HMC590 - ADI

Изображения приведены только для примера, точные характеристики можно узнать из паспорта изделия.

Часть №

HMC590
Производитель

ADI
Чип воркер Часть №

CW34794218
Категория

Усилитель IC и модуль RF
Упаковка

QFN-32
Описание

RF Amp Single Power Amp 10GHz 8V 6Pin Die Tray
даташит

Datasheet

Способ оплаты и доставка

HMC590 Глобальный поставщик

{{ supplierTable.supplier }}	{{ supplierTable.part }}	{{ supplierTable.availability }}	MOQ	{{ supplierTable.delivery_date }}

{{viewMore}}
{{viewMore}}
DigiKey	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
Arrow	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
Mouser	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
					{{submitRFQ}}

HMC590 Усилитель IC и модуль RF характеристики

Атрибут	Значение атрибута

Часть №	HMC590
Производитель	ADI
Чип воркер Часть №	CW34794218
Категория	Усилитель IC и модуль RF
даташит	Datasheet
Стиль Монтажа	Surface Mount
Количество Выводов	6 Pin
Корпус/Пакет	QFN-32
Частота	6GHz ~ 10GHz
Ток Питания	820 mA
Рассеяние Мощности	0.55 W
Усиление	25 dB
Частота испытаний	6GHz ~ 10GHz
Рабочая температура (Макс)	85 ℃
Рабочая температура (мин)	-55 ℃
Рассеиваемая Мощность (Макс)	6000 mW
Напряжение питания	7 V
	Развернуть все
Жизненный Цикл Продукта	Active
Упаковка	Bulk
RoHS Комплаенс	RoHS Compliant
Бессвинцовая Статус	Contains Lead

HMC590 Описание продукта

Product Details
The HMC590 is a high dynamic range GaAs PHEMT MMIC 1 Watt Power Amplifier which operates from 6 to 10 GHz. This amplifier die provides 24 dB of gain, +31.5 dBm of saturated power at 25% PAE from a +7.0V supply. The RF I/Os are DC blocked and matched to 50 Ohms for ease of integration into Multi-Chip-Modules (MCMs).
All data is taken with the chip in a 50 ohm test fixture connected via 0.025mm (1 mil) diameter wire bonds of length 0.31mm (12 mils). For applications which require optimum OIP3, Idd should be set for 520 mA, to yield +41 dBm OIP3. For applications which require optimum output P1dB, Idd should be set for 820 mA, to yield up to +32 dBm Output P1dB.
Applications
Point-to-Point Radios
Point-to-Multi-Point Radios
Test Equipment & Sensors
Military End-Use
Space
### Features and Benefits
Saturated Output Power:
+31.5 dBm @ 25% PAE
Output IP3: +41 dBm
Gain: 24 dB
DC Supply: +7V @ 820 mA
50 Ohm Matched Input/Output
Die Size: 2.47 x 1.33 x 0.1 mm

Развернуть все

Доставка

CDEK

Itella

SHIPTOR

SPSR-EXPRESS

Чип воркер Квалификация

Информация для заказа

Заказ Оплата Доставка Пакет Обеспечение качества

Данные условия носят справочный характер, фактические условия зависят от предложения продавца.
- Пожалуйста, уточняйте технические характеристики продукции при заказе.
- MOQ - минимальное количество заказа, необходимое для приобретения каждой детали.
- Если у вас есть особые инструкции по заказу, пожалуйста, укажите их на странице заказа.
- При заказе будет использоваться предотгрузочная инспекция.
- Вы можете проверить статус заказа в разделе «Мои заказы» вашего личного кабинета.
- Заказы не могут быть отменены после того, как посылка была отправлена. Узнать больше >
- работает как с физическими так и с юридическими лицами. Узнать больше >
- Все цены на сайте указаны с НДС 20%.
- Счета выставляются в валюте, оплата производится в рублях по курсу на день оплаты.
- Если вам нужен подробный счет-фактура или налоговый идентификатор, пожалуйста, напишите нам.
- После отправки товара в Россию доставка займет от 1 до 2 недель.
- Обработка Вашего заказа осуществляется только после оплаты счета.
- Номер для отслеживания будет выслан после отправки заказа. (Для отображения информации перевозчиком может потребоваться до 24 часов). Узнать больше >
- Тщательно проверено и упаковано компанией Чип воркер
- Вакуумная упаковка
- Антистатическая упаковка
- Антивибрационный пенопласт
- Контроль качества доходов, 800+ квалифицированных дистибьюторов.
- Авторитеты проверяют микросхему, чтобы гарантировать качество, подлинность и безопасность вашего устройства.
- Контроль декапсуляции
- Рентгеновский контроль
- XRF-инспекция
- Электрические испытания
- Тестирование поверхности