INA271AQDRQ1 - TI

Изображения приведены только для примера, точные характеристики можно узнать из паспорта изделия.

Часть №

INA271AQDRQ1
Производитель

TI
Чип воркер Часть №

CW6198957
Категория

Операционный усилитель
Упаковка

SOIC-8
Описание

TEXAS INSTRUMENTS INA271AQDRQ1 Current Sense Amplifier, Unidirectional, 3 Amplifier, 16µA, SOIC, 8Pins, -40℃, 125℃
даташит

Datasheet

Способ оплаты и доставка

INA271AQDRQ1 Глобальный поставщик

{{ supplierTable.supplier }}	{{ supplierTable.part }}	{{ supplierTable.availability }}	MOQ	{{ supplierTable.delivery_date }}

{{viewMore}}
{{viewMore}}
DigiKey	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
Arrow	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
Mouser	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
					{{submitRFQ}}

INA271AQDRQ1 Операционный усилитель характеристики

Атрибут	Значение атрибута

Часть №	INA271AQDRQ1
Производитель	TI
Чип воркер Часть №	CW6198957
Категория	Операционный усилитель
даташит	Datasheet
Стиль Монтажа	Surface Mount
Количество Выводов	8 Pin
Корпус/Пакет	SOIC-8
Напряжение Питания (DC)	2.70V (min)
Ток Питания	700 µA
Количество Каналов	1 Channel
Коэффициент Ослабления Синфазного Сигнала	120 dB
Ширина Ленты	130 kHz
Скорость Нарастания	1.00 V/μs
Входное Напряжение Смещения	2.5 mV
Входной Ток Смещения	16 µA
Рабочая температура (Макс)	125 ℃
Рабочая температура (мин)	-40 ℃
точность	±1 %
Напряжение питания (Макс)	18 V
Напряжение питания (мин)	2.7 V
	Развернуть все
Рабочая Температура	-40℃ ~ 125℃
Жизненный Цикл Продукта	Active
Упаковка	Tape & Reel (TR)
RoHS Комплаенс	RoHS Compliant
Бессвинцовая Статус	Lead Free
REACH SVHC Compliance Edition	2015/06/15

INA271AQDRQ1 Описание продукта

The INA270A-Q1 and INA271A-Q1 (INA27xA-Q1) family of current-shunt monitors with voltage output can sense voltage drops across current shunts at common-mode voltages from –16 V to +80 V, independent of the supply voltage. The INA27xA-Q1 pinouts readily enable filtering.
The INA27xA-Q1 devices are available with two output voltage scales: 14 V/V and 20 V/V. The 130-kHz bandwidth simplifies use in current-control loops.
The INA27xA-Q1 operates from a single 2.7-V to 18-V supply, drawing a maximum of 900 µA of supply current. They are specified over the extended operating temperature range of –40°C to +125°C and are offered in an SOIC-8 package.

Развернуть все

Доставка

CDEK

Itella

SHIPTOR

SPSR-EXPRESS

Чип воркер Квалификация

Информация для заказа

Заказ Оплата Доставка Пакет Обеспечение качества

Данные условия носят справочный характер, фактические условия зависят от предложения продавца.
- Пожалуйста, уточняйте технические характеристики продукции при заказе.
- MOQ - минимальное количество заказа, необходимое для приобретения каждой детали.
- Если у вас есть особые инструкции по заказу, пожалуйста, укажите их на странице заказа.
- При заказе будет использоваться предотгрузочная инспекция.
- Вы можете проверить статус заказа в разделе «Мои заказы» вашего личного кабинета.
- Заказы не могут быть отменены после того, как посылка была отправлена. Узнать больше >
- работает как с физическими так и с юридическими лицами. Узнать больше >
- Все цены на сайте указаны с НДС 20%.
- Счета выставляются в валюте, оплата производится в рублях по курсу на день оплаты.
- Если вам нужен подробный счет-фактура или налоговый идентификатор, пожалуйста, напишите нам.
- После отправки товара в Россию доставка займет от 1 до 2 недель.
- Обработка Вашего заказа осуществляется только после оплаты счета.
- Номер для отслеживания будет выслан после отправки заказа. (Для отображения информации перевозчиком может потребоваться до 24 часов). Узнать больше >
- Тщательно проверено и упаковано компанией Чип воркер
- Вакуумная упаковка
- Антистатическая упаковка
- Антивибрационный пенопласт
- Контроль качества доходов, 800+ квалифицированных дистибьюторов.
- Авторитеты проверяют микросхему, чтобы гарантировать качество, подлинность и безопасность вашего устройства.
- Контроль декапсуляции
- Рентгеновский контроль
- XRF-инспекция
- Электрические испытания
- Тестирование поверхности