FIN3386MTDX - Fairchild

Изображения приведены только для примера, точные характеристики можно узнать из паспорта изделия.

Часть №

FIN3386MTDX
Производитель

Fairchild
Чип воркер Часть №

CW81751736
Категория

Чип интерфейса
Упаковка

TSSOP-56
Описание

LVDS Receiver 0.45V 56Pin TSSOP W T/R
даташит

Datasheet

Способ оплаты и доставка

FIN3386MTDX Глобальный поставщик

{{ supplierTable.supplier }}	{{ supplierTable.part }}	{{ supplierTable.availability }}	MOQ	{{ supplierTable.delivery_date }}

{{viewMore}}
{{viewMore}}
DigiKey	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
Arrow	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
Mouser	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
					{{submitRFQ}}

FIN3386MTDX Чип интерфейса характеристики

Атрибут	Значение атрибута

Часть №	FIN3386MTDX
Производитель	Fairchild
Чип воркер Часть №	CW81751736
Категория	Чип интерфейса
даташит	Datasheet
Стиль Монтажа	Surface Mount
Количество Выводов	56 Pin
Корпус/Пакет	TSSOP-56
Количество Выходных Интерфейсов	28 Output
Ток Питания	90 mA
Максимальное входное напряжение	0.1 V
Входной ток (мин)	10 µA
Количество входов	4 Input
Рабочая температура (Макс)	85 ℃
Рабочая температура (мин)	-40 ℃
Напряжение питания	3V ~ 3.6V
Напряжение питания (Макс)	3.6 V
Напряжение питания (мин)	3 V
	Развернуть все
Длина	14 mm
Ширина	6.1 mm
Высота	0.95 mm
Рабочая Температура	-40℃ ~ 85℃ (TA)
Жизненный Цикл Продукта	Active
Упаковка	Tape & Reel (TR)
RoHS Комплаенс	RoHS Compliant
Бессвинцовая Статус	Lead Free
ECCN кодекс	EAR99

FIN3386MTDX Описание продукта

Description
The FIN3385 and FIN3386 transform 28-bit wide parallel Low-Voltage TTL (LVTTL) data into four serial Low Voltage Differential Signaling (LVDS) data streams. A phase-locked transmit clock is transmitted in parallel with the data stream over a separate LVDS link. Every cycle of transmit clock, 28-bits of input LVTTL data are sampled and transmitted.
The FIN3386 receives and converts the 4/3 serial LVDS data streams back into 28/21 bits of LVTTL data, acting as the deserializer.
Features
Operation -40°C to +85°C
Low Power Consumption
20MHz to 85MHz Shift Clock Support
±1V Common-Mode Range around 1.2V
Narrow Bus Reduces Cable Size and Cost
High Throughput (up to 2.38Gbps)
Internal PLL with No External Component
Compatible with TIA/EIA-644 Specification
56-Lead, TSSOP Package

Развернуть все

Доставка

CDEK

Itella

SHIPTOR

SPSR-EXPRESS

Чип воркер Квалификация

Информация для заказа

Заказ Оплата Доставка Пакет Обеспечение качества

Данные условия носят справочный характер, фактические условия зависят от предложения продавца.
- Пожалуйста, уточняйте технические характеристики продукции при заказе.
- MOQ - минимальное количество заказа, необходимое для приобретения каждой детали.
- Если у вас есть особые инструкции по заказу, пожалуйста, укажите их на странице заказа.
- При заказе будет использоваться предотгрузочная инспекция.
- Вы можете проверить статус заказа в разделе «Мои заказы» вашего личного кабинета.
- Заказы не могут быть отменены после того, как посылка была отправлена. Узнать больше >
- работает как с физическими так и с юридическими лицами. Узнать больше >
- Все цены на сайте указаны с НДС 20%.
- Счета выставляются в валюте, оплата производится в рублях по курсу на день оплаты.
- Если вам нужен подробный счет-фактура или налоговый идентификатор, пожалуйста, напишите нам.
- После отправки товара в Россию доставка займет от 1 до 2 недель.
- Обработка Вашего заказа осуществляется только после оплаты счета.
- Номер для отслеживания будет выслан после отправки заказа. (Для отображения информации перевозчиком может потребоваться до 24 часов). Узнать больше >
- Тщательно проверено и упаковано компанией Чип воркер
- Вакуумная упаковка
- Антистатическая упаковка
- Антивибрационный пенопласт
- Контроль качества доходов, 800+ квалифицированных дистибьюторов.
- Авторитеты проверяют микросхему, чтобы гарантировать качество, подлинность и безопасность вашего устройства.
- Контроль декапсуляции
- Рентгеновский контроль
- XRF-инспекция
- Электрические испытания
- Тестирование поверхности