характер, фактические условия зависят от предложения продавца.
- Пожалуйста, уточняйте технические характеристики продукции при заказе.
- MOQ - минимальное количество заказа, необходимое для приобретения каждой детали.
- Если у вас есть особые инструкции по заказу, пожалуйста, укажите их на странице заказа.
- При заказе будет использоваться предотгрузочная инспекция.
- Вы можете проверить статус заказа в разделе «Мои заказы» вашего личного кабинета.
- Заказы не могут быть отменены после того, как посылка была отправлена. Узнать больше >
- работает как с физическими так и с юридическими лицами. Узнать больше >
- Все цены на сайте указаны с НДС 20%.
- Счета выставляются в валюте, оплата производится в рублях по курсу на день оплаты.
- Если вам нужен подробный счет-фактура или налоговый идентификатор, пожалуйста, напишите нам.
- После отправки товара в Россию доставка займет от 1 до 2 недель.
- Обработка Вашего заказа осуществляется только после оплаты счета.
- Номер для отслеживания будет выслан после отправки заказа. (Для отображения информации перевозчиком может потребоваться до 24 часов). Узнать больше >
- Тщательно проверено и упаковано компанией Чип воркер
- Вакуумная упаковка
- Антистатическая упаковка
- Антивибрационный пенопласт
- Контроль качества доходов, 800+ квалифицированных дистибьюторов.
- Авторитеты проверяют микросхему, чтобы гарантировать качество, подлинность и безопасность вашего устройства.
- Контроль декапсуляции
- Рентгеновский контроль
- XRF-инспекция
- Электрические испытания
- Тестирование поверхности