INA116PA - TI

Изображения приведены только для примера, точные характеристики можно узнать из паспорта изделия.

Часть №

INA116PA
Производитель

TI
Чип воркер Часть №

CW3561593
Категория

Усилитель прибора
Упаковка

PDIP-16
Описание

Instrument Amplifier, 1 Amplifier, 5mV, 0.08V/µs, 800kHz, ± 4.5V to ± 18V, DIP
даташит

Datasheet

Способ оплаты и доставка

INA116PA Глобальный поставщик

{{ supplierTable.supplier }}	{{ supplierTable.part }}	{{ supplierTable.availability }}	MOQ	{{ supplierTable.delivery_date }}

{{viewMore}}
{{viewMore}}
DigiKey	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
Arrow	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
Mouser	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
					{{submitRFQ}}

INA116PA Усилитель прибора характеристики

Атрибут	Значение атрибута

Часть №	INA116PA
Производитель	TI
Чип воркер Часть №	CW3561593
Категория	Усилитель прибора
даташит	Datasheet
Стиль Монтажа	Through Hole
Количество Выводов	16 Pin
Корпус/Пакет	PDIP-16
Напряжение Питания (DC)	36.0V (max)
Рабочее Напряжение	4.5V ~ 36V
Ток Питания	1 mA
Количество Цепей	1 Circuit
Количество Каналов	1 Channel
Количество Стежков	16 Position
Коэффициент Ослабления Синфазного Сигнала	94 dB
Ток Покоя	1.00 mA
Ширина Ленты	800 kHz
Скорость Нарастания	80.0 mV/μs
Произведение Коэффициента Усиления на Ширину Полосы Пропускания	800 kHz
Усиление	1.00 kdB
Входное Напряжение Смещения	5 mV
Входной Ток Смещения	0.003 pA
Рабочая температура (Макс)	125 ℃
Рабочая температура (мин)	-40 ℃
Полоса пропускания 3 дБ	800 kHz
Gain Bandwidth	70 kHz
Минимальный диапазон CMRR	73 dB
Напряжение питания (Макс)	18 V
Напряжение питания (мин)	4.5 V
	Развернуть все
Длина	19.3 mm
Ширина	6.35 mm
Высота	4.57 mm
Рабочая Температура	-40℃ ~ 85℃
Жизненный Цикл Продукта	Active
Упаковка	Tube
RoHS Комплаенс	RoHS Compliant
Бессвинцовая Статус	Lead Free

INA116PA Описание продукта

The INA116PA is a complete monolithic FET-input Instrumentation Amplifier with extremely low input bias current. Difet® inputs and special guarding techniques yield input bias current of 3fA at 25°C and only 25fA at 85°C. Its 3 op-amp topology allows gains to be set from 1 to 1000 by connecting a single external resistor. Guard pins adjacent to both input connections can be used to drive circuit board and input cable guards to maintain extremely low input bias current.

Развернуть все

Доставка

CDEK

Itella

SHIPTOR

SPSR-EXPRESS

Чип воркер Квалификация

Информация для заказа

Заказ Оплата Доставка Пакет Обеспечение качества

Данные условия носят справочный характер, фактические условия зависят от предложения продавца.
- Пожалуйста, уточняйте технические характеристики продукции при заказе.
- MOQ - минимальное количество заказа, необходимое для приобретения каждой детали.
- Если у вас есть особые инструкции по заказу, пожалуйста, укажите их на странице заказа.
- При заказе будет использоваться предотгрузочная инспекция.
- Вы можете проверить статус заказа в разделе «Мои заказы» вашего личного кабинета.
- Заказы не могут быть отменены после того, как посылка была отправлена. Узнать больше >
- работает как с физическими так и с юридическими лицами. Узнать больше >
- Все цены на сайте указаны с НДС 20%.
- Счета выставляются в валюте, оплата производится в рублях по курсу на день оплаты.
- Если вам нужен подробный счет-фактура или налоговый идентификатор, пожалуйста, напишите нам.
- После отправки товара в Россию доставка займет от 1 до 2 недель.
- Обработка Вашего заказа осуществляется только после оплаты счета.
- Номер для отслеживания будет выслан после отправки заказа. (Для отображения информации перевозчиком может потребоваться до 24 часов). Узнать больше >
- Тщательно проверено и упаковано компанией Чип воркер
- Вакуумная упаковка
- Антистатическая упаковка
- Антивибрационный пенопласт
- Контроль качества доходов, 800+ квалифицированных дистибьюторов.
- Авторитеты проверяют микросхему, чтобы гарантировать качество, подлинность и безопасность вашего устройства.
- Контроль декапсуляции
- Рентгеновский контроль
- XRF-инспекция
- Электрические испытания
- Тестирование поверхности