DAC3484IZAY - TI

Изображения приведены только для примера, точные характеристики можно узнать из паспорта изделия.

Часть №

DAC3484IZAY
Производитель

TI
Чип воркер Часть №

CW47305576
Категория

Преобразователь DA
RoHS

Lead free / RoHS Compliant
Описание

4Channel 16Bit 1.25GSPS Digital-to-Analog Converter 196-NFBGA -40℃ to 85℃
даташит

Datasheet

Способ оплаты и доставка

DAC3484IZAY Глобальный поставщик

{{ supplierTable.supplier }}	{{ supplierTable.part }}	{{ supplierTable.availability }}	MOQ	{{ supplierTable.delivery_date }}

{{viewMore}}
{{viewMore}}
DigiKey	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
Arrow	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
Mouser	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
					{{submitRFQ}}

DAC3484IZAY Преобразователь DA характеристики

Атрибут	Значение атрибута

Часть №	DAC3484IZAY
Производитель	TI
Чип воркер Часть №	CW47305576
Категория	Преобразователь DA
даташит	Datasheet
Стиль Монтажа	Surface Mount
Количество Выводов	196 Pin
Корпус/Пакет	NFBGA-196
Количество Выходных Интерфейсов	4 Output
Ток Питания	135 mA
Количество Каналов	4 Channel
Количество Битов	16 Bit
Рассеяние Мощности	1.32 W
Частота Выборки	1.25 Hz
Потребляемая Мощность	1.2 W
Рабочая температура (Макс)	85 ℃
Рабочая температура (мин)	-40 ℃
Рассеиваемая Мощность (Макс)	1320 mW
Количество ЦАПов	4 DAC
Напряжение питания (Макс)	1.5 V
Напряжение питания (мин)	0.5 V
	Развернуть все
Рабочая Температура	-40℃ ~ 85℃
Жизненный Цикл Продукта	Active
Упаковка	Tray
RoHS Комплаенс	RoHS Compliant
Бессвинцовая Статус	Lead Free
ECCN кодекс	EAR99

DAC3484IZAY Описание продукта

* Very Low Power: 1.27 W at 1.25 GSPS, Full Operating Conditions * Multi-DAC Synchronization * Selectable 2x, 4x, 8x, 16x Interpolation Filter * Stop-Band Attenuation > 90 dBc * Flexible On-chip Complex Mixing * Two Independent Fine Mixers with 32-bit NCOs * Power Saving Coarse Mixers: ± n×Fs/8 * High Performance, Low Jitter Clock Multiplying PLL * Digital I and Q Correction * Gain, Phase, Offset, and Group Delay Correction * Digital Inverse Sinc Filter * Flexible 16-Bit LVDS Input Data Bus * 8 Sample Input FIFO * Data Pattern Checker * Parity Check * GC5330 Compatible * Temperature Sensor * Differential Scalable Output: 10mA to 30mA * Multiple Package Options: 88-pin 9x9mm WQFN and 196-ball 12mmx12mm BGA (GREEN / Pb-Free)

Развернуть все

Доставка

CDEK

Itella

SHIPTOR

SPSR-EXPRESS

Чип воркер Квалификация

Информация для заказа

Заказ Оплата Доставка Пакет Обеспечение качества

Данные условия носят справочный характер, фактические условия зависят от предложения продавца.
- Пожалуйста, уточняйте технические характеристики продукции при заказе.
- MOQ - минимальное количество заказа, необходимое для приобретения каждой детали.
- Если у вас есть особые инструкции по заказу, пожалуйста, укажите их на странице заказа.
- При заказе будет использоваться предотгрузочная инспекция.
- Вы можете проверить статус заказа в разделе «Мои заказы» вашего личного кабинета.
- Заказы не могут быть отменены после того, как посылка была отправлена. Узнать больше >
- работает как с физическими так и с юридическими лицами. Узнать больше >
- Все цены на сайте указаны с НДС 20%.
- Счета выставляются в валюте, оплата производится в рублях по курсу на день оплаты.
- Если вам нужен подробный счет-фактура или налоговый идентификатор, пожалуйста, напишите нам.
- После отправки товара в Россию доставка займет от 1 до 2 недель.
- Обработка Вашего заказа осуществляется только после оплаты счета.
- Номер для отслеживания будет выслан после отправки заказа. (Для отображения информации перевозчиком может потребоваться до 24 часов). Узнать больше >
- Тщательно проверено и упаковано компанией Чип воркер
- Вакуумная упаковка
- Антистатическая упаковка
- Антивибрационный пенопласт
- Контроль качества доходов, 800+ квалифицированных дистибьюторов.
- Авторитеты проверяют микросхему, чтобы гарантировать качество, подлинность и безопасность вашего устройства.
- Контроль декапсуляции
- Рентгеновский контроль
- XRF-инспекция
- Электрические испытания
- Тестирование поверхности