HMC442LC3B - ADI

Изображения приведены только для примера, точные характеристики можно узнать из паспорта изделия.

Часть №

HMC442LC3B
Производитель

ADI
Чип воркер Часть №

CW819895
Категория

Усилитель IC и модуль RF
Упаковка

QFN-12
Описание

RF Amplifier IC, 11dB Gain / 9dB Noise, 17.5GHz to 25.5GHz, 4.5V to 5.5V, QFN-12
даташит

Datasheet

Способ оплаты и доставка

HMC442LC3B Глобальный поставщик

{{ supplierTable.supplier }}	{{ supplierTable.part }}	{{ supplierTable.availability }}	MOQ	{{ supplierTable.delivery_date }}

{{viewMore}}
{{viewMore}}
DigiKey	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
Arrow	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
Mouser	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
					{{submitRFQ}}

HMC442LC3B Усилитель IC и модуль RF характеристики

Атрибут	Значение атрибута

Часть №	HMC442LC3B
Производитель	ADI
Чип воркер Часть №	CW819895
Категория	Усилитель IC и модуль RF
даташит	Datasheet
Стиль Монтажа	Surface Mount
Количество Выводов	12 Pin
Корпус/Пакет	QFN-12
Частота	17.5GHz ~ 25.5GHz
Напряжение Питания (DC)	4.50V (min)
Ток Питания	84 mA
Количество Каналов	1 Channel
Количество Стежков	12 Position
Рассеяние Мощности	491 mW
Усиление	11 dB
Рабочая температура (Макс)	85 ℃
Рабочая температура (мин)	-40 ℃
Рассеиваемая Мощность (Макс)	491 mW
Напряжение питания	5 V
Напряжение питания (Макс)	5.5 V
Напряжение питания (мин)	4.5 V
	Развернуть все
Жизненный Цикл Продукта	Active
Упаковка	Each
RoHS Комплаенс	RoHS Compliant
Бессвинцовая Статус	Lead Free
REACH SVHC Compliance Edition	2015/12/17

HMC442LC3B Описание продукта

Product Details
The HMC442LC3B is an efficient GaAs PHEMT MMIC Medium Power Amplifier housed in a leadless “Pb free” RoHS compliant SMT package. Operating between 17.5 and 25.5 GHz, the amplifier provides 13 dB of gain, +23 dBm of saturated power and 26% PAE from a +5V supply voltage. This 50 Ohm matched amplifier does not require any external components, making it an ideal linear gain block or driver for HMC SMT mixers. The HMC442LC3B allows the use of surface mount manufacturing techniques.
**Applications**
Point-to-Point Radios
Point-to-Multi-Point Radios
LO Driver for HMC Mixers
Military EW & ECM
### Features and Benefits
Gain: 13 dB
Saturated Power: +23 dBm @ 26% PAE
Supply Voltage: +5V
50 Ohm Matched Input/Output
RoHS Compliant 3x3 mm SMT package

Развернуть все

Доставка

CDEK

Itella

SHIPTOR

SPSR-EXPRESS

Чип воркер Квалификация

Информация для заказа

Заказ Оплата Доставка Пакет Обеспечение качества

Данные условия носят справочный характер, фактические условия зависят от предложения продавца.
- Пожалуйста, уточняйте технические характеристики продукции при заказе.
- MOQ - минимальное количество заказа, необходимое для приобретения каждой детали.
- Если у вас есть особые инструкции по заказу, пожалуйста, укажите их на странице заказа.
- При заказе будет использоваться предотгрузочная инспекция.
- Вы можете проверить статус заказа в разделе «Мои заказы» вашего личного кабинета.
- Заказы не могут быть отменены после того, как посылка была отправлена. Узнать больше >
- работает как с физическими так и с юридическими лицами. Узнать больше >
- Все цены на сайте указаны с НДС 20%.
- Счета выставляются в валюте, оплата производится в рублях по курсу на день оплаты.
- Если вам нужен подробный счет-фактура или налоговый идентификатор, пожалуйста, напишите нам.
- После отправки товара в Россию доставка займет от 1 до 2 недель.
- Обработка Вашего заказа осуществляется только после оплаты счета.
- Номер для отслеживания будет выслан после отправки заказа. (Для отображения информации перевозчиком может потребоваться до 24 часов). Узнать больше >
- Тщательно проверено и упаковано компанией Чип воркер
- Вакуумная упаковка
- Антистатическая упаковка
- Антивибрационный пенопласт
- Контроль качества доходов, 800+ квалифицированных дистибьюторов.
- Авторитеты проверяют микросхему, чтобы гарантировать качество, подлинность и безопасность вашего устройства.
- Контроль декапсуляции
- Рентгеновский контроль
- XRF-инспекция
- Электрические испытания
- Тестирование поверхности