CD74HCT125M96 - TI

Изображения приведены только для примера, точные характеристики можно узнать из паспорта изделия.

Часть №

CD74HCT125M96
Производитель

TI
Чип воркер Часть №

CW14183208
Категория

Логический контроллер
Упаковка

SOIC-14
Описание

Buffer/Line Driver 4CH Non-Inverting 3-ST CMOS 14Pin SOIC T/R
даташит

Datasheet

Способ оплаты и доставка

CD74HCT125M96 Глобальный поставщик

{{ supplierTable.supplier }}	{{ supplierTable.part }}	{{ supplierTable.availability }}	MOQ	{{ supplierTable.delivery_date }}

{{viewMore}}
{{viewMore}}
DigiKey	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
Arrow	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
Mouser	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
					{{submitRFQ}}

CD74HCT125M96 Логический контроллер характеристики

Атрибут	Значение атрибута

Часть №	CD74HCT125M96
Производитель	TI
Чип воркер Часть №	CW14183208
Категория	Логический контроллер
даташит	Datasheet
Стиль Монтажа	Surface Mount
Количество Выводов	14 Pin
Корпус/Пакет	SOIC-14
Напряжение Питания (DC)	4.50V ~ 5.50V
Количество Выходных Интерфейсов	4 Output
Количество Каналов	4 Channel
Количество Стежков	14 Position
Количество Битов	4 Bit
Время Задержки Распространения	30.0 ns
Узлы Напряжения	5.00 V
Привод Выходного Тока	-1.00 mA
Количество входов	4 Input
Рабочая температура (Макс)	125 ℃
Рабочая температура (мин)	-55 ℃
Напряжение питания	4.5V ~ 5.5V
Напряжение питания (Макс)	5.5 V
Напряжение питания (мин)	4.5 V
	Развернуть все
Длина	8.65 mm
Ширина	3.91 mm
Высота	1.5 mm
Рабочая Температура	-55℃ ~ 125℃
Жизненный Цикл Продукта	Active
Упаковка	Cut Tape (CT)
RoHS Комплаенс	RoHS Compliant
Бессвинцовая Статус	Lead Free
REACH SVHC Комплаенс	No SVHC
REACH SVHC Compliance Edition	2015/06/15
ECCN кодекс	EAR99

CD74HCT125M96 Описание продукта

The CD74HCT125M96 is a high speed CMOS logic Quad Buffer with 3-state outputs. It contains 4 independent 3-state buffers, each having its own output enable input, which when HIGH puts the output in the high impedance state.
Separate output enable inputs
Balanced propagation delay and transition times
Significant power reduction compared to LSTTL logic Ics
Standard outputs - 10 LSTTL loads
Bus driver outputs - 15 LSTTL loads
CMOS input compatibility, Il
Direct LSTTL input logic compatibility, VIL = 0.8V maximum, VIH = 2V minimum
Green product and no Sb/Br

Развернуть все

Доставка

CDEK

Itella

SHIPTOR

SPSR-EXPRESS

Чип воркер Квалификация

Информация для заказа

Заказ Оплата Доставка Пакет Обеспечение качества

Данные условия носят справочный характер, фактические условия зависят от предложения продавца.
- Пожалуйста, уточняйте технические характеристики продукции при заказе.
- MOQ - минимальное количество заказа, необходимое для приобретения каждой детали.
- Если у вас есть особые инструкции по заказу, пожалуйста, укажите их на странице заказа.
- При заказе будет использоваться предотгрузочная инспекция.
- Вы можете проверить статус заказа в разделе «Мои заказы» вашего личного кабинета.
- Заказы не могут быть отменены после того, как посылка была отправлена. Узнать больше >
- работает как с физическими так и с юридическими лицами. Узнать больше >
- Все цены на сайте указаны с НДС 20%.
- Счета выставляются в валюте, оплата производится в рублях по курсу на день оплаты.
- Если вам нужен подробный счет-фактура или налоговый идентификатор, пожалуйста, напишите нам.
- После отправки товара в Россию доставка займет от 1 до 2 недель.
- Обработка Вашего заказа осуществляется только после оплаты счета.
- Номер для отслеживания будет выслан после отправки заказа. (Для отображения информации перевозчиком может потребоваться до 24 часов). Узнать больше >
- Тщательно проверено и упаковано компанией Чип воркер
- Вакуумная упаковка
- Антистатическая упаковка
- Антивибрационный пенопласт
- Контроль качества доходов, 800+ квалифицированных дистибьюторов.
- Авторитеты проверяют микросхему, чтобы гарантировать качество, подлинность и безопасность вашего устройства.
- Контроль декапсуляции
- Рентгеновский контроль
- XRF-инспекция
- Электрические испытания
- Тестирование поверхности