HMC579 - ADI

Изображения приведены только для примера, точные характеристики можно узнать из паспорта изделия.

Часть №

HMC579
Производитель

ADI
Чип воркер Часть №

CW10855243
Категория

Модуль RF, IC и деталь
Описание

Active RF Multipliers x2 16GHz to 23GHz 32GHz to 46GHz 6Pin Die Tray
даташит

Datasheet

Способ оплаты и доставка

HMC579 Глобальный поставщик

{{ supplierTable.supplier }}	{{ supplierTable.part }}	{{ supplierTable.availability }}	MOQ	{{ supplierTable.delivery_date }}

{{viewMore}}
{{viewMore}}
DigiKey	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
Arrow	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
Mouser	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
					{{submitRFQ}}

HMC579 Модуль RF, IC и деталь характеристики

Атрибут	Значение атрибута

Часть №	HMC579
Производитель	ADI
Чип воркер Часть №	CW10855243
Категория	Модуль RF, IC и деталь
даташит	Datasheet
Количество Выводов	6 Pin
Частота	32GHz ~ 46GHz
Напряжение Питания (DC)	4.50V (min)
Рассеяние Мощности	656 mW
Выходная Мощность	13 dBm
Рабочая температура (Макс)	85 ℃
Рабочая температура (мин)	-55 ℃
Рассеиваемая Мощность (Макс)	656 mW
Напряжение питания (Макс)	5.5 V
Напряжение питания (мин)	4.5 V
	Развернуть все
Высота	0.1 mm
Рабочая Температура	-55℃ ~ 85℃
Жизненный Цикл Продукта	Active
Упаковка	Each
RoHS Комплаенс	RoHS Compliant
Бессвинцовая Статус	Contains Lead
REACH SVHC Комплаенс	No SVHC
REACH SVHC Compliance Edition	2015/12/17
ECCN кодекс	EAR99

HMC579 Описание продукта

Product Details
The HMC579 die is a x2 active broadband frequency multiplier utilizing GaAs PHEMT technology. When driven by a +3 dBm signal, the multiplier provides +13 dBm typical output power from 32 to 46 GHz. The Fo isolation is >25 dBc at 38 GHz. The HMC579 is ideal for use in LO multiplier chains for Pt to Pt & VSAT Radios yielding reduced parts count vs. traditional approaches. The low additive SSB Phase Noise of -127 dBc/Hz at 100 kHz offset helps maintain good system noise performance.
Applications
Clock Generation Applications:
SONET OC-192 & SDH STM-64
Point-to-Point & VSAT Radios
Test Instrumentation
Military EW / Radar
Space
### Features and Benefits
High Output Power: +13 dBm
Low Input Power Drive: 0 to +6 dBm
Fo Isolation: >25 dBc @ Fout = 38 GHz
100 kHz SSB Phase Noise: -127 dBc/Hz
Single Supply: +5V @ 70 mA
Die Size: 1.18 x 1.23 x 0.1 mm

Развернуть все

Доставка

CDEK

Itella

SHIPTOR

SPSR-EXPRESS

Чип воркер Квалификация

Информация для заказа

Заказ Оплата Доставка Пакет Обеспечение качества

Данные условия носят справочный характер, фактические условия зависят от предложения продавца.
- Пожалуйста, уточняйте технические характеристики продукции при заказе.
- MOQ - минимальное количество заказа, необходимое для приобретения каждой детали.
- Если у вас есть особые инструкции по заказу, пожалуйста, укажите их на странице заказа.
- При заказе будет использоваться предотгрузочная инспекция.
- Вы можете проверить статус заказа в разделе «Мои заказы» вашего личного кабинета.
- Заказы не могут быть отменены после того, как посылка была отправлена. Узнать больше >
- работает как с физическими так и с юридическими лицами. Узнать больше >
- Все цены на сайте указаны с НДС 20%.
- Счета выставляются в валюте, оплата производится в рублях по курсу на день оплаты.
- Если вам нужен подробный счет-фактура или налоговый идентификатор, пожалуйста, напишите нам.
- После отправки товара в Россию доставка займет от 1 до 2 недель.
- Обработка Вашего заказа осуществляется только после оплаты счета.
- Номер для отслеживания будет выслан после отправки заказа. (Для отображения информации перевозчиком может потребоваться до 24 часов). Узнать больше >
- Тщательно проверено и упаковано компанией Чип воркер
- Вакуумная упаковка
- Антистатическая упаковка
- Антивибрационный пенопласт
- Контроль качества доходов, 800+ квалифицированных дистибьюторов.
- Авторитеты проверяют микросхему, чтобы гарантировать качество, подлинность и безопасность вашего устройства.
- Контроль декапсуляции
- Рентгеновский контроль
- XRF-инспекция
- Электрические испытания
- Тестирование поверхности