HEF4051BT - NXP

Изображения приведены только для примера, точные характеристики можно узнать из паспорта изделия.

Часть №

HEF4051BT
Производитель

NXP
Чип воркер Часть №

CW47471366
Категория

Мультиплексор
Упаковка

SOIC-16
Описание

IC 8Channel, SGL ENDED MULTIPLEXER, PDSO16, 3.9MM, PLASTIC, MS-012, SOT109-1, SOP-16, Multiplexer or Switch
даташит

Datasheet

Способ оплаты и доставка

HEF4051BT Глобальный поставщик

{{ supplierTable.supplier }}	{{ supplierTable.part }}	{{ supplierTable.availability }}	MOQ	{{ supplierTable.delivery_date }}

{{viewMore}}
{{viewMore}}
DigiKey	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
Arrow	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
Mouser	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
					{{submitRFQ}}

HEF4051BT Мультиплексор характеристики

Атрибут	Значение атрибута

Часть №	HEF4051BT
Производитель	NXP
Чип воркер Часть №	CW47471366
Категория	Мультиплексор
даташит	Datasheet
Стиль Монтажа	Surface Mount
Количество Выводов	16 Pin
Корпус/Пакет	SOIC-16
Напряжение Питания (DC)	18.0 V
Количество Выходных Интерфейсов	8 Output
Количество Цепей	1 Circuit
Количество Стежков	16 Position
Количество Вентилей	1 Gate
Рабочая температура (Макс)	85 ℃
Рабочая температура (мин)	-40 ℃
Полоса пропускания 3 дБ	70 MHz
Напряжение питания	4.5V ~ 15.5V
	Развернуть все
Жизненный Цикл Продукта	Unknown
Упаковка	Cut Tape (CT)
RoHS Комплаенс	RoHS Compliant
Бессвинцовая Статус	Lead Free
REACH SVHC Комплаенс	No SVHC
REACH SVHC Compliance Edition	2015/12/17

HEF4051BT Описание продукта

The HEF4051BT is an 8-channel Analog Multiplexer/Demultiplexer with three address inputs (S1 to S3), an active low enable input (E\\), eight independent inputs/outputs (Y0 to Y7) and a common input/output (Z). The device contains eight bidirectional analog switches, each with one side connected to an independent input/output (Y0 to Y7) and the other side connected to a common input/output (Z). The analog inputs/outputs (Y0 to Y7 and Z) can swing between VDD as a positive limit and VEE as a negative limit. Unused inputs must be connected to VDD, VSS or another input. For operation as a digital multiplexer/demultiplexer, VEE is connected to VSS (typically ground).
Fully static operation
5V, 10V and 15V Parametric ratings
Standardized symmetrical output characteristics
Complies with JEDEC standard JESD 13-B

Развернуть все

Доставка

CDEK

Itella

SHIPTOR

SPSR-EXPRESS

Чип воркер Квалификация

Информация для заказа

Заказ Оплата Доставка Пакет Обеспечение качества

Данные условия носят справочный характер, фактические условия зависят от предложения продавца.
- Пожалуйста, уточняйте технические характеристики продукции при заказе.
- MOQ - минимальное количество заказа, необходимое для приобретения каждой детали.
- Если у вас есть особые инструкции по заказу, пожалуйста, укажите их на странице заказа.
- При заказе будет использоваться предотгрузочная инспекция.
- Вы можете проверить статус заказа в разделе «Мои заказы» вашего личного кабинета.
- Заказы не могут быть отменены после того, как посылка была отправлена. Узнать больше >
- работает как с физическими так и с юридическими лицами. Узнать больше >
- Все цены на сайте указаны с НДС 20%.
- Счета выставляются в валюте, оплата производится в рублях по курсу на день оплаты.
- Если вам нужен подробный счет-фактура или налоговый идентификатор, пожалуйста, напишите нам.
- После отправки товара в Россию доставка займет от 1 до 2 недель.
- Обработка Вашего заказа осуществляется только после оплаты счета.
- Номер для отслеживания будет выслан после отправки заказа. (Для отображения информации перевозчиком может потребоваться до 24 часов). Узнать больше >
- Тщательно проверено и упаковано компанией Чип воркер
- Вакуумная упаковка
- Антистатическая упаковка
- Антивибрационный пенопласт
- Контроль качества доходов, 800+ квалифицированных дистибьюторов.
- Авторитеты проверяют микросхему, чтобы гарантировать качество, подлинность и безопасность вашего устройства.
- Контроль декапсуляции
- Рентгеновский контроль
- XRF-инспекция
- Электрические испытания
- Тестирование поверхности