CD74HC541E - TI

Изображения приведены только для примера, точные характеристики можно узнать из паспорта изделия.

Часть №

CD74HC541E
Производитель

TI
Чип воркер Часть №

CW2326623
Категория

Логический контроллер
Упаковка

DIP-20
Описание

Buffer/Line Driver 8CH Non-Inverting 3-ST CMOS 20Pin PDIP Tube
даташит

Datasheet

Способ оплаты и доставка

CD74HC541E Глобальный поставщик

{{ supplierTable.supplier }}	{{ supplierTable.part }}	{{ supplierTable.availability }}	MOQ	{{ supplierTable.delivery_date }}

{{viewMore}}
{{viewMore}}
DigiKey	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
Arrow	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
Mouser	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
					{{submitRFQ}}

CD74HC541E Логический контроллер характеристики

Атрибут	Значение атрибута

Часть №	CD74HC541E
Производитель	TI
Чип воркер Часть №	CW2326623
Категория	Логический контроллер
даташит	Datasheet
Стиль Монтажа	Through Hole
Количество Выводов	20 Pin
Корпус/Пакет	DIP-20
Напряжение Питания (DC)	2.00V ~ 6.00V
Количество Выходных Интерфейсов	8 Output
Количество Цепей	8 Circuit
Количество Каналов	8 Channel
Количество Стежков	20 Position
Количество Битов	8 Bit
Время Задержки Распространения	28.0 ns
Узлы Напряжения	6.00 V, 5.00 V, 2.00 V
Привод Выходного Тока	-1.00 mA
Количество входов	8 Input
Рабочая температура (Макс)	125 ℃
Рабочая температура (мин)	-55 ℃
Напряжение питания	2V ~ 6V
Напряжение питания (Макс)	6 V
Напряжение питания (мин)	2 V
	Развернуть все
Длина	26.92 mm
Ширина	6.6 mm
Высота	4.57 mm
Рабочая Температура	-55℃ ~ 125℃
Жизненный Цикл Продукта	Active
Упаковка	Each
RoHS Комплаенс	RoHS Compliant
Бессвинцовая Статус	Lead Free
REACH SVHC Compliance Edition	2015/06/15
ECCN кодекс	EAR99

CD74HC541E Описание продукта

The CD74HC541E is an inverting octal Buffer/Line Driver with 3-state outputs and the capability to drive 15 LSTTL loads. The output enables (OE1\\) and (OE2\\) control the 3-state outputs. If either OE1\ or OE2\ is HIGH the outputs will be in the high impedance state. For data output OE1\ and OE2\ both must be LOW.
Buffered inputs
Bus line driving capability
Balanced propagation delay and transition times
Significant power reduction compared to LSTTL logic ICs
High noise immunity - NIL = 30%, NIH = 30% of VCC at VCC = 5V
Typical propagation delay = 9ns at VCC = 5V, CL = 15pF, TA = 25°C
Standard outputs - 10 LSTTL loads
Bus driver outputs - 15 LSTTL loads

Развернуть все

Доставка

CDEK

Itella

SHIPTOR

SPSR-EXPRESS

Чип воркер Квалификация

Информация для заказа

Заказ Оплата Доставка Пакет Обеспечение качества

Данные условия носят справочный характер, фактические условия зависят от предложения продавца.
- Пожалуйста, уточняйте технические характеристики продукции при заказе.
- MOQ - минимальное количество заказа, необходимое для приобретения каждой детали.
- Если у вас есть особые инструкции по заказу, пожалуйста, укажите их на странице заказа.
- При заказе будет использоваться предотгрузочная инспекция.
- Вы можете проверить статус заказа в разделе «Мои заказы» вашего личного кабинета.
- Заказы не могут быть отменены после того, как посылка была отправлена. Узнать больше >
- работает как с физическими так и с юридическими лицами. Узнать больше >
- Все цены на сайте указаны с НДС 20%.
- Счета выставляются в валюте, оплата производится в рублях по курсу на день оплаты.
- Если вам нужен подробный счет-фактура или налоговый идентификатор, пожалуйста, напишите нам.
- После отправки товара в Россию доставка займет от 1 до 2 недель.
- Обработка Вашего заказа осуществляется только после оплаты счета.
- Номер для отслеживания будет выслан после отправки заказа. (Для отображения информации перевозчиком может потребоваться до 24 часов). Узнать больше >
- Тщательно проверено и упаковано компанией Чип воркер
- Вакуумная упаковка
- Антистатическая упаковка
- Антивибрационный пенопласт
- Контроль качества доходов, 800+ квалифицированных дистибьюторов.
- Авторитеты проверяют микросхему, чтобы гарантировать качество, подлинность и безопасность вашего устройства.
- Контроль декапсуляции
- Рентгеновский контроль
- XRF-инспекция
- Электрические испытания
- Тестирование поверхности