CD74HCT164E - TI

Изображения приведены только для примера, точные характеристики можно узнать из паспорта изделия.

Часть №

CD74HCT164E
Производитель

TI
Чип воркер Часть №

CW4646303
Категория

Счётчик
Упаковка

DIP-14
Описание

TEXAS INSTRUMENTS CD74HCT164E Shift Register, HCT Family, 74HCT164, Serial to Parallel, 1Element, 8Bit, DIP, 14Pins
даташит

Datasheet

Способ оплаты и доставка

CD74HCT164E Глобальный поставщик

{{ supplierTable.supplier }}	{{ supplierTable.part }}	{{ supplierTable.availability }}	MOQ	{{ supplierTable.delivery_date }}

{{viewMore}}
{{viewMore}}
DigiKey	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
Arrow	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
Mouser	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
					{{submitRFQ}}

CD74HCT164E Счётчик характеристики

Атрибут	Значение атрибута

Часть №	CD74HCT164E
Производитель	TI
Чип воркер Часть №	CW4646303
Категория	Счётчик
даташит	Datasheet
Стиль Монтажа	Through Hole
Количество Выводов	14 Pin
Корпус/Пакет	DIP-14
Частота	54 MHz
Напряжение Питания (DC)	5.00 V, 5.50 V (max)
Количество Выходных Интерфейсов	8 Output
Количество Цепей	1 Circuit
Количество Стежков	14 Position
Количество Битов	8 Bit
Количество входов	2 Input
Рабочая температура (Макс)	125 ℃
Рабочая температура (мин)	-55 ℃
Напряжение питания	4.5V ~ 5.5V
Напряжение питания (Макс)	5.5 V
Напряжение питания (мин)	4.5 V
	Развернуть все
Ширина	6.35 mm
Рабочая Температура	-55℃ ~ 125℃
Жизненный Цикл Продукта	Active
Упаковка	Tube
RoHS Комплаенс	RoHS Compliant
Бессвинцовая Статус	Lead Free
REACH SVHC Комплаенс	No SVHC
REACH SVHC Compliance Edition	2015/06/15
ECCN кодекс	EAR99

CD74HCT164E Описание продукта

The CD74HCT164E is a 8-bit CMOS serial-in/parallel-out Shift Register with an asynchronous RESET. Data is shifted on the positive edge of clock (CP). A low on the master RESET (MR\\) pin resets the shift register and all outputs go to the low state regardless of the input conditions. Two serial data inputs (DS1 and DS2) are provided, either one can be used as a data enable control.
Buffered inputs
Asynchronous master reset
Balanced propagation delay and transition times
Significant power reduction compared to LSTTL logic ICs
High noise immunity
Direct LSTTL input logic compatibility
CMOS Input compatibility
10 LSTTL Loads standard outputs
15 LSTTL Loads bus driver outputs

Развернуть все

Доставка

CDEK

Itella

SHIPTOR

SPSR-EXPRESS

Чип воркер Квалификация

Информация для заказа

Заказ Оплата Доставка Пакет Обеспечение качества

Данные условия носят справочный характер, фактические условия зависят от предложения продавца.
- Пожалуйста, уточняйте технические характеристики продукции при заказе.
- MOQ - минимальное количество заказа, необходимое для приобретения каждой детали.
- Если у вас есть особые инструкции по заказу, пожалуйста, укажите их на странице заказа.
- При заказе будет использоваться предотгрузочная инспекция.
- Вы можете проверить статус заказа в разделе «Мои заказы» вашего личного кабинета.
- Заказы не могут быть отменены после того, как посылка была отправлена. Узнать больше >
- работает как с физическими так и с юридическими лицами. Узнать больше >
- Все цены на сайте указаны с НДС 20%.
- Счета выставляются в валюте, оплата производится в рублях по курсу на день оплаты.
- Если вам нужен подробный счет-фактура или налоговый идентификатор, пожалуйста, напишите нам.
- После отправки товара в Россию доставка займет от 1 до 2 недель.
- Обработка Вашего заказа осуществляется только после оплаты счета.
- Номер для отслеживания будет выслан после отправки заказа. (Для отображения информации перевозчиком может потребоваться до 24 часов). Узнать больше >
- Тщательно проверено и упаковано компанией Чип воркер
- Вакуумная упаковка
- Антистатическая упаковка
- Антивибрационный пенопласт
- Контроль качества доходов, 800+ квалифицированных дистибьюторов.
- Авторитеты проверяют микросхему, чтобы гарантировать качество, подлинность и безопасность вашего устройства.
- Контроль декапсуляции
- Рентгеновский контроль
- XRF-инспекция
- Электрические испытания
- Тестирование поверхности