ISO122JU - TI

Изображения приведены только для примера, точные характеристики можно узнать из паспорта изделия.

Часть №

ISO122JU
Производитель

TI
Чип воркер Часть №

CW20723103
Категория

Буферный усилитель
Упаковка

SOIC-28
Описание

Isolation Amplifier, Precision, 4 Amplifier, 50mV, 1500Vrms, ± 4.5V to ± 18V, SOIC, 8Pins
даташит

Datasheet

Способ оплаты и доставка

ISO122JU Глобальный поставщик

{{ supplierTable.supplier }}	{{ supplierTable.part }}	{{ supplierTable.availability }}	MOQ	{{ supplierTable.delivery_date }}

{{viewMore}}
{{viewMore}}
DigiKey	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
Arrow	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
Mouser	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
					{{submitRFQ}}

ISO122JU Буферный усилитель характеристики

Атрибут	Значение атрибута

Часть №	ISO122JU
Производитель	TI
Чип воркер Часть №	CW20723103
Категория	Буферный усилитель
даташит	Datasheet
Стиль Монтажа	Surface Mount
Количество Выводов	8 Pin
Корпус/Пакет	SOIC-28
Ток Питания	5 mA
Количество Цепей	1 Circuit
Количество Каналов	1 Channel
Количество Стежков	8 Position
Коэффициент Ослабления Синфазного Сигнала	140 dB
Ширина Ленты	50 kHz
Скорость Нарастания	2.00 V/μs
Напряжение Изоляции	1500 Vrms
Входное Напряжение Смещения	50 mV
Рабочая температура (Макс)	85 ℃
Рабочая температура (мин)	-25 ℃
Полоса пропускания 3 дБ	50 kHz
Напряжение питания (Макс)	30V ~ 50V
Напряжение питания (мин)	4.5 V
	Развернуть все
Рабочая Температура	-25℃ ~ 85℃
Жизненный Цикл Продукта	Active
Упаковка	Tube
RoHS Комплаенс	RoHS Compliant
Бессвинцовая Статус	Lead Free

ISO122JU Описание продукта

DESCRIPTION
The ISO122 is a precision isolation amplifier incor porating a novel duty cycle modulation-demodulation technique. The signal is transmitted digitally across a 2pF differential capacitive barrier. With digital modulation the barrier characteristics do not affect signal integrity, resulting in excellent reliability and good high frequency transient immunity across the barrier. Both barrier capacitors are imbedded in the plastic body of the package.
FEATURES
●100% TESTED FOR HIGH-VOLTAGE BREAKDOWN
●RATED 1500Vrms
●HIGH IMR: 140dB at 60Hz
●BIPOLAR OPERATION: VO = ±10V
●16-PIN PLASTIC DIP AND 28-LEAD SOIC
●EASE OF USE: Fixed Unity Gain Configuration
●0.020% max NONLINEARITY
●±4.5V to ±18V SUPPLY RANGE

Развернуть все

Доставка

CDEK

Itella

SHIPTOR

SPSR-EXPRESS

Чип воркер Квалификация

Информация для заказа

Заказ Оплата Доставка Пакет Обеспечение качества

Данные условия носят справочный характер, фактические условия зависят от предложения продавца.
- Пожалуйста, уточняйте технические характеристики продукции при заказе.
- MOQ - минимальное количество заказа, необходимое для приобретения каждой детали.
- Если у вас есть особые инструкции по заказу, пожалуйста, укажите их на странице заказа.
- При заказе будет использоваться предотгрузочная инспекция.
- Вы можете проверить статус заказа в разделе «Мои заказы» вашего личного кабинета.
- Заказы не могут быть отменены после того, как посылка была отправлена. Узнать больше >
- работает как с физическими так и с юридическими лицами. Узнать больше >
- Все цены на сайте указаны с НДС 20%.
- Счета выставляются в валюте, оплата производится в рублях по курсу на день оплаты.
- Если вам нужен подробный счет-фактура или налоговый идентификатор, пожалуйста, напишите нам.
- После отправки товара в Россию доставка займет от 1 до 2 недель.
- Обработка Вашего заказа осуществляется только после оплаты счета.
- Номер для отслеживания будет выслан после отправки заказа. (Для отображения информации перевозчиком может потребоваться до 24 часов). Узнать больше >
- Тщательно проверено и упаковано компанией Чип воркер
- Вакуумная упаковка
- Антистатическая упаковка
- Антивибрационный пенопласт
- Контроль качества доходов, 800+ квалифицированных дистибьюторов.
- Авторитеты проверяют микросхему, чтобы гарантировать качество, подлинность и безопасность вашего устройства.
- Контроль декапсуляции
- Рентгеновский контроль
- XRF-инспекция
- Электрические испытания
- Тестирование поверхности