HMC544AE - ADI

Изображения приведены только для примера, точные характеристики можно узнать из паспорта изделия.

Часть №

HMC544AE
Производитель

ADI
Чип воркер Часть №

CW1787858
Категория

Радиочастотная деталь RF
Упаковка

SOT-26-6
Описание

RF Switch SPDT 0MHz to 4GHz 8dB 6Pin SOT-23 T/R
даташит

Datasheet

Способ оплаты и доставка

HMC544AE Глобальный поставщик

{{ supplierTable.supplier }}	{{ supplierTable.part }}	{{ supplierTable.availability }}	MOQ	{{ supplierTable.delivery_date }}

{{viewMore}}
{{viewMore}}
DigiKey	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
Arrow	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
Mouser	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
					{{submitRFQ}}

HMC544AE Радиочастотная деталь RF характеристики

Атрибут	Значение атрибута

Часть №	HMC544AE
Производитель	ADI
Чип воркер Часть №	CW1787858
Категория	Радиочастотная деталь RF
даташит	Datasheet
Количество Выводов	6 Pin
Корпус/Пакет	SOT-26-6
Частота	4000 MHz
Количество Стежков	6 Position
Рассеяние Мощности	574 mW
Частота испытаний	4 GHz
Рабочая температура (Макс)	85 ℃
Рабочая температура (мин)	-40 ℃
Рассеиваемая Мощность (Макс)	574 mW
Напряжение питания	3 V
	Развернуть все
Рабочая Температура	-40℃ ~ 85℃
Жизненный Цикл Продукта	Active
Упаковка	Each
RoHS Комплаенс	RoHS Compliant
Бессвинцовая Статус	Contains Lead
REACH SVHC Compliance Edition	2015/12/17
ECCN кодекс	EAR99

HMC544AE Описание продукта

Product Details
The HMC544A & HMC544AE are low cost SPDT switches in 6-lead SOT26 packages for use in transmitreceive applications which require very low insertion loss at medium power levels. These devices can control signals from DC to 4.0 GHz and are especially suited for 450, 900, 1900, 2300, and 2700 MHz applications with <0.5 dB insertion loss. This GaAs PHEMT design provides exceptional linearity performance of +36 dBm 1dB compression point and +60 dBm third order intercept at +3 volt bias. RF1 and RF2 are reflective opens when “Off”. On-chip circuitry allows positive control operation at very low DC current.
Applications
Cellular/PCS/3G Infrastructure
Basestations & Repeaters
WLAN, WiMAX and WiBro
Microwave and Fixed Wireless Radios
### Features and Benefits
Very Low Insertion Loss: 0.2 dB @ 1 GHz
High Input P1dB: +39 dBm
High Input IP3: +60 dBm
Positive Control: 0/+3V to 0/+5V
Compact SOT26 SMT Package

Развернуть все

Доставка

CDEK

Itella

SHIPTOR

SPSR-EXPRESS

Чип воркер Квалификация

Информация для заказа

Заказ Оплата Доставка Пакет Обеспечение качества

Данные условия носят справочный характер, фактические условия зависят от предложения продавца.
- Пожалуйста, уточняйте технические характеристики продукции при заказе.
- MOQ - минимальное количество заказа, необходимое для приобретения каждой детали.
- Если у вас есть особые инструкции по заказу, пожалуйста, укажите их на странице заказа.
- При заказе будет использоваться предотгрузочная инспекция.
- Вы можете проверить статус заказа в разделе «Мои заказы» вашего личного кабинета.
- Заказы не могут быть отменены после того, как посылка была отправлена. Узнать больше >
- работает как с физическими так и с юридическими лицами. Узнать больше >
- Все цены на сайте указаны с НДС 20%.
- Счета выставляются в валюте, оплата производится в рублях по курсу на день оплаты.
- Если вам нужен подробный счет-фактура или налоговый идентификатор, пожалуйста, напишите нам.
- После отправки товара в Россию доставка займет от 1 до 2 недель.
- Обработка Вашего заказа осуществляется только после оплаты счета.
- Номер для отслеживания будет выслан после отправки заказа. (Для отображения информации перевозчиком может потребоваться до 24 часов). Узнать больше >
- Тщательно проверено и упаковано компанией Чип воркер
- Вакуумная упаковка
- Антистатическая упаковка
- Антивибрационный пенопласт
- Контроль качества доходов, 800+ квалифицированных дистибьюторов.
- Авторитеты проверяют микросхему, чтобы гарантировать качество, подлинность и безопасность вашего устройства.
- Контроль декапсуляции
- Рентгеновский контроль
- XRF-инспекция
- Электрические испытания
- Тестирование поверхности