IR3541MTRPBF - Infineon

Изображения приведены только для примера, точные характеристики можно узнать из паспорта изделия.

Часть №

IR3541MTRPBF
Производитель

Infineon
Чип воркер Часть №

CW82360261
Категория

Контрольный чип источника питания
Упаковка

QFN-40
Описание

INFINEON IR3541MTRPBF PWM Controller, 3.3V supply, 1.2MHz, QFN-40
даташит

Datasheet

Способ оплаты и доставка

IR3541MTRPBF Глобальный поставщик

{{ supplierTable.supplier }}	{{ supplierTable.part }}	{{ supplierTable.availability }}	MOQ	{{ supplierTable.delivery_date }}

{{viewMore}}
{{viewMore}}
DigiKey	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
Arrow	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
Mouser	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
					{{submitRFQ}}

IR3541MTRPBF Контрольный чип источника питания характеристики

Атрибут	Значение атрибута

Часть №	IR3541MTRPBF
Производитель	Infineon
Чип воркер Часть №	CW82360261
Категория	Контрольный чип источника питания
даташит	Datasheet
Стиль Монтажа	Surface Mount
Количество Выводов	40 Pin
Корпус/Пакет	QFN-40
Частота	1.2 MHz
Напряжение Питания (DC)	3.30V (max)
Количество Выходных Интерфейсов	2 Output
Количество Стежков	40 Position
Рабочая температура (Макс)	85 ℃
Рабочая температура (мин)	-20 ℃
Напряжение питания (Макс)	3.3 V
Входное напряжение	3.3 V
	Развернуть все
Рабочая Температура	-20℃ ~ 85℃
Жизненный Цикл Продукта	Active
Упаковка	Cut Tape (CT)
RoHS Комплаенс	Compliant with Exemption
Бессвинцовая Статус	Lead Free
REACH SVHC Compliance Edition	2015/12/17
ECCN кодекс	EAR99

IR3541MTRPBF Описание продукта

Benefits:
5-phase dual output PWM Controller
Phases are flexibly assigned between Loops 1 and 2
Intel® VR12, AMD® SVI/G34 and Memory modes
Switching frequency from 200kHz to 1.2MHz per phase
Efficiency Shaping Features including Variable Gate Drive and Dynamic Phase Control
Programmable 1-phase or 2-phase for Light Loads Adaptive Transient Algorithm (ATA) on both loops minimizes output bulk capacitors and system cost
Auto-Phase Detection with auto-compensation
Per-Loop Fault Protection: OVP, UVP, OCP, OTP, CFP
I2C/SMBus/PMBus system interface for telemetry
Non-Volatile Memory (NVM) for custom configuration
Compatible with Active Tri-Level (ATL) and 3.3V tri-state Drivers
+3.3V supply voltage 0°C to 85°C ambient operation
Pb-Free, RoHS, 6x6 40 pin QFN package

Развернуть все

Доставка

CDEK

Itella

SHIPTOR

SPSR-EXPRESS

Чип воркер Квалификация

Информация для заказа

Заказ Оплата Доставка Пакет Обеспечение качества

Данные условия носят справочный характер, фактические условия зависят от предложения продавца.
- Пожалуйста, уточняйте технические характеристики продукции при заказе.
- MOQ - минимальное количество заказа, необходимое для приобретения каждой детали.
- Если у вас есть особые инструкции по заказу, пожалуйста, укажите их на странице заказа.
- При заказе будет использоваться предотгрузочная инспекция.
- Вы можете проверить статус заказа в разделе «Мои заказы» вашего личного кабинета.
- Заказы не могут быть отменены после того, как посылка была отправлена. Узнать больше >
- работает как с физическими так и с юридическими лицами. Узнать больше >
- Все цены на сайте указаны с НДС 20%.
- Счета выставляются в валюте, оплата производится в рублях по курсу на день оплаты.
- Если вам нужен подробный счет-фактура или налоговый идентификатор, пожалуйста, напишите нам.
- После отправки товара в Россию доставка займет от 1 до 2 недель.
- Обработка Вашего заказа осуществляется только после оплаты счета.
- Номер для отслеживания будет выслан после отправки заказа. (Для отображения информации перевозчиком может потребоваться до 24 часов). Узнать больше >
- Тщательно проверено и упаковано компанией Чип воркер
- Вакуумная упаковка
- Антистатическая упаковка
- Антивибрационный пенопласт
- Контроль качества доходов, 800+ квалифицированных дистибьюторов.
- Авторитеты проверяют микросхему, чтобы гарантировать качество, подлинность и безопасность вашего устройства.
- Контроль декапсуляции
- Рентгеновский контроль
- XRF-инспекция
- Электрические испытания
- Тестирование поверхности