HCF4051 - ST Microelectronics

Изображения приведены только для примера, точные характеристики можно узнать из паспорта изделия.

Часть №

HCF4051
Производитель

ST Microelectronics
Чип воркер Часть №

CW83461700
Упаковка

SO-16
Описание

Single 8Channel Analog Multiplexer/Demultiplexer
даташит

Datasheet

Способ оплаты и доставка

HCF4051 Глобальный поставщик

{{ supplierTable.supplier }}	{{ supplierTable.part }}	{{ supplierTable.availability }}	MOQ	{{ supplierTable.delivery_date }}

{{viewMore}}
{{viewMore}}
DigiKey	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
Arrow	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
Mouser	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
					{{submitRFQ}}

HCF4051 характеристики

Атрибут	Значение атрибута

Часть №	HCF4051
Производитель	ST Microelectronics
Чип воркер Часть №	CW83461700
даташит	Datasheet
Корпус/Пакет	SO-16
	Развернуть все
Жизненный Цикл Продукта	Unknown
RoHS Комплаенс	RoHS Compliant
Бессвинцовая Статус	Lead Free

HCF4051 Описание продукта

ANALOG MULTIPLEXERS-DEMULTIPLEXERS
4051B - SINGLE 8-CHANNEL
4052B - DIFFERENTIAL 4-CHANNEL
4053B - TRIPLE 2-CHANNEL
DESCRIPTION
TheHCC 4051B, 4052Band4053B(extended temperature range) and HCF4051B, 4052B and 4053B
(intermediate temperature range) are monolithic in tegrated circuits, available in 16-lead dual in-line plastic or ceramic package and plastic micropack age. HCC/HCF4051B, HCC/HCF4052B, and
HCC/HCF4053B analog multiplexers/demultiplexers are digitally controlled analog switches hav
ing low ON impedance and very low OFF leakage current.
.QUIESCENT CURRENT SPECIFIED TO 20V FOR HCC DEVICE
.LOW ”ON” RESISTANCE : 125Ω(typ.) OVER 15V p.p. SIGNAL-INPUT RANGE FOR VDD-VEE= 15V
.HIGH ”OFF” RESISTANCE : CHANNEL LEAKAGE ±100pA (typ.) VDD–VEE= 18V
.BINARY ADDRESS DECODING ON CHIP
.VERY LOW QUIESCENT POWER DISSIPATION UNDER ALL DIGITAL CONTROL INPUT AND SUPPLY CONDITIONS : 0.2µW (typ.), VDD–VSS=VDD–VEE= 10V
.MATCHED SWITCH CHARACTERISTICS : RON=5Ω(typ.) for VDD–VEE= 15V
.WIDE RANGE OF DIGITAL AND ANALOG SIG NAL LEVELS : DIGITAL 3 TO 20V, ANALOG TO 20V p.p.
.5V, 10V, AND 15V PARAMETRIC RATINGS
.INPUT CURRENT OF 100mA AT 18V AND 25°C FOR HCC DEVICE
.100% TESTED FOR QUIESCENT CURRENT
.MEETS ALL REQUIREMENTS OF JEDECTENTATIVE STANDARD No 13A, ”STANDARD
SPECIFICATIONS FOR DESCRIPTION OF ”B” SERIES CMOS DEVICES”

Развернуть все

Доставка

CDEK

Itella

SHIPTOR

SPSR-EXPRESS

Чип воркер Квалификация

Информация для заказа

Заказ Оплата Доставка Пакет Обеспечение качества

Данные условия носят справочный характер, фактические условия зависят от предложения продавца.
- Пожалуйста, уточняйте технические характеристики продукции при заказе.
- MOQ - минимальное количество заказа, необходимое для приобретения каждой детали.
- Если у вас есть особые инструкции по заказу, пожалуйста, укажите их на странице заказа.
- При заказе будет использоваться предотгрузочная инспекция.
- Вы можете проверить статус заказа в разделе «Мои заказы» вашего личного кабинета.
- Заказы не могут быть отменены после того, как посылка была отправлена. Узнать больше >
- работает как с физическими так и с юридическими лицами. Узнать больше >
- Все цены на сайте указаны с НДС 20%.
- Счета выставляются в валюте, оплата производится в рублях по курсу на день оплаты.
- Если вам нужен подробный счет-фактура или налоговый идентификатор, пожалуйста, напишите нам.
- После отправки товара в Россию доставка займет от 1 до 2 недель.
- Обработка Вашего заказа осуществляется только после оплаты счета.
- Номер для отслеживания будет выслан после отправки заказа. (Для отображения информации перевозчиком может потребоваться до 24 часов). Узнать больше >
- Тщательно проверено и упаковано компанией Чип воркер
- Вакуумная упаковка
- Антистатическая упаковка
- Антивибрационный пенопласт
- Контроль качества доходов, 800+ квалифицированных дистибьюторов.
- Авторитеты проверяют микросхему, чтобы гарантировать качество, подлинность и безопасность вашего устройства.
- Контроль декапсуляции
- Рентгеновский контроль
- XRF-инспекция
- Электрические испытания
- Тестирование поверхности