CD74HCT4514E - TI

Изображения приведены только для примера, точные характеристики можно узнать из паспорта изделия.

Часть №

CD74HCT4514E
Производитель

TI
Чип воркер Часть №

CW84466237
Категория

Логический контроллер
Упаковка

DIP-24
Описание

IC 4 TO-16 DECODER/DEMUX 24 DIP
даташит

Datasheet

Способ оплаты и доставка

CD74HCT4514E Глобальный поставщик

{{ supplierTable.supplier }}	{{ supplierTable.part }}	{{ supplierTable.availability }}	MOQ	{{ supplierTable.delivery_date }}

{{viewMore}}
{{viewMore}}
DigiKey	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
Arrow	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
Mouser	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
					{{submitRFQ}}

CD74HCT4514E Логический контроллер характеристики

Атрибут	Значение атрибута

Часть №	CD74HCT4514E
Производитель	TI
Чип воркер Часть №	CW84466237
Категория	Логический контроллер
даташит	Datasheet
Стиль Монтажа	Through Hole
Количество Выводов	24 Pin
Корпус/Пакет	DIP-24
Напряжение Питания (DC)	4.50V ~ 5.50V
Количество Выходных Интерфейсов	16 Output
Количество Цепей	1 Circuit
Количество Стежков	24 Position
Количество Битов	4 Bit
Узлы Напряжения	5.00 V
Рабочая температура (Макс)	125 ℃
Рабочая температура (мин)	-55 ℃
Напряжение питания	4.5V ~ 5.5V
Напряжение питания (Макс)	5.5 V
Напряжение питания (мин)	4.5 V
	Развернуть все
Рабочая Температура	-55℃ ~ 125℃
Жизненный Цикл Продукта	Active
Упаковка	Tube
RoHS Комплаенс	RoHS Compliant
Бессвинцовая Статус	Lead Free
REACH SVHC Комплаенс	No SVHC
REACH SVHC Compliance Edition	2014/12/17

CD74HCT4514E Описание продукта

The CD74HCT4514E is a 4 to 16-line Decoder/Demultiplexer with input latch, this high-speed silicon-gate device consisting of a 4-bit strobed latch and a 4 to 16-line decoder. The selected output is enabled by a low on the enable (E) input. A high on E inhibits selection of any output. Demultiplexing is accomplished by using E as the data input and the select inputs (A0 to A3) as addresses. E also serves as a chip select when the device is cascaded. When the latch enable (LE) is high, the output follows changes in the inputs. When LE is low, the output is isolated from changes in the input and remains at the level it had before the latch was enabled.
Balanced propagation delays and transition times
Significant power reduction compared to LSTTL logic ICs

Развернуть все

Доставка

CDEK

Itella

SHIPTOR

SPSR-EXPRESS

Чип воркер Квалификация

Информация для заказа

Заказ Оплата Доставка Пакет Обеспечение качества

Данные условия носят справочный характер, фактические условия зависят от предложения продавца.
- Пожалуйста, уточняйте технические характеристики продукции при заказе.
- MOQ - минимальное количество заказа, необходимое для приобретения каждой детали.
- Если у вас есть особые инструкции по заказу, пожалуйста, укажите их на странице заказа.
- При заказе будет использоваться предотгрузочная инспекция.
- Вы можете проверить статус заказа в разделе «Мои заказы» вашего личного кабинета.
- Заказы не могут быть отменены после того, как посылка была отправлена. Узнать больше >
- работает как с физическими так и с юридическими лицами. Узнать больше >
- Все цены на сайте указаны с НДС 20%.
- Счета выставляются в валюте, оплата производится в рублях по курсу на день оплаты.
- Если вам нужен подробный счет-фактура или налоговый идентификатор, пожалуйста, напишите нам.
- После отправки товара в Россию доставка займет от 1 до 2 недель.
- Обработка Вашего заказа осуществляется только после оплаты счета.
- Номер для отслеживания будет выслан после отправки заказа. (Для отображения информации перевозчиком может потребоваться до 24 часов). Узнать больше >
- Тщательно проверено и упаковано компанией Чип воркер
- Вакуумная упаковка
- Антистатическая упаковка
- Антивибрационный пенопласт
- Контроль качества доходов, 800+ квалифицированных дистибьюторов.
- Авторитеты проверяют микросхему, чтобы гарантировать качество, подлинность и безопасность вашего устройства.
- Контроль декапсуляции
- Рентгеновский контроль
- XRF-инспекция
- Электрические испытания
- Тестирование поверхности