HMC759LP3E - ADI

Изображения приведены только для примера, точные характеристики можно узнать из паспорта изделия.

Часть №

HMC759LP3E
Производитель

ADI
Чип воркер Часть №

CW2773000
Упаковка

QFN-16
Описание

7Bits 0.25dBStep 31.75dB Digital Attenuator 300MHz 16Pin QFN EP T/R
даташит

Datasheet

Способ оплаты и доставка

HMC759LP3E Глобальный поставщик

{{ supplierTable.supplier }}	{{ supplierTable.part }}	{{ supplierTable.availability }}	MOQ	{{ supplierTable.delivery_date }}

{{viewMore}}
{{viewMore}}
DigiKey	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
Arrow	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
Mouser	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
					{{submitRFQ}}

HMC759LP3E характеристики

Атрибут	Значение атрибута

Часть №	HMC759LP3E
Производитель	ADI
Чип воркер Часть №	CW2773000
даташит	Datasheet
Стиль Монтажа	Surface Mount
Количество Выводов	16 Pin
Корпус/Пакет	QFN-16
Ток Питания	0.71 mA
Количество Каналов	1 Channel
Количество Битов	7 Bit
Рассеяние Мощности	0.29 W
Входное напряжение (мин)	4.5 V
Рабочая температура (Макс)	85 ℃
Рабочая температура (мин)	-40 ℃
Рассеиваемая Мощность (Макс)	290 mW
Входное напряжение	5.5 V
	Развернуть все
Длина	3 mm
Ширина	3 mm
Высота	0.9 mm
Жизненный Цикл Продукта	Active
Упаковка	Tape & Reel (TR)
RoHS Комплаенс	RoHS Compliant
Бессвинцовая Статус	Contains Lead

HMC759LP3E Описание продукта

Product Details
The HMC759LP3E is a 7-bit BiCMOS Digital Attenuator in a low cost leadless SMT package. This versatile digital attenuator incorporates off-chip AC ground capacitors for near DC operation, making it suitable for a wide variety of RF and IF applications. The control interface is CMOS/TTL compatible and accepts a three wire serial input. The HMC759LP3E features user selectable power up states and a serial output port for cascading other Hittite serial controlled components. The HMC759LP3E is housed in a RoHS compliant 3x3 mm QFN leadless package, and occupies only 9 mm².
Applications
Cellular/3G Infrastructure
WiBro / WiMAX / 4G
Microwave Radio & VSAT
Test Equipment and Sensors
IF & RF Applications
### Features and Benefits
0.25 dB LSB Steps to 31.75 dB
Power-Up State Selection
High Input IP3: +40 dBm
TTL/CMOS Compatible, Serial Control
Excellent State & Step Accuracy ±0.25 dB
Single +5V Supply
16 Lead 3x3mm SMT Package: 9mm²

Развернуть все

Доставка

CDEK

Itella

SHIPTOR

SPSR-EXPRESS

Чип воркер Квалификация

Информация для заказа

Заказ Оплата Доставка Пакет Обеспечение качества

Данные условия носят справочный характер, фактические условия зависят от предложения продавца.
- Пожалуйста, уточняйте технические характеристики продукции при заказе.
- MOQ - минимальное количество заказа, необходимое для приобретения каждой детали.
- Если у вас есть особые инструкции по заказу, пожалуйста, укажите их на странице заказа.
- При заказе будет использоваться предотгрузочная инспекция.
- Вы можете проверить статус заказа в разделе «Мои заказы» вашего личного кабинета.
- Заказы не могут быть отменены после того, как посылка была отправлена. Узнать больше >
- работает как с физическими так и с юридическими лицами. Узнать больше >
- Все цены на сайте указаны с НДС 20%.
- Счета выставляются в валюте, оплата производится в рублях по курсу на день оплаты.
- Если вам нужен подробный счет-фактура или налоговый идентификатор, пожалуйста, напишите нам.
- После отправки товара в Россию доставка займет от 1 до 2 недель.
- Обработка Вашего заказа осуществляется только после оплаты счета.
- Номер для отслеживания будет выслан после отправки заказа. (Для отображения информации перевозчиком может потребоваться до 24 часов). Узнать больше >
- Тщательно проверено и упаковано компанией Чип воркер
- Вакуумная упаковка
- Антистатическая упаковка
- Антивибрационный пенопласт
- Контроль качества доходов, 800+ квалифицированных дистибьюторов.
- Авторитеты проверяют микросхему, чтобы гарантировать качество, подлинность и безопасность вашего устройства.
- Контроль декапсуляции
- Рентгеновский контроль
- XRF-инспекция
- Электрические испытания
- Тестирование поверхности