INA148QDRQ1 - TI

Изображения приведены только для примера, точные характеристики можно узнать из паспорта изделия.

Часть №

INA148QDRQ1
Производитель

TI
Чип воркер Часть №

CW9705600
Категория

Буферный усилитель
Упаковка

SOIC-8
Описание

SP Amp Difference Amplifier Single 18V/36V 8Pin SOIC T/R
даташит

Datasheet

Способ оплаты и доставка

INA148QDRQ1 Глобальный поставщик

{{ supplierTable.supplier }}	{{ supplierTable.part }}	{{ supplierTable.availability }}	MOQ	{{ supplierTable.delivery_date }}

{{viewMore}}
{{viewMore}}
DigiKey	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
Arrow	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
Mouser	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
					{{submitRFQ}}

INA148QDRQ1 Буферный усилитель характеристики

Атрибут	Значение атрибута

Часть №	INA148QDRQ1
Производитель	TI
Чип воркер Часть №	CW9705600
Категория	Буферный усилитель
даташит	Datasheet
Стиль Монтажа	Surface Mount
Количество Выводов	8 Pin
Корпус/Пакет	SOIC-8
Ток Питания	260 µA
Количество Цепей	1 Circuit
Количество Каналов	1 Channel
Коэффициент Ослабления Синфазного Сигнала	70 dB
Ток Покоя	600 µA
Скорость Нарастания	1.00 V/μs
Входное Напряжение Смещения	1 mV
Рабочая температура (Макс)	125 ℃
Рабочая температура (мин)	-40 ℃
Полоса пропускания 3 дБ	100 kHz
Gain Bandwidth	70 dB
Минимальный диапазон CMRR	70 dB
Напряжение питания (Макс)	30V ~ 50V
	Развернуть все
Рабочая Температура	-40℃ ~ 125℃
Жизненный Цикл Продукта	Active
Упаковка	Tape & Reel (TR)
RoHS Комплаенс	RoHS Compliant
Бессвинцовая Статус	Lead Free

INA148QDRQ1 Описание продукта

DESCRIPTION
The INA148 is a precision low-power unity-gain difference amplifier with a high common-mode input voltage range. It consists of a monolithic precision bipolar operational amplifier with a thin-film resistor network.
FEATURES
• Qualified for Automotive Applications
• High Common-Mode Voltage
– 75 V at VS = 5 V
– ±200 V at VS = ±15 V
• Fixed Differential Gain = 1 V/V
• Low Quiescent Current: 260 µA
• Wide Supply Range
– Single Supply: 2.7 V to 36 V
– Dual Supplies: ±1.35 V to ±18 V
• Low Gain Error: 0.075% Max
• Low Nonlinearity: 0.002% Max
• High CMR: 86 dB
• Surface-Mount SO-8 (D) Package
APPLICATIONS
• Current-Shunt Measurements
• Differential Sensor Amplifiers
• Line Receivers
• Battery-Powered Systems
• Automotive Instrumentation
• Stacked-Cell Monitors

Развернуть все

Доставка

CDEK

Itella

SHIPTOR

SPSR-EXPRESS

Чип воркер Квалификация

Информация для заказа

Заказ Оплата Доставка Пакет Обеспечение качества

Данные условия носят справочный характер, фактические условия зависят от предложения продавца.
- Пожалуйста, уточняйте технические характеристики продукции при заказе.
- MOQ - минимальное количество заказа, необходимое для приобретения каждой детали.
- Если у вас есть особые инструкции по заказу, пожалуйста, укажите их на странице заказа.
- При заказе будет использоваться предотгрузочная инспекция.
- Вы можете проверить статус заказа в разделе «Мои заказы» вашего личного кабинета.
- Заказы не могут быть отменены после того, как посылка была отправлена. Узнать больше >
- работает как с физическими так и с юридическими лицами. Узнать больше >
- Все цены на сайте указаны с НДС 20%.
- Счета выставляются в валюте, оплата производится в рублях по курсу на день оплаты.
- Если вам нужен подробный счет-фактура или налоговый идентификатор, пожалуйста, напишите нам.
- После отправки товара в Россию доставка займет от 1 до 2 недель.
- Обработка Вашего заказа осуществляется только после оплаты счета.
- Номер для отслеживания будет выслан после отправки заказа. (Для отображения информации перевозчиком может потребоваться до 24 часов). Узнать больше >
- Тщательно проверено и упаковано компанией Чип воркер
- Вакуумная упаковка
- Антистатическая упаковка
- Антивибрационный пенопласт
- Контроль качества доходов, 800+ квалифицированных дистибьюторов.
- Авторитеты проверяют микросхему, чтобы гарантировать качество, подлинность и безопасность вашего устройства.
- Контроль декапсуляции
- Рентгеновский контроль
- XRF-инспекция
- Электрические испытания
- Тестирование поверхности