ESD8008MUTAG - ON Semiconductor

Изображения приведены только для примера, точные характеристики можно узнать из паспорта изделия.

Часть №

ESD8008MUTAG
Производитель

ON Semiconductor
Чип воркер Часть №

CW22786433
Категория

Телевизионные диоды
Упаковка

UDFN-14
Описание

ESD Suppressor TVS 3.3V 14Pin UDFN EP T/R
даташит

Datasheet

Способ оплаты и доставка

ESD8008MUTAG Глобальный поставщик

{{ supplierTable.supplier }}	{{ supplierTable.part }}	{{ supplierTable.availability }}	MOQ	{{ supplierTable.delivery_date }}

{{viewMore}}
{{viewMore}}
DigiKey	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
Arrow	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
Mouser	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
					{{submitRFQ}}

ESD8008MUTAG Телевизионные диоды характеристики

Атрибут	Значение атрибута

Часть №	ESD8008MUTAG
Производитель	ON Semiconductor
Чип воркер Часть №	CW22786433
Категория	Телевизионные диоды
даташит	Datasheet
Стиль Монтажа	Surface Mount
Количество Выводов	14 Pin
Корпус/Пакет	UDFN-14
Рабочее Напряжение	3.3 V
Ёмкость	0.35 pF
Пробивное Напряжение	5.5 V
Количество Стежков	14 Position
Зажимное напряжение	8.1 V
Испытательный ток	1 mA
Минимальное напряжение пробоя	5.5 V
Рабочая температура (Макс)	125 ℃
Рабочая температура (мин)	-55 ℃
	Развернуть все
Длина	5.5 mm
Ширина	1.5 mm
Высота	0.5 mm
Рабочая Температура	-55℃ ~ 125℃ (TJ)
Жизненный Цикл Продукта	Active
Упаковка	Tape & Reel (TR)
RoHS Комплаенс	RoHS Compliant
Бессвинцовая Статус	Lead Free
REACH SVHC Compliance Edition	2015/12/17
ECCN кодекс	EAR99

ESD8008MUTAG Описание продукта

The ESD8008 is designed specifically to protect four high speed differential pairs. Ultra-low capacitance and low ESD clamping voltage make this device an ideal solution for protecting voltage sensitive high speed data lines. The flow-through style package allows for easy PCB layout and matched trace lengths necessary to
maintain consistent impedance for the high speed lines.
**Features:**
* Integrated 4 Pairs (8 Lines) High Speed Data
* Single Connect, Flow through Routing
* Low Capacitance (0.35 pF Max, I/O to GND)
* Protection for the Following IEC Standards: IEC 61000-4-2 Level 4
* UL Flammability Rating of 94 V-0
* These Devices are Pb-Free, Halogen Free/BFR Free and are RoHS Compliant
**Typical Applications:**
* V-by-One HS
* LVDS
* Display Port

Развернуть все

Доставка

CDEK

Itella

SHIPTOR

SPSR-EXPRESS

Чип воркер Квалификация

Информация для заказа

Заказ Оплата Доставка Пакет Обеспечение качества

Данные условия носят справочный характер, фактические условия зависят от предложения продавца.
- Пожалуйста, уточняйте технические характеристики продукции при заказе.
- MOQ - минимальное количество заказа, необходимое для приобретения каждой детали.
- Если у вас есть особые инструкции по заказу, пожалуйста, укажите их на странице заказа.
- При заказе будет использоваться предотгрузочная инспекция.
- Вы можете проверить статус заказа в разделе «Мои заказы» вашего личного кабинета.
- Заказы не могут быть отменены после того, как посылка была отправлена. Узнать больше >
- работает как с физическими так и с юридическими лицами. Узнать больше >
- Все цены на сайте указаны с НДС 20%.
- Счета выставляются в валюте, оплата производится в рублях по курсу на день оплаты.
- Если вам нужен подробный счет-фактура или налоговый идентификатор, пожалуйста, напишите нам.
- После отправки товара в Россию доставка займет от 1 до 2 недель.
- Обработка Вашего заказа осуществляется только после оплаты счета.
- Номер для отслеживания будет выслан после отправки заказа. (Для отображения информации перевозчиком может потребоваться до 24 часов). Узнать больше >
- Тщательно проверено и упаковано компанией Чип воркер
- Вакуумная упаковка
- Антистатическая упаковка
- Антивибрационный пенопласт
- Контроль качества доходов, 800+ квалифицированных дистибьюторов.
- Авторитеты проверяют микросхему, чтобы гарантировать качество, подлинность и безопасность вашего устройства.
- Контроль декапсуляции
- Рентгеновский контроль
- XRF-инспекция
- Электрические испытания
- Тестирование поверхности