FIN1019MTCX - ON Semiconductor

Изображения приведены только для примера, точные характеристики можно узнать из паспорта изделия.

Часть №

FIN1019MTCX
Производитель

ON Semiconductor
Чип воркер Часть №

CW5073650
Категория

Чип интерфейса
Упаковка

TSSOP-14
Описание

LVDS Driver/Receiver 400Mbps 0.45V 14Pin TSSOP T/R
даташит

Datasheet

Способ оплаты и доставка

FIN1019MTCX Глобальный поставщик

{{ supplierTable.supplier }}	{{ supplierTable.part }}	{{ supplierTable.availability }}	MOQ	{{ supplierTable.delivery_date }}

{{viewMore}}
{{viewMore}}
DigiKey	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
Arrow	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
Mouser	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
					{{submitRFQ}}

FIN1019MTCX Чип интерфейса характеристики

Атрибут	Значение атрибута

Часть №	FIN1019MTCX
Производитель	ON Semiconductor
Чип воркер Часть №	CW5073650
Категория	Чип интерфейса
даташит	Datasheet
Стиль Монтажа	Surface Mount
Количество Выводов	14 Pin
Корпус/Пакет	TSSOP-14
Количество Стежков	14 Position
Входной ток (мин)	20 μA
Рабочая температура (Макс)	85 ℃
Рабочая температура (мин)	-40 ℃
Напряжение питания	3V ~ 3.6V
Напряжение питания (Макс)	3.6 V
Напряжение питания (мин)	3 V
	Развернуть все
Рабочая Температура	-40℃ ~ 85℃
Жизненный Цикл Продукта	Active
Упаковка	Tape & Reel (TR)
RoHS Комплаенс	RoHS Compliant
Бессвинцовая Статус
ECCN кодекс	EAR99

FIN1019MTCX Описание продукта

This driver and receiver pair are designed for high speed interconnects utilizing Low Voltage Differential Signaling (LVDS) technology. The driver translates LVTTL signals to LVDS levels with a typical differential output swing of 350mV and the receiver translates LVDS signals, with a typical differential input threshold of 100mV, into LVTTL levels. LVDS technology provides low EMI at ultra low power dissipation even at high frequencies. This device is ideal for high speed clock or data transfer.
Features
---
|
Greater than 400Mbs data rate
3.3V power supply operation
0.5ns maximum differential pulse skew
2.5ns maximum propagation delay
Low power dissipation
Power-Off protection
100mV receiver input sensitivity
Fail safe protection open-circuit, shorted and terminated conditions
Meets or exceeds the TIA/EIA-644 LVDS standard
Flow-through pinout simplifies PCB layout
14-Lead SOIC and TSSOP packages save space

Развернуть все

Доставка

CDEK

Itella

SHIPTOR

SPSR-EXPRESS

Чип воркер Квалификация

Информация для заказа

Заказ Оплата Доставка Пакет Обеспечение качества

Данные условия носят справочный характер, фактические условия зависят от предложения продавца.
- Пожалуйста, уточняйте технические характеристики продукции при заказе.
- MOQ - минимальное количество заказа, необходимое для приобретения каждой детали.
- Если у вас есть особые инструкции по заказу, пожалуйста, укажите их на странице заказа.
- При заказе будет использоваться предотгрузочная инспекция.
- Вы можете проверить статус заказа в разделе «Мои заказы» вашего личного кабинета.
- Заказы не могут быть отменены после того, как посылка была отправлена. Узнать больше >
- работает как с физическими так и с юридическими лицами. Узнать больше >
- Все цены на сайте указаны с НДС 20%.
- Счета выставляются в валюте, оплата производится в рублях по курсу на день оплаты.
- Если вам нужен подробный счет-фактура или налоговый идентификатор, пожалуйста, напишите нам.
- После отправки товара в Россию доставка займет от 1 до 2 недель.
- Обработка Вашего заказа осуществляется только после оплаты счета.
- Номер для отслеживания будет выслан после отправки заказа. (Для отображения информации перевозчиком может потребоваться до 24 часов). Узнать больше >
- Тщательно проверено и упаковано компанией Чип воркер
- Вакуумная упаковка
- Антистатическая упаковка
- Антивибрационный пенопласт
- Контроль качества доходов, 800+ квалифицированных дистибьюторов.
- Авторитеты проверяют микросхему, чтобы гарантировать качество, подлинность и безопасность вашего устройства.
- Контроль декапсуляции
- Рентгеновский контроль
- XRF-инспекция
- Электрические испытания
- Тестирование поверхности