HMC1065LP4E - ADI

Изображения приведены только для примера, точные характеристики можно узнать из паспорта изделия.

Часть №

HMC1065LP4E
Производитель

ADI
Чип воркер Часть №

CW831021
Категория

Модуль RF, IC и деталь
Упаковка

QFN-24
Описание

Up/Down Conv Mixer 3V 34000MHz 24Pin QFN Bulk
даташит

Datasheet

Способ оплаты и доставка

HMC1065LP4E Глобальный поставщик

{{ supplierTable.supplier }}	{{ supplierTable.part }}	{{ supplierTable.availability }}	MOQ	{{ supplierTable.delivery_date }}

{{viewMore}}
{{viewMore}}
DigiKey	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
Arrow	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
Mouser	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
					{{submitRFQ}}

HMC1065LP4E Модуль RF, IC и деталь характеристики

Атрибут	Значение атрибута

Часть №	HMC1065LP4E
Производитель	ADI
Чип воркер Часть №	CW831021
Категория	Модуль RF, IC и деталь
даташит	Datasheet
Стиль Монтажа	Surface Mount
Количество Выводов	24 Pin
Корпус/Пакет	QFN-24
Частота	27GHz ~ 34GHz
Рассеяние Мощности	1.66 W
Усиление	12 dB
Рабочая температура (Макс)	85 ℃
Рабочая температура (мин)	-40 ℃
Рассеиваемая Мощность (Макс)	1660 mW
	Развернуть все
Рабочая Температура	-40℃ ~ 85℃
Жизненный Цикл Продукта	Active
Упаковка	Tape & Reel (TR)
RoHS Комплаенс	RoHS Compliant
Бессвинцовая Статус	Contains Lead
ECCN кодекс	EAR99

HMC1065LP4E Описание продукта

Product Details
The HMC1065LP4E is a compact GaAs MMIC Image Reject Low Noise Converter in a leadless RoHS compliant SMT package. This device provides a small signal conversion gain of 13 dB with 17 dBc of image rejection, and -2 dBm Input IP3. The HMC1065LP4E utilizes an RF LNA followed by an I/Q mixer which is driven by an active X2 multiplier. IF1 and IF2 mixer outputs are provided and an external 90° hybrid is needed to select the required sideband. The I/Q mixer topology reduces the need for filtering of the unwanted sideband. The HMC1065LP4E is a much smaller alternative to hybrid style image reject downconverter assemblies and it eliminates the need for wire bonding by allowing the use of surface mount manufacturing techniques.
Applications
Point-to-Point &
Point-to-Multi-Point Radio
Satellite Communications
Sensors
### Features and Benefits
Conversion Gain: 13 dB
Image Rejection: 17 dBc
Input IP3: -2 dBm
24 Lead 4x4 mm SMT Package 16 mm²

Развернуть все

Доставка

CDEK

Itella

SHIPTOR

SPSR-EXPRESS

Чип воркер Квалификация

Информация для заказа

Заказ Оплата Доставка Пакет Обеспечение качества

Данные условия носят справочный характер, фактические условия зависят от предложения продавца.
- Пожалуйста, уточняйте технические характеристики продукции при заказе.
- MOQ - минимальное количество заказа, необходимое для приобретения каждой детали.
- Если у вас есть особые инструкции по заказу, пожалуйста, укажите их на странице заказа.
- При заказе будет использоваться предотгрузочная инспекция.
- Вы можете проверить статус заказа в разделе «Мои заказы» вашего личного кабинета.
- Заказы не могут быть отменены после того, как посылка была отправлена. Узнать больше >
- работает как с физическими так и с юридическими лицами. Узнать больше >
- Все цены на сайте указаны с НДС 20%.
- Счета выставляются в валюте, оплата производится в рублях по курсу на день оплаты.
- Если вам нужен подробный счет-фактура или налоговый идентификатор, пожалуйста, напишите нам.
- После отправки товара в Россию доставка займет от 1 до 2 недель.
- Обработка Вашего заказа осуществляется только после оплаты счета.
- Номер для отслеживания будет выслан после отправки заказа. (Для отображения информации перевозчиком может потребоваться до 24 часов). Узнать больше >
- Тщательно проверено и упаковано компанией Чип воркер
- Вакуумная упаковка
- Антистатическая упаковка
- Антивибрационный пенопласт
- Контроль качества доходов, 800+ квалифицированных дистибьюторов.
- Авторитеты проверяют микросхему, чтобы гарантировать качество, подлинность и безопасность вашего устройства.
- Контроль декапсуляции
- Рентгеновский контроль
- XRF-инспекция
- Электрические испытания
- Тестирование поверхности