HMC565 - ADI

Изображения приведены только для примера, точные характеристики можно узнать из паспорта изделия.

Часть №

HMC565
Производитель

ADI
Чип воркер Часть №

CW22250088
Категория

Усилитель IC и модуль RF
Упаковка

Die
Описание

ANALOG DEVICES HMC565 RF Amplifier IC, 21dB Gain / 2.5dB Noise, 6GHz to 20GHz, 2.5V to 3.5V, Gel Pack
даташит

Datasheet

Способ оплаты и доставка

HMC565 Глобальный поставщик

{{ supplierTable.supplier }}	{{ supplierTable.part }}	{{ supplierTable.availability }}	MOQ	{{ supplierTable.delivery_date }}

{{viewMore}}
{{viewMore}}
DigiKey	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
Arrow	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
Mouser	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
					{{submitRFQ}}

HMC565 Усилитель IC и модуль RF характеристики

Атрибут	Значение атрибута

Часть №	HMC565
Производитель	ADI
Чип воркер Часть №	CW22250088
Категория	Усилитель IC и модуль RF
даташит	Datasheet
Количество Выводов	5 Pin
Корпус/Пакет	Die
Частота	6GHz ~ 20GHz
Напряжение Питания (DC)	2.50V (min)
Ток Питания	53 mA
Количество Каналов	1 Channel
Рассеяние Мощности	0.75 W
Усиление	21 dB
Частота испытаний	12GHz ~ 20GHz
Рабочая температура (Макс)	85 ℃
Рабочая температура (мин)	-55 ℃
Рассеиваемая Мощность (Макс)	750 mW
Напряжение питания	3 V
Напряжение питания (Макс)	3.5 V
Напряжение питания (мин)	2.5 V
	Развернуть все
Жизненный Цикл Продукта	Active
Упаковка	Each
RoHS Комплаенс	RoHS Compliant
Бессвинцовая Статус	Lead Free
REACH SVHC Compliance Edition	2015/12/17

HMC565 Описание продукта

Product Details
The HMC565 is a high dynamic range GaAs PHEMT MMIC Low Noise Amplifier (LNA) chip which operates from 6 to 20 GHz. The HMC565 features 22 dB of small signal gain, 2.3 dB of noise figure and has a consistent IP3 of 20 dBm across the operating band. This self-biased LNA is ideal for hybrid and MCM assemblies due to its compact size, wideband performance, single +3V supply operation, and DC blocked RF I/O’s. All data is measured with the chip in a 50 Ohm test fixture connected via two 0.025 mm (1 mil) diameter bondwires of minimal length 0.31 mm (12 mil).
Applications
Point-to-Point Radios
Point-to-Multi-Point Radios & VSAT
Test Equipment and Sensors
Military & Space
### Features and Benefits
Noise Figure: 2.3 dB
Gain: 22 dB
OIP3: 20 dBm
Single Supply: +3V @ 53mA
50 Ohm Matched Input/Output
Small size: 2.53 x 0.98 x 0.10 mm

Развернуть все

Доставка

CDEK

Itella

SHIPTOR

SPSR-EXPRESS

Чип воркер Квалификация

Информация для заказа

Заказ Оплата Доставка Пакет Обеспечение качества

Данные условия носят справочный характер, фактические условия зависят от предложения продавца.
- Пожалуйста, уточняйте технические характеристики продукции при заказе.
- MOQ - минимальное количество заказа, необходимое для приобретения каждой детали.
- Если у вас есть особые инструкции по заказу, пожалуйста, укажите их на странице заказа.
- При заказе будет использоваться предотгрузочная инспекция.
- Вы можете проверить статус заказа в разделе «Мои заказы» вашего личного кабинета.
- Заказы не могут быть отменены после того, как посылка была отправлена. Узнать больше >
- работает как с физическими так и с юридическими лицами. Узнать больше >
- Все цены на сайте указаны с НДС 20%.
- Счета выставляются в валюте, оплата производится в рублях по курсу на день оплаты.
- Если вам нужен подробный счет-фактура или налоговый идентификатор, пожалуйста, напишите нам.
- После отправки товара в Россию доставка займет от 1 до 2 недель.
- Обработка Вашего заказа осуществляется только после оплаты счета.
- Номер для отслеживания будет выслан после отправки заказа. (Для отображения информации перевозчиком может потребоваться до 24 часов). Узнать больше >
- Тщательно проверено и упаковано компанией Чип воркер
- Вакуумная упаковка
- Антистатическая упаковка
- Антивибрационный пенопласт
- Контроль качества доходов, 800+ квалифицированных дистибьюторов.
- Авторитеты проверяют микросхему, чтобы гарантировать качество, подлинность и безопасность вашего устройства.
- Контроль декапсуляции
- Рентгеновский контроль
- XRF-инспекция
- Электрические испытания
- Тестирование поверхности