HMC510LP5 - ADI

Изображения приведены только для примера, точные характеристики можно узнать из паспорта изделия.

Часть №

HMC510LP5
Производитель

ADI
Чип воркер Часть №

CW70748729
Категория

Усилитель IC и модуль RF
Упаковка

QFN-32
Описание

Oscillator VCO 4225MHz to 4775MHz/ 8450MHz to 9550MHz 5V 32Pin QFN EP SMD T/R
даташит

Datasheet

Способ оплаты и доставка

HMC510LP5 Глобальный поставщик

{{ supplierTable.supplier }}	{{ supplierTable.part }}	{{ supplierTable.availability }}	MOQ	{{ supplierTable.delivery_date }}

{{viewMore}}
{{viewMore}}
DigiKey	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
Arrow	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
Mouser	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
					{{submitRFQ}}

HMC510LP5 Усилитель IC и модуль RF характеристики

Атрибут	Значение атрибута

Часть №	HMC510LP5
Производитель	ADI
Чип воркер Часть №	CW70748729
Категория	Усилитель IC и модуль RF
даташит	Datasheet
Стиль Монтажа	Surface Mount
Количество Выводов	32 Pin
Корпус/Пакет	QFN-32
Частота	8.45GHz ~ 9.55GHZ
Рабочая температура (Макс)	85 ℃
Рабочая температура (мин)	-40 ℃
Напряжение питания	5 V
	Развернуть все
Длина	5.1 mm
Ширина	5.1 mm
Рабочая Температура	-40℃ ~ 85℃
Жизненный Цикл Продукта	Active
Упаковка	Tape & Reel (TR)
RoHS Комплаенс	Non-Compliant
Бессвинцовая Статус	Contains Lead
ECCN кодекс	3A001.a.11.b

HMC510LP5 Описание продукта

Product Details
The HMC510LP5(E) is a GaAs InGaP Heterojunction Bipolar Transistor (HBT) MMIC VCO. The HMC510LP5(E) integrates resonators, negative resistance devices, varactor diodes and feature half frequency and divide-by-4 outputs. The VCO’s phase noise performance is excellent over temperature, shock, and process due to the oscillator’s monolithic structure. Power output is +13 dBm typical from a +5V supply voltage. The prescaler and RF/2 functions can be disabled to conserve current if not required. The voltage controlled oscillator is packaged in a leadless QFN 5x5 mm surface mount package, and requires no external matching components.
Applications
Point-to-Point/Multi-Point Radio
Test Equipment & Industrial Controls
SATCOM
Military End-Use
### Features and Benefits
Dual Output: Fo = 8.45 - 9.55 GHz
Fo/2 = 4.225 - 4.775 GHz
Pout: +13 dBm
Phase Noise: -116 dBc/Hz @100 kHz Typ.
No External Resonator Needed
QFN Leadless SMT Package, 25 mm²

Развернуть все

Доставка

CDEK

Itella

SHIPTOR

SPSR-EXPRESS

Чип воркер Квалификация

Информация для заказа

Заказ Оплата Доставка Пакет Обеспечение качества

Данные условия носят справочный характер, фактические условия зависят от предложения продавца.
- Пожалуйста, уточняйте технические характеристики продукции при заказе.
- MOQ - минимальное количество заказа, необходимое для приобретения каждой детали.
- Если у вас есть особые инструкции по заказу, пожалуйста, укажите их на странице заказа.
- При заказе будет использоваться предотгрузочная инспекция.
- Вы можете проверить статус заказа в разделе «Мои заказы» вашего личного кабинета.
- Заказы не могут быть отменены после того, как посылка была отправлена. Узнать больше >
- работает как с физическими так и с юридическими лицами. Узнать больше >
- Все цены на сайте указаны с НДС 20%.
- Счета выставляются в валюте, оплата производится в рублях по курсу на день оплаты.
- Если вам нужен подробный счет-фактура или налоговый идентификатор, пожалуйста, напишите нам.
- После отправки товара в Россию доставка займет от 1 до 2 недель.
- Обработка Вашего заказа осуществляется только после оплаты счета.
- Номер для отслеживания будет выслан после отправки заказа. (Для отображения информации перевозчиком может потребоваться до 24 часов). Узнать больше >
- Тщательно проверено и упаковано компанией Чип воркер
- Вакуумная упаковка
- Антистатическая упаковка
- Антивибрационный пенопласт
- Контроль качества доходов, 800+ квалифицированных дистибьюторов.
- Авторитеты проверяют микросхему, чтобы гарантировать качество, подлинность и безопасность вашего устройства.
- Контроль декапсуляции
- Рентгеновский контроль
- XRF-инспекция
- Электрические испытания
- Тестирование поверхности