HCF40109BEY - ST Microelectronics

Изображения приведены только для примера, точные характеристики можно узнать из паспорта изделия.

Часть №

HCF40109BEY
Производитель

ST Microelectronics
Чип воркер Часть №

CW160147533
Категория

Логический контроллер
Упаковка

DIP-16
Описание

Voltage Level Shifter 16Pin PDIP Tube
даташит

Datasheet

Способ оплаты и доставка

HCF40109BEY Глобальный поставщик

{{ supplierTable.supplier }}	{{ supplierTable.part }}	{{ supplierTable.availability }}	MOQ	{{ supplierTable.delivery_date }}

{{viewMore}}
{{viewMore}}
DigiKey	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
Arrow	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
Mouser	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
					{{submitRFQ}}

HCF40109BEY Логический контроллер характеристики

Атрибут	Значение атрибута

Часть №	HCF40109BEY
Производитель	ST Microelectronics
Чип воркер Часть №	CW160147533
Категория	Логический контроллер
даташит	Datasheet
Стиль Монтажа	Through Hole
Количество Выводов	16 Pin
Корпус/Пакет	DIP-16
Напряжение Питания (DC)	15.0 V, 20.0 V (max)
Количество Цепей	4 Circuit
Количество Каналов	4 Channel
Количество Стежков	2 Position
Количество Битов	4 Bit
Рассеяние Мощности	200 mW
Рабочая температура (Макс)	125 ℃
Рабочая температура (мин)	-55 ℃
Количество выходных каналов	1 Channel
Напряжение питания	3V ~ 20V
	Развернуть все
Ширина	4.5 mm
Цвет	Blue
Рабочая Температура	-55℃ ~ 125℃ (TA)
Жизненный Цикл Продукта	Obsolete
Упаковка	Tube
RoHS Комплаенс	RoHS Compliant
Бессвинцовая Статус	Lead Free
ECCN кодекс	EAR99

HCF40109BEY Описание продукта

DESCRIPTION
HCF40109B is a monolithic integrated circuit fabricated in Metal Oxide Semiconductor technology available in DIP and SOP packages.
HCF40109B contains four low-to-high voltage level shifting circuits.
■ INDIPENDENCE OF POWER SUPPLY SEQUENCE CONSIDERATIONS - VCC CAN EXCEED VDD, INPUT SIGNALS CAN EXCEED BOTH VCC AND VDD
■ UP AND DOWN LEVEL SHIFTING CAPABILITY
■ THREE-STATE OUTPUTS WITH SEPARATE ENABLE CONTROLS
■ STANDARDIZED SYMMETRICAL OUTPUT CHARACTERISTICS
■ QUIESCENT CURRENT SPECIFIED UP TO 20V
■ 5V, 10V, AND 15V PARAMETRIC RATINGS
■ INPUT LEAKAGE CURRENT
II = 100nA (MAX) AT VDD = 18V TA = 25°C
■ 100% TESTED FOR QUIESCENT CURRENT
■ MEETS ALL REQUIREMENTS OF JEDEC JESD13B "STANDARD SPECIFICATIONS FOR DESCRIPTION OF B SERIES CMOS DEVICES"

Развернуть все

Доставка

CDEK

Itella

SHIPTOR

SPSR-EXPRESS

Чип воркер Квалификация

Информация для заказа

Заказ Оплата Доставка Пакет Обеспечение качества

Данные условия носят справочный характер, фактические условия зависят от предложения продавца.
- Пожалуйста, уточняйте технические характеристики продукции при заказе.
- MOQ - минимальное количество заказа, необходимое для приобретения каждой детали.
- Если у вас есть особые инструкции по заказу, пожалуйста, укажите их на странице заказа.
- При заказе будет использоваться предотгрузочная инспекция.
- Вы можете проверить статус заказа в разделе «Мои заказы» вашего личного кабинета.
- Заказы не могут быть отменены после того, как посылка была отправлена. Узнать больше >
- работает как с физическими так и с юридическими лицами. Узнать больше >
- Все цены на сайте указаны с НДС 20%.
- Счета выставляются в валюте, оплата производится в рублях по курсу на день оплаты.
- Если вам нужен подробный счет-фактура или налоговый идентификатор, пожалуйста, напишите нам.
- После отправки товара в Россию доставка займет от 1 до 2 недель.
- Обработка Вашего заказа осуществляется только после оплаты счета.
- Номер для отслеживания будет выслан после отправки заказа. (Для отображения информации перевозчиком может потребоваться до 24 часов). Узнать больше >
- Тщательно проверено и упаковано компанией Чип воркер
- Вакуумная упаковка
- Антистатическая упаковка
- Антивибрационный пенопласт
- Контроль качества доходов, 800+ квалифицированных дистибьюторов.
- Авторитеты проверяют микросхему, чтобы гарантировать качество, подлинность и безопасность вашего устройства.
- Контроль декапсуляции
- Рентгеновский контроль
- XRF-инспекция
- Электрические испытания
- Тестирование поверхности